3.2.5按速度键，仪器在支持的各参数间循环切换，或者先按速度键后，再按▲、▼键切仪器在支持的快速（F），中速（M），慢速（S）间循环切换。
3.2.6按量程键后，再按▲或▼键，可手动选择量程。量程可在自动（AUTO）和锁定（HOLD）状态间切换，一般选择自动（AUTO）模式，则同时进入量程保持状态。
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3.2.8按上档键，再按开路键进入开路清零菜单。开路清零功能能够消除测试线，测试夹具与被测元件并联的杂散电容的影响。通过按【▲】或【▼】键来选择执行“SPOT”或“SWEEP”清零，即对当前频率点或所有的频率点进行清零，一般选”SWEEP”。
3.2.9按上档键，再按短路键进入短路清零菜单。短路清零能够消除测试线与测试夹具与被测元件串联的剩余阻抗如引线电阻或引线电感的影响。通过按【▲】或【▼】键来选择执行“SPOT”或“SWEEP”清零，即对当前频率点或所有的频率点进行清零，一般选”SWEEP”。
3.2.7在测试页面，按上档键，屏幕左上角“SHIFT”点亮，按下设置键进入测量设置界面，在测量设置页，通过左右按键键选择项目TRIG(触发方式)，再通过然后按【▲】或【▼】键，可选择“INT”，“MAN”或“EXT”这三种触发方式，一般将其设置为INT(内部)。按【ENT】键确认数据输入，返回测试界面；通过左右键选择“SRES”（输出内阻）项，再按【▲】或【▼】键选择“100Ω”或“30Ω”，一般测试选择100Ω，按【ENT】键确认数据输入，返回测试界面。通过左右按键选择“CABLE”（电缆长度）项，再按【▲】或【▼】键选择“0m”、“1m”或“CUST”，根据测量时使用的输出测试夹具进行选择。按【ENT】键确认数据输入，返回测试界面。通过按左右键选择“ZERO”（清零开关）项，再按【▲】或【▼】键选择“ON”（打开）或“OFF”（关闭）方式。选择“ON”开，按【ENT】键确认数据输入，返回测试界面。
THB数字电桥测试仪操作规范精编
文件类型
仪器名称
资料编号
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仪器作业指导书
TH2817B数字电桥
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1.目的
为规范仪器使用操作，确保元器件的品质，延长仪器使用寿命，保障测试安全。
2.适用范围
电感，电容，电阻参数测试操作。频率范围：50Hz～100kHz间共十个典型频率，测试信号电平:0.1V、0.3V、1V三种测试电平，恒定可选的源内阻：30Ω或100Ω。
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TH2817B数字电桥
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3.2.10按上档再按显示键，仪器可在直读显示（DIR）——实际测量值；绝对偏差显示（⊿）——测量值与称值的绝对偏差；百分比偏差显示（%）——测量值与标称值的百分比偏差几种切换方式中进行切换显示。一般我们选择直读显示。
3.4.7在测量电感器时，应尽可能使被测件远离金属件，以减小误差。
3.4.8在较高频率下（如10KHZ以上）进行测量时应尽可能使用测试台夹具，如果由于条件所限，则仪器清零
时测试线的状态应尽可能与测试时保持一致。
3.4.9仪器应定期计量。
4.相关记录
《试验仪器检测设备一览表》《试验仪器检测设备校量计划》
3.3进行测试
3.3.1仪器设置完毕，将被测元器件连接于测试端上，仪器开始测量。
3.4仪器测试结束
3.3.1仪器测试结束关闭仪器电源，然后整理测试仪器和工作台，做好6S工作。
3.5.仪器使用注意事项
3.4.1仪器工作环境：相对湿度≤85%RH，温度25±3℃；接地良好。
3.4.2仪器尽量在低杂波的环境下使用，避免频繁开关仪器。
3.仪器测试操作
3.1仪器测试前准备工作
3.1.1检查仪器供电电源是否为AC220±10V，50Hz/60HZ。
3.1.2仪器接通电源前应关掉电源开关。
3.1.3开启仪器预热20分钟。
3.2设置仪器
3.2.2根据测试元器件要求，按主参数键，仪器在支持的各参数间循环切换，或者先按主参数键后，再按▲、▼键仪器在Z，CS,CP,LS,LP,RS,RP各测试参数间循环切换。按副参数键，仪器在支持的各参数间循环切换，或者先按主参数键后，再按▲、▼键仪器在θ°(角度)，θr（弧度），R，X，Q，D各测试参数间循环切换。
3.2.3按频率键，仪器在支持的各参数间循环切换，或者先按频率键后，再按▲、▼键仪器在支持的各频率（50Hz，60Hz，100Hz，120Hz，1kHz，10kHz，20kHzBZB，40kHz，50kHz，100kHz）间循环切换。
3.2.4按电平键，仪器在支持的各参数间循环切换，或者先按电平键后，再按▲、▼键切：仪器在支持的各电平（0.1V，0.3V，1V）间循环切换电平。
每次开机后进行开路及短路全频清零一次即可。
3.4.4请勿向测试端施加电压或电流，也不允许将带的电容器接在仪器上，以防损坏仪器。
3.4.5当被测元件为有极性器件时，在测试前须注意“高电位端”请接于前面板标为Hcur、Hpot的端子，而“低电位端”请接于前面板标为Lpot、Lcur的端子。
3.4.6对于SMD元件测量，因其串联等效电阻很小，一般地，对其测量应采用并联等效方式。