数字电路实验：基本逻辑门
一、实验目的
研究TTL 门电路的性能及测试方法。

二、实验仪器
(1) 双线示波器 （2）数字万用表
(3) TES-1电子技术学习机
三、实验内容
实验10.1 TTL 与非门7400逻辑功能的测试
1. 将输出Y 接发光二极管（Y=1时二极管亮；否则灭），改变A 、B 的电平值，记录实验结果，并将该结果列成真值表形式。

2. 在A 端加入连续脉冲（频率f=1Hz ），将输出Y 接发光二极管。

当B 端分别接+5伏和0伏时，观察Y 端的输出变化，验证逻辑“0”对与非门的封锁作用。

A B
Y
图10.1
实验10.2 TTL 与非门7400传输延迟时间的测量
按图10.2接线，输入端接1MHz 连续脉冲，通过用示波器观察其输入、输出波形相位差的办法，测量出四个与非门的累计传输延迟时间。

实验10.3 TTL 与非门7400电压传输特性的测定
按图10.3接线。

U i 接直流稳压电源，调节U i 使之在0~5V 范围内变化（注意：U i 值不能≥6V ，否则将损坏芯片），测出U o 随U i 变化的值，将它们填入表10.1中，并用曲线表示之，试粗糙确定U T 值。

u i u o
图10.2
+5V Uo
实验10.4 TTL 与非门7400输入端特性测试
按图10.4接线。

改变B 端所接的电阻值，分别测量并纪录相应的电压U B 及U o ，将结果填入表10.2中。

四、总结要求 (1) 根据表21.1，画出与非门7400的电压传输曲线。

(2) 根据表21.2，总结与非门7400的输入端特性。

表10.1
表10.2 +5V
Uo
图10.4。