计量器具内校规程
Company Document number：WUUT-WUUY-WBBGB-BWYTT-1982GT
计测器内校管理程序
1、硬度计的内校程序
（1）、结构说明：常用硬度计分为①章氐其计算符号为HV。
②布氐其计算符号为HB，③洛氐其计算机符号为HR三者之结构大致相同。
是由以下结构组成如图（一）所示：
（2）、校验基准：使用外校合格的硬度计进行对比校准。
（3）、校准环境及周期：常温、常压，静置2小时以上，校准周期12个月。
（4）、校准步骤：
（6）、记录保存：
①、校准合格后，贴校准标签。
②、校准不合格时：依实际情况，判定为：暂停使用，降级使用，维修，报
废处理。
③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。
2、深度尺内校程序：
（1）、结构概述：深度尺是用来测量肓孔，梯形孔及凹槽等深度尺寸的量具，结构组成如图（二）所示：
（2）、校准基准：标准量块（外校合格的标准块）。
（3）、校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期12个月。
（4）、校准步骤：
（6）、记录保存：
①、校准合格后，贴校准标签。
②、校准不合格时，依实际情况，判定为暂停使用，降级使用，报废处理。
③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。
3、高度尺内校程序：
（1）、结构概述：高度尺是用来测量工件的中央相互位置和精密划线的量具，其主要由以下结构组成，如图（三）所示：
（2）、校准基准：选用外校合格的量块和平台进行比对校准。
（3）、校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。
（4）、校准步骤：
（6）、记录保存：
①、校准合格后，贴上校准标签。
②、校准不合格时，依实际情况定为暂停使用，降级使用报废处理。
③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。
4、外径千分尺内校程序：
（1）、外径千分尺又叫螺旋测微器，外径千分尺是由尺架，测砧，测微螺杆，微调装置，锁紧装置，固定套筒，微分筒等组成，如图（三）所示。
（2）、使用基准：外校合格的标准量块：
（3）、校准环境及周期。
常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。
（4）、校准步骤：
（6）、记录保存：
①、校准合格后，贴上校准标签。
②、校准不符合时，依实际情况判定为暂停使用，降级使用，报废处理。
③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。
5、卡尺内校程序：
（1）、结构概述：卡尺分为游标卡尺，带表卡尺，带电子显示器卡尺寸三种。
①、游标卡尺：游标卡尺主要用于测量物件的外尺寸，游标卡尺主要由以下部位
组成，尺身，刀口内量爪、外量爪、游标，尺框，紧固螺丝，深度尺等，如
图（四）所示：
②、带表卡尺：带表卡尺主要由以下部份组成：尺身，刀口内量爪，外量爪，尺
框，紧固螺丝，深度尺，指示表等，如图（五）所示。
③、带电子显示器卡中尺：其结构主要由以下部份组成：尺身，刀口内量
爪，外量爪，尺框，紧固螺丝，深度尺，电子显示表组成，如图（六）所
示：
（2）、校准基准：
①、标准量块（外校合格的标准件）。
②、选用外校合格的平台。
③、选取用外校合格20mm深的标准量块。
（3）、校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。
（4）、校准步骤：
（5）、判定标准：表示值误差不超过下表所列的标准即为合格：
（6）、记录保存：
①、校准合格后，贴上校验标签。
②、校准不合格时，依实际情况定为暂时停用，降级使用报废处理。
③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。
6、厚度器内校程序：
（1）、结构概述：厚度器分为：①、章氐计算符号HV,②、布氐计算符号为HB,③、洛氐计算符号为HK,三者之结构大致相同由测贴，指示表，按键，测杆，支架等组成，如图（七）所示：
（2）、校准基准：选择外校合格的标准量块。
（3）、校准环境及周期：常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。
（4）、校准步骤：
（5）、判定标准：表示值误差不超过±，即为合格。
（6）、记录保存：
①、校准合格后，贴上校准标签。
②、校准不合格，依实际情况定为暂停使用，降级使用，报废等三级处理。
③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。
7、电子秤内校程序：
（1）、结构概述：电子秤主要由：承重和传力机构，秤重传感器，电源，电子显示器等部分组成。
（2）、校准基准：选用外校合格的砝码。
（3）、校准环境及周期：常温、常压，静置2小时，校准周期为12个月
（4）、校准步骤：
（5）、判定标准：显示值与砝码实际重量误差不超过下表所列数据时，判为合格。
(6)、记录保存:
①、校验合格后，贴上校准标签。
②、校验不合格时，依实际情况定为暂停使用，降级使用，报废等三级处理。
③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。
8、钢卷尺内校程序。
（1）、结构概述：其结构主要有尺壳，尺身，锁紧装置等组成。
（2）、校准基准：选用外校合格的量块.
（3）、校正环境及周期：常温，常压，静置2小时，校准周期为12个月。
（4）、校准步骤：
（5）、判定标准：如果钢卷尺的每段误差超过±1mm但全长累计误差未超过±3mm为合格。
（6）、记录保存：
①、校验合格后贴上校准标签。
②、校准不合格作降级使用或报废。
③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。
9、环规内校程序
1 目的：加强对计量器具的管理，确保器具测量的准确性及检测结果的有效性
2 校验范围：公司内使用的所有光滑环规（以下简称环规）
3 校验环境：温度20±5℃，湿度不高于65%RH,周围无振动、噪声、外部干扰
4 校准方法：用检定合格且在有效期内的投影仪和内径千分尺对环规规格直接校准
5 校准周期：2年
6 校准步骤：
取标准块对检定的投影仪、内径千分尺进行使用前校准。
用无尘纸沾酒精，将环规擦拭干净。
目测环规使用部位应无变形、碰缺、凸起、锈蚀等其它影响精度的缺陷。
检测方法：
（1）通规检测方法（如图所示）：将通规放在投影仪上，测量三次孔(X)的直径；(记录最小值)。
通规A
(2)
1mm 处
的直径（Y 、Z ）分别测量三次（各记录最大值）。
止规B
通规：≤A-X ≤;
止规：≤Y -B ≤; ≤Z -B ≤;
以上第一条满足要求时，判定该环规通规尺寸合格；第二条满足要求时，判定该环规止规尺寸合格。
环规通止规尺寸合格基础上，外观满足要求时即可判定该环规合格。
7记录保存
①、校验合格后，贴上校准标签。
②、校验不合格时，依实际情况定为暂停使用，降级使用，报废等三级处理。
③、将校准结果登录在DF4221-02《检测仪器清单》表格内。
通止规内校记录表
DF7-06-005 校准人： 日期： X Y Z
10、通止规内校程序
1 目的：加强对计量器具的管理，确保器具测量的准确性及检测结果的有效性
2 校验范围：公司内使用的所有光滑通止规（以下简称通止规）
3 校验环境：温度20±5℃，周围无振动、噪声、外部干扰
4 校准方法：以检定合格且在有效期内的千分尺对通止规直接校准
5 校准周期：2年
6 校准步骤：
取标准块对校验的千分尺进行使用前校准。
用无尘纸沾酒精，将通止规擦拭干净。
检查通止规使用部位应无变形、碰缺、凸起、锈斑等其它影响精度的缺陷。
检验时用千分尺分别测量如图所示的部位，通端部位沿圆周方向测量均布的三个直径（止端部位沿圆周方向测量均布的一个直径），通端记录最大值，止端记录最小值。
校准完后对通止规进行防锈维护。
7 判定标准：A、B、C相应位置中最大值
通端：
⑴0≤MAX( A、B、C)- Φ1≤
(2)0≤MAX( A、B、C)-MIN( A、B、C) ≤
以上两点均满足判定该通止规通端尺寸合格
止端：D相应位置中最大值
⑴0≤Φ2-D≤
以上满足判定该通止规止端尺寸合格
通止规尺寸合格基础上，外观满足要求时即可判定该通止规合格。
8 表格（如下：环规内校记录表）
环规内校记录表
DF7-06-005 校准人：日期：。