现代光学测试技术PPT课件
光学研究方法(光学测试技术)
要求: 1.写一篇综述论文,字数3000字以上; 2.内容:首先对光学测试技术进行综述,然后 结合课内讲述内容,就一个测试内容进行综述, 也可以就一个研究领域进行综述。
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§1 领域与特点
一、研究领域
凡是利用光学原理进行精密测量的技术,
都称为光学测试技术。主要方向有:计量、 测量 、检验与测试一般说计量是泛指对物
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总复习
第一章 光干涉技术
一、泰曼-格林干涉仪的结构和工作原理 泰曼-格林干涉仪的结构如图 1-16 所示:
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行另光M涉的光一经条焦2反准束臂分纹点射单) 则 光 可 处在色, 装 镜 用 )观点干 上 分 目 把察光涉 被 光 视 干孔源仪 测 后 观 涉处和的试分察条相透一的别或纹遇镜臂光由用拍干L装学照摄M1涉提有元相下1,和供参件机来形被入考(进M成测射反镜行2干试。的分射 头涉的光平析镜 应条光源面。位M纹学发波根于1,元出(据,L干件的平2干 涉条纹的变化,就可判断被测光学元件的质量。在 图的曲1-率1中6心中和所被示测泰透曼镜一的格焦林点干重涉合仪。中如,果球待面测镜透M镜2 没有像差,那么,返回到分束器的反射波将仍是平 面的。然而,如果被测透镜有球差、彗差或像散引 起波阵面的变形,那么就会清楚地看到具有畸变的 一幅干涉条纹图,并且可把干涉条纹拍摄下来进行 分光析学。元若 件把 ,如M梭2换镜成,平光面学镜平,板就等可。以检验许多别的
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支撑基础:
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§2 方法的选择
面对一个计量测试任务,首先碰到的问题是 如何合理而可靠地选择一种好的测试原理。
合理选择光学测试方法的原则是根据五点:1) 测定对象;2)测定范围;3)灵敏度或精度; 4)经济性;5)测试环境。测定对象是指被测 的类型,例如是测量长度,还是测量角度,是 测量速度还是测量位移;是测量温度还是测定 温度变化。不同测定对象,有完全不同的测试 方法。同样,同一测定类型但测定范围不同时, 也有不同的测试方法可供选择。
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(一)斐索共路干涉仪测试
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(二)散射板分束器及散射板干涉仪
1 .散射板分束器
散射板分束器是一块利用特种工艺制作的弱散射体,会聚的入射光束 经这一散射板以后被一分为二:一部分光束直接透过散射板到达被测表面 的中心区域;另一部分光束经散射板后,被散射到被测表面的全孔径,如 图 1-31 所示。这两支光束均由被测表面反射后复经散射板第二次透射、 散射后产生干涉。
理量的标定、传递与控制;测量是泛指各
种物理量与技术参数的获取方法;检验是
泛指产品质量的评估技术与方法;而测试
则是测量、试验与检验的总称,侧重于方
法与技术的研究,而不是产品质量的标定
方法研究,光学测试技术的主要研究领域
如表 0-1 所示。 2019/10/25
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转 1800。
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2 .散射板干涉仪 ( 1 )光路原理
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§ 1 – 3多通道涉仪测试
一、双通道干涉仪 (一)用双通道干涉仪进行像差分离
在泰曼-格林干涉仪中,当被测透镜存在多种像差时,要从干 涉图中对个别像差进行估计是很困难的,若改成双通道排列 来使用,就可以使对称
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二、技术特色
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三、技术现状
光电仪器 光加工设备
图0-1 光学产业发展砚状
现代光学测试技术主要介绍:干涉技术、全息技术、散斑技术、莫尔技术、衍射 技术、光扫描技术、光纤传感技术、激光多普勒技术、激光光谱技术、信息与图 像技术、光学纳米技术等。随着激光器的出现和傅里叶光学的形成,特别是激光 技术与微电子技术、计算机技术的结合,出现了光机电算一体化的现代光学测试 技术。上图为光机电算金字塔结构,塔顶是光学。
散射板分束器上各点的相位不是随机分布的,每一散射点都具有对散 射板中心反转对称的相位分布,即相对于散射板中心的每一对对称散点都 是同相点,但相邻散射点的相对位相呈随机分布。制板时为了使散射板上 的散射点位相具有反转对称的性质,在同一全息干板上要作
二次曝光,并在二次曝光时把全息干板绕轴精确地旋
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三、共路干涉仪测试
在泰曼-格林干涉仪中,由于参考光束和 测量光束沿着彼此分开的光路行进,它们受 到环境的振动和温度的影响不同,如果不采 取适当的隔震和恒温措施,则观察面或接收 面上的干涉条纹是不稳定的,就不可能进行 精确的测量。共路干涉仪可以较好地解决上 述问题。所谓共路干涉仪,就是干涉仪中参 考光束与测量光束经过同一光路,对环境的 振动和温度、气流的变化能产生彼此共模抑 制,一般无需隔震和恒温条件也能获得稳定 的干涉条纹。
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表 0-4, 由测定对象和测定范围来选择的测试方法
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选择测试方法的另一 主要原则是测量灵敏 度和要求的精度。图 0-3 是主要光学测试 方法在尺寸上能达 到的灵敏度(分辨率)。
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§43技术发展方向
随着新世纪的开始,科学技术必然是高新技术的 日新月异和工业生产的精密化、自动化和智能化,这 就对光学测试技术提出新的要求,促使光学测试技术 的近代发展走向如下几个方向: ( l )亚微米级、纳 米级的高精密光学测量方法首先得到优先发展 ; ( 2 ) 快速发展小型的、微型的非接触式光学传感器; ( 3 ) 半导体激光器( LD )及其阵列,光开关,光滤波器, 光电探测阵列等新器件将在过程控制、在线测量与控 制上得到广泛应用;(4)微光学这类微结构系统将 崭露头角;(5)快速、高效的 3 -D (三维)测量技 术将取得突破;(6)发展带存贮功能的全场动态应 变测量仪器;( 7 )发展闭环式光学测试技术,实 现光学测量与光学控制的一体化;(8)以微细加工 技术为基础的高精度、小尺寸、低成本的集成光学和 其他微传感器将成为主流方向;(9)发展光学诊断 和光学无损检测技术。