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最新失效经典案例分享

485通讯电路 设计缺陷案例
失效分析经典案例-设计缺陷失效
485通讯电路 设计缺陷案例
结论: 100Ω与MOV串联,30V、nS级的脉冲 在MOV上的电压为5.4V。(约1/6)
对MOV直接放电 放电电压=50V
通过100Ω对MOV放电 放电电压=30V 100 Ω上的电压波形(24.6V)
Vz=10V
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功能 环境 极端条件 可靠性 维修性 测试性 安全性 保障性 …
温度应力 潮湿应力 振动应力 冲击应力 电磁应力 综合应力 软件运行 …
电应力 温度应力 …
可靠性因素
设计
样机
中试
试产
批产
老炼
使用
设计
物料
结构
工艺
原理 结构 元器件 容差 热 电磁兼容 防浪涌 装配工艺 …
暴露缺陷 完善设计: 原理 结构 物料 工艺
中国赛宝实验室 15
失效分析经典案例-电梯控制板失效
信息

电梯控制的PCBA,进口,对PCBA进行功能检测时, 100块板有20块板发生故障——占20%。 PCBA故障定位:所有故障的PCBA均发生在IC6(板 上位号)集成电路(CPLD)——同一器件 所有失效的CPLD均发生在Pin39,表现为与地(电 源负端)漏电、短路——同一引脚 怀疑:PCBA漏电,IC6漏电、损伤 PCB? 焊接? IC? 过电? 陷? …
失效分析经典案例-设计缺陷失效
485通讯电路 设计缺陷案例
通过L1对MOV放电 放电电压=80V MOV上的电压波形(10.4V)
现场通讯线上的电压波形 9峰峰=42.6V 9最大=24.8V
•同一机柜中 •通讯线长≈60cm •柜。门均接地 •线槽无动力线
波形出现在关机与系统功能转换时 系统稳定工作状态无异常波形
失效分析经典案例
可靠性理念
第二讲 失效分析经典案例

可靠性是设计进去制造出来的!
工业和信息化部电子第五研究所 (中国赛宝实验室) 可靠性研究分析中心
李少平 广州020-87234456
中国赛宝实验室 1 中国赛宝实验室 2
可靠性的核心
MOV上的电压 峰峰=31.4V 最大=19.0V
R= 100 Ω
结论: MOV不能释放 nS级的脉冲
中国赛宝实验室
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中国赛宝实验室
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失效分析经典案例-设计缺陷失效
485通讯电路 设计缺陷案例
结论: L1Ω与MOV串联,80V、nS级的脉冲 在MOV上的电压为10.4V。(约1/8)
CPLD
中国赛宝实验室

新版 DEL系统 通讯线上干扰( V ) 对 作用的等效电路

旧版DEL系统 通讯线上干扰(V1) 对485作用的等效电路
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新版DEL系统 485通讯电路
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中国赛宝实验室
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中国赛宝实验室
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失效分析经典案例-设计缺陷失效
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失效分析经典案例-设计缺陷失效
485通讯电路 设计缺陷案例
旧版DEL系统 485通讯电路
DEG系统485 通讯电路
失效分析经典案例-设计缺陷失效
485通讯电路 设计缺陷案例
DEG系统 通讯线上干扰(V1) 对485作用的等效电路
中国赛宝实验室 14
中国赛宝实验室
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失效分析经典案例-设计缺陷失效
485通讯电路 设计缺陷案例 结论: 9通讯线容易发生电压串扰 9瞬态抑制二极管不能 有效释放nS级脉冲 9通讯线路上的阻抗匹配 电阻(100Ω)应在正 确的位置 9通讯线上串联的小电感可 有效滤除高频干扰
中国赛宝实验室



设计缺
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失效分析经典案例-电梯控制板失效
失效分析经典案例-电梯控制板失效
证据提取
证据提取
解剖前的分析:
1 板上测试 CPLD的Pin39对地漏电、短路 2 故障隔离 机械断Pin39——防止离子导电因高温熔焊而消失→Pin39 漏电依旧,PCBA上无漏电→故障定位在IC,切在Pin39 3 CPLD 引脚电分析——Pin39 与地I-V特性已经不正常, 其邻近的雷同端口漏电增大,较远处的雷同端口正常 3 高温烘烤,Pin39依旧→排除离子导电(漏电)
寿命
老化失效
元器件:失效率λ和寿命 系统:MTBF和寿命
MTBF=1/λ
应力
元器件制造: 提供固有可靠性 整机系统应用: 确保应用可靠性
可靠性
失效率
随机失效
极限 MTBF
MTBF 关键部位的备份
寿命 老化管理策略
中国赛宝实验室
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中国赛宝实验室
中国赛宝实验室 7
设计
浪涌消除与防护—电源浪涌、长线传输感应浪涌、电感元件感应 电压。 EMC防护—抗电磁干扰,抑制电磁干扰的产生。 腐蚀防护—有害气体(腐蚀气体、水汽等)侵蚀防护。 正确使用元器件—性能参数指标,质量等级,可靠性指标。 元器件失效模式、失效机理的后果分析(FMEA),控制措施。 可靠性预计、可靠性分配。 适当的降额。 维修性、测试性、安全性。
设计
输入因素的全面、完整 功能—软硬件的原理—设计师的强项 环境—决定选用的元器件、零部件的环境适应级别,整机系统采 用的结构 极限应力条件—元器件、零部件、整机系统结构的极限能力,特 殊加强措施(振动、温度、湿度、辐射,等) 容差设计—元器件、零部件的参数指标的离散型,以及参数指标 的应力漂移和时间漂移。 热设计—热(温度)是元器件退化以及随机失效的关键因素,对 板件的MTBF和寿命有直接的作用。
工艺 适应性 缺陷评估 改进 工艺条件 验证设计
质量 可靠性 跟踪保障 检验 与 评价
剔除 早期失效 维护策略 消除 故障隐患 有效提高 使用可靠性 信息 收集反馈
中国赛宝实验室
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中国赛宝实验室
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设计
可靠性因素的考虑

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