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0212IC可靠性测试项目及参考标准[001]

版本创建 试用 用文件使 ⅢⅡ Ⅰ) 就是产品性能的测量,它回答了一个产品是否合乎规格()解决的是一段时间以后的问题。

知道了两者的区别,)的要求,是否符合各项性能指标的问题。

可靠性(的问题解决方法往往比较直接,设计和制造单位在产品生产出来后,通)则是对产品耐久力的测量,它回答了一个产品生命周期有多长,简单说,它能用多久的问题。

所以说质量(测试在 )解决的是现阶段的问题,可靠性(而言 我们发现,产品 保证 过简单的测试,就可以知道产品的性能是否达 到 准 的标 的要求, 这种的设计和制造单位就可以 进行 。

相 对 ,的问题 似 乎就 变 的 十分棘手 , 这 个产品能用多久, 谁 能 今天 能用, 明天 就一定能用 ?为 了解决 这 个问题, 人 们制定了各 种 各 样 , 如 : 、介绍 , 注: 为流行 (,我们 之前 的测试方法 ) 电子 设 备工 程 联 合 委员会 ,, 著名国际电子行业 标 准化组织之 一。

条浴缸曲线 :日本电子工业协会 , 著名国际电子行业 标 准化组织之 一。

在 一 些目前 较 的先 来 认识 一 下产品的生命周期。

典型 的产品的生命周期可以用一 ()来 表示 。

质量(产品的生命。

)在一定程度上可以说是 )和可靠性(质量( ( )产品的质量与可靠性测试版本创建试用 用文件使准:标 参考 玷污等子 离 定性, 稳 不 , 互扩散 相 , 层破裂 化 氧 , 迁移 :电子 制 机 失效 测试动态 ,,℃ : 条件测试 一段时间的耐久力 下 压情况 电 超 和 超热 在 件 评估器 : 的 目)低温操作生命期试验( :高 ②准:标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体 。

失效 的 成生产造 于 玷污等由 子 离 , 金属刻镀 , 缺陷 层 化 氧 如 包括诸 , 缺陷 的 艺 工 材料或 : 制 机 失效 测试进行 对产品 压 电 度和 内动态提升温 定时间 特 在 :条件 测试 的产品。

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失效原因 的 成 出现的问题所造 面 方 存储等 , 封装 生产, 是在 尤其 ,原因 的 到 并且找 用期, 使 计产品的 预 , 去除并估算其良率 的产品 期 于早夭 图将处的问题就是要力, 到 看 产品的生命周期,我们就可以 典型 了 认识 。

等 化 老 的 成 用所造 使 就是产品长期 原因 的 失效 , 升高 会快速个阶段这 在 )期( 磨耗 被称为 ()。

等等 变化 度 温 如 的,比 机 随 往往是 原因 的 失效 定, 持稳 保个阶段产品的 这 )在 用期( 被称为使() 。

缺陷 的 中设计和生产过程于在 原因 的 成失效 ,造 快速下降 个阶段产品的 这 )期(被称为早夭()版本创建试用 用 文件使 ( ℃ ) ( ))浸泡 ℃ : 烘烤 ( )都没关系 时间多久 储运 ℃: ( : ℃ (回 ( ) : ℃℃ ℃( 储运 时间一 年 左右 ) : ℃ ℃℃( 储运 时间一周 左右 ): 流 焊 ) ( ℃ ) () () ( ℃) () ()*: 超声扫描仪 ( ))( 高低温循环 : ( )超声扫描仪 : :)程( 流 测试 的可靠性。

存储 间 之 用 到使生产 从就是 也 的耐久力, 存储 条件下 度 温 度, 湿 在一定 之前 用 使 在模拟 : 的 目 )预处理测试( : ① , , , , , , , , )环境测试项目(二、准 标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体。

年用 保证使 时 小,年用 保证使 时测试通过 小℃。

年用 使 续 持 时测试 小,年用 使 续 保证持 可以时测试通过小 条件下 ℃用文件使过 必须经 之前 用 件使 元 , 级于 对 (命 寿 间 车 时 小 ° 试用 版本创建于 或等 于 小级命 寿 间 车 时 小 °于 或等 于 小 级命 寿 间 车 时 小 ° 于 或等 于 小 级命 寿 间 车 时 小 ° 于 或等 于 小 级命 寿 间 车 时 小 ° 于 或等 于 小 级命 寿 间 车 周 四 ° 于 或等 于 小 级命 寿 间 车 年 一 ° 于 或等 于 小 级命寿 间 无限车 ° 于 或等 于 小 级。

阅 参 请 ( )命 寿 间 车 和 级 分 湿 潮 耐 种 八 : 评估结果准标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体 层分 , 封装破裂 :制 机 失效 。

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控 度 湿 的 中 操作 装 组 操作及输 运 线、 水 流 测试 、 封装 示 显 来 件 软 用 专 和 元 制单 控 部 局 、 系统 跟踪 度 湿 的 签 标 射频 有 备 装 用 使 经常 外 国 上 际 实 。

施 措 等 及放置干燥剂 封包装 密 用 采 中 输 运 和在 境 装环 组 制 仔细控 、 选择 封装材料 的 智 进行明 必须。

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压 成 部形 内 在 加热将快速 焊 流 上时,回 板到 定 固 其 当 的问题。

最大 体封装 半导 是 潮气 的 部 内 到 吸收 。

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原因 的 开支 电子工业 加 增 著 显 是 都 湿 潮 , 输 运 中 域 的区 湿 潮 是在 还 , 中 域 区 带 热 通的 流 空气 是在 管 不 题。

难 后的一个 系统背 电子 在 困扰 是 总 度 湿 示: 提 )。

流 回 内 定 限 上所规定的时间 贴 标 意 注 敏感 湿 潮 在 必须 并且 , 焙 烘版本创建试用 用文件使 循环。

方法是通过 良率 触 的接 面 界 间的 之 金属 的 膨胀系数 热 同 不 有 具 中 产品评估:的 目 )高低温冲击试验( :⑥ 准 标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体 层 分 的 面 界 同 不 , 裂 断 的 体 绝缘 和 体 导 , 裂 断 质的 :电介 制 机 失效 ℃℃:℃℃ : 条件测试 。

变化 重复 低温 到 从高温 空气 的 动 流 循环。

方法是通过 良率 触 的接 面 界 间的 之 金属 的 膨胀系数 热 同 不 有 具 中 产品评估 : 的 目 )高低温循环试验( : ⑤。

增大 度 湿 但 , 压 偏 不加 则而, 缩短 时间可以 实验 , 素 因 力 压 到 虑 并且考 , 高 更 度 温 于 的区别在与 *准标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体 性封 密 封装 , 腐蚀 金属 学 :化 制 机 失效 )(,, ,℃ : 条件测试 过程 失效 其 速 加 能力, 抵抗 度的 湿 对 条件下 压 气 高 , 高湿 , 高温 产品在 评估 : 的 目 ( )高压蒸煮试验: ④准标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体 性 封 密 封装 , 腐蚀 离 :电 制 机 失效,, ,,℃ : 条件测试 程版本创建试用 用 文件使准 标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体 良率 %至少 : )( 准 标 失效秒中 锡盆 ℃ 入 浸 : 时小 化 老 蒸汽 : :测试方法的可靠度中 过程 粘锡 在评估 : 的 目 )可焊性试验(⑧准标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体 应效 金 共, 应 效 扩散 和 学 :化 制 机 失效 ℃:条件测试 的生命时间。

条件下 作 工 年不 几 条件下保持 高温 在 之前 用 际使 实 产品在 评估 : 的 目 )高温储存试验(: ⑦ 的测试晶园 于 偏重而的测试, 于偏重 于的区别在 与*准: 形变 械 体机 导 ,) 如 : ℃ ℃:℃℃失效 机 制 :电介 质的 断 裂 , 材料 的 老 化 ( 具体 的测试 条件 和 估算结果 可 参考 以 下 标 : 条件测试 。

变化 重复 低温 到 体从高温 液 的 动 流可研文件版本创建试用 用 文件使产品的质量和可靠度。

制 控 效 有 而 从, 成本 测试的时间和低 降 度的 最大限 的测试方法, 适 合 选择 的, 目 要测试的 需 及 以 途 产品的性能,用同不 根据 要 需 就 商 的设计制造后,之 测试方法 的述 在了解上准:标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体 ℃:制 机 失效 据数 的 中 元 单 证 验 取 次读 后,多 元 单 存储入写 据 数 将 条件下 高温 在 : 条件 测试 失损 荷 电 的 节点 存储 件 器 发性 非挥 速 加 后 之 读写 重复 在 : 的 目 )数据保持力测试( ② 准 标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体到达 数 读写次 的 据 数 个 每 , 高 更 者 或 , 温 室 :条件 测试 次 个过程多这 重复 , 据 数 除 擦 ,在 元 单 存储 的入写 据 数 将 : 久性能持 后的 算 次读写 在多 件 器 发性非挥 评估 : 的 目 )周期耐久性测试( ① ,)耐久性测试项目(三、准标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体 结果测试 电 根据 : )( 准 标 失效 秒中锡盆 ℃ 侵入: 测试方法 度敏感 的 高温 间 瞬 对 评估: 的 目 )焊接热量耐久测试(: ⑨。

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