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纳米材料和纳米结构第十一讲-XRD-2


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无 机 相 字 母 索 引
这种索引是按照物相英文名称的第一 个字母为顺序编排条目。每个条目占 一横行。物相的英文名称写在最前面, 其后,依次排列着化学式,三强线的 d值和相对强度,卡片编号,最后是 参比强度(I/Ic)。
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STD模式覆盖了现有的许多非偶合衍射设备, 如薄膜分析用: 1、GAD(glancing angle X-ray diffractometry):这是 一种掠角入射技术,其入射角a处于0.6~10 之间, 所以穿透深度很浅:t=0.13a/m 2、TFD(thin film diffractometry):这是一种平行光 入射技术,其入射角a处于1~100 之间,当a小时, X射线穿透深度也浅 3、S-B(Seemann-Bohlin diffractometry ), 早期的非偶 合薄膜分析设备,3-6度,胶片记录。
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衍 射 仪 基 本 结 构 方 框 图
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高分辨衍射仪 (D8-Discovre型,Bruker公司1999年产品)
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测 角 仪 简 介
测角仪是X射线的核心组成部分 试样台位于测角仪中心,试样台的中 心轴ON与测角仪的中心轴(垂直图 面)O垂直。 试样台既可以绕测角仪中心轴转动, 又可以绕自身中心轴转动。
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1. PDF卡片简介; 2. PDF试样图; 3. PDF试样结构图; 4. PDF卡片内容。

PDF 卡 片
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卡 片 简 介
J.D.Hanawalt等人于1938年首先发起,以d-I 数据组代替衍射花样,制备衍射数据卡片 的工作。 1942年“美国材料试验协会(ASTM)” 出版约1300张衍射数据卡片(ASTM卡 片)。 1969年成立了“粉末衍射标准联合委员 会”,由它负责编辑和出版粉末衍射卡片, 称为PDF卡片。 现在由ICDD(International Center for Diffraction Data), PDF-1: d, I PDF-2: card PDF-3: pattern

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PDF
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卡 片
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卡 片
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卡 片 的 内 容 ( 1 )
(1)1a、1b、1c,三个位置上的数据 是衍射花样中前反射区(2 θ <90°) 中三条最强衍射线对应的面间距,1d 位置上的数据是最大面间距。 (2)2a、2b、2c、2d, 分别为上述各 衍射线的相对强度,其中最强线的强 度为100.
值连同它的误差标写在每页的顶部。每
个条目由第一处面间距d1值决定它应属
于哪一组。每组内按d2值递减顺序编排
条目,对d2值相同的条目,则按d1值递减 顺序编排。不同的d值对应误差:
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Hanawalt 索 引 说 明 ( 三 )
1980年版本编排规则为: (1)对I3/I2≤0.75的相,以d1d2的编排 顺序出现一次; (2)对I3/I2>0.75和I2/I1<0.75的相,以 d1d2和d1d3的编排顺序出现二次; (3)对I3/I2>0.75和I2/I1≥0.75的相,以 d1d2,d1d3和d2d3的编排顺序出现三次。
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基于衍射强度测量的应用来自(1)物相的定量分析,结晶度的测定
衍 射 分 析 应 用
(2) 平衡相图的相界的测定;
(3) 第三类应力的测定;
(4) 有序固溶体长程有序度的测定;
(5) 多晶体材料中晶粒择优取向的极图、 反极图和三维取向分布的测定; (6) 薄膜厚度的测定。
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基于衍射线型分析的应用 (1) 多晶材料中位错密度的测定,层 错能的测定,晶体缺陷的研究; (2) 第二类(微观残余)应力的测定; (3) 晶粒大小和微应变的测定;

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测 角 仪 说 明 - 1
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测 角 仪 说 明 - 2
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测 角 仪 的 光 路 布 置

测角仪要求与 X射线管的线 焦斑联接使用, 线焦斑的长边 与测角仪中心 轴平行。 采用狭缝光阑 和梭拉光阑组 成的联合光阑。
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测 角 仪 的 光 路 布 置 说 明 - 1

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卡 片 的 内 容 ( 4 )
(6)试样来源,制备方法;化学分析, 有时亦注明升华点(S.P.),分解温 度(D.T.),转变点(T.P.),摄照 温度等。
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卡 片 的 内 容 ( 5 )
(7)物相的化学式和名称。 在化学式 之后常有一个数字和大写英文字母的 组合说明。数字表示单胞中的原子数; 英文字母表示布拉菲点阵类型:C— 简单立方;B—体心立方;F—面心立 方;T—简单正方;U—体心正方; R—简单菱方;H—简单六方;O简单 斜方;Q—底心斜方;S—面心斜方; M—简单单斜;N—底心单斜;Z—简 单三斜。
衍 射 分 析 应 用
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基于衍射位置和强度的测定
衍 射 分 析 应 用
(1) 物相的定性分析
(2) 相消失法测定相平衡图中的相界; (3) 晶体(相)结构,磁结构,表面结构,界 面结构的研究
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同时基于衍射位置、强度和线型的 Rietveld多晶结构测定
需输入原子参数(晶胞中各原子的坐标、 占位几率和湿度因子)、点阵参数、波长、 偏正因子、吸收系数、择优取向参数等。
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卡 片 的 内 容 ( 6 )
(8)矿物学名称。右上角的符号标 记表示:*—数据高度可靠;i—已指 标化和估计强度,但可靠性不如前者; O—可靠性较差;C—衍射数据来自 理论计算。 (9)晶面间距,相对强度和干涉指 数。 (10)卡片的顺序号。

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卡 片 索 引
PDF卡片索引是一种能帮助实验者从 数万张卡片中迅速查到所需要的PDF 卡片的工具书。由JCPDS编辑出版手 册有: Hanawalt无机物检索手册; 有机相检索手册; 无机相字母索引; Fink无机索引; 矿物检索手册等品种。
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测 角 仪 的 光 路 布 置 说 明 - 2
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单 色 器 - 1
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单 色 器 - 2
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b 不 对对 称称 反反 射射 准( 聚 焦 几 何 ( 2 ) ) a Bragg Bragg b=aq; q(q)/ q ba
被测晶平面与试样表 面的夹角Y=q-a
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影 响 衍 射 线 强 度 的 各 种 因 素
1 Ik k Fk I A Vk K t R
因 素 可调节的各因子以提高强度
I A 1、仪器特性 k 2、试样性质 3、制样及实验条件 I, A, V, K 4、衍射几何因子
Fk
R
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小 结
Bragg 方程 方位角方程 强度方程 扫描模式

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Hanawalt 无 机 相 数 值 索 引
索引的编排方法是:每个相作为一个 条目,在索引中占一横行。每个条目 中的内容包括: 衍射花样中八条强线的面间距和相对 强度,按相对强度递减顺序列在前面, 随后,依次排列着,化学式,卡片编 号,参比强度(I/I)。 索引说明:

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Hanawalt 索 引 说 明 ( 一 )
III
表面反射 透过反射
Common Bragg Diffraction, Match, Transmission Sample Tilting Diffraction, Angular Dispersion Analysis
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偶合扫描模式有对称和非对称之分, 这里对称与否是指入射线和反射线相对于 试样表面而言的,而对晶面来说都是对称 的.这是布拉格定律所规定的. 有七种不同的扫描模式,它们之间有 共性也有特性.从表中看出,对称模式只 有一种“CBD”,该模式同时具有对称、偶 合及表面反射三者的特征,因而它出现在I 及 III 中,其它六种都是非对称偶合或非对 称非偶合扫描模式.

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定 性 相 分 析 的 判 据
通常用d(晶面 间距表征衍射线 位置)和I(衍射 线相对强度)的 数据代表衍射花 样。用d-I数据作 为定性相分析的 基本判据。

定性相分析方法 是将由试样测得 的d-I数据组与已 知结构物质的标 准d-I数据组 (PDF卡片)进 行对比,以鉴定 出试样中存在的 物相。
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卡 片 的 内 容 ( 3 )
(4)晶体学数据:Sys.—晶系;S.G— 空间群;a0、b0、c0,α、β、γ—晶胞 参数;A= a0/b0 ,C= c0 / b0 ;Z—晶 胞中原子或分子的数目; Ref—参 考资料。 (5)光学性质: εα、nωβ、εγ—折射 率;Sign—光性正负;2V—光轴夹 角;D—密度;mp—熔点;Color— 颜色; Ref—参考资料。

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Hanawalt 索 引 说 明 ( 四 )
1982年版本又作了进一步改进,它的 编排规则为: (1)所有的相最少都以的编排顺序 出现一次; (2)对I2/I1>0.75和I3/I1 ≤0.75的相, 以d1d2和d1d3的编排顺序出现二次; (3)对I3/I1 >0.75和I4 /I1 ≤0.75的相, 以d1d2, d2d1 和d3 d1的编排顺序出现三 次; (4)对I4/I1 >0.75的相,以d1d2,d2d1 , d3 d1和d4 d1的编排顺序出现四次;

每个条目中,衍射线的相对强度分为10个 等级,最强线为100用×表示,其余者均 以小10倍的数字表示,写在面间距d值的 右下角处。参比强度I/I是被测相与刚玉按 1:1重量配比时,被测相最强线峰高与刚 玉最强线峰高之比。
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