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数字电子技术实验教案

湖南工学院教案用纸实验1基本门电路逻辑功能测试(验证性实验)一、实验目的1•熟悉基本门电路图形符号与功能;2•掌握门电路的使用与功能测试方法;3•熟悉实验室数字电路实验设备的结构、功能与使用。

二、实验设备与器材双列直插集成电路插座,逻辑电平开关,LED发光显示器,74LS00, 74LS20 , 74LS86,导线三、实验电路与说明门电路是最简单、最基本的数字集成电路,也是构成任何复杂组合电路和时序电路的基本单元。

常见基本集门电路包括与门、或门、与非门、非门、异或门、同或门等,它们相应的图形符号与逻辑功能参见教材P.176, Fig.6.1。

根据器件工艺,基本门电路有TTL门电路和CMOS门电路之分。

TTL门电路工作速度快,不易损坏,CMOS门电路输出幅度大,集成度高,抗干扰能力强。

1.74LS00 —四2输入与非门功能与引脚:2. 74LS20 —双4输入与非门功能与引脚:3. 74LS86 —四2输入异或门功能与引脚:四、实验内容与步骤1.74LS00功能测试:①74LS00插入IC插座;②输入接逻辑电平开关;③输出接LED显示器;④接电源;⑤拔动开关进行测试,结果记入自拟表格。

湖南工学院教案用纸2. 74LS20功能测试:实验过程与74LS00功能测试类似。

3. 74LS86功能测试:实验过程与74LS00功能测试类似。

4. 用74LS00构成半加器并测试其功能:①根据半加器功能:S A B , C AB,用74LS00设计一个半加器电路;②根据所设计电路进行实验接线;③电路输入接逻辑电平开关,输出接LED显示器;④通电源测试半加器功能,结果记入自拟表格。

5. 用74LS86和74LS00构成半加器并测试其功能:实验过程与以上半加器功能测试类似。

五、实验报告要求1. 内容必须包括实验名称、目的要求、实验电路及设计步骤、实验结果记录与分析、实验总结与体会等。

2•在报告中回答以下思考题:①如何判断逻辑门电路功能是否正常?②如何处理与非门的多余输入端?实验2组合逻辑电路的设计与调试(设计性综合实验)一、实验目的1•熟悉编码器、译码器、数据选择器等MSI的功能与使用;2•进一步掌握组合电路的设计与测试方法;3•学会用MSI实现简单逻辑函数。

二、实验设备与器材双列直插集成电路插座,逻辑电平开关,LED数码显示器,74LS148,74LS151,74LS48,74LS138,74LS283,74LS04,多用表,导线三、实验内容与设计要求1•按教材P.180 Fig.6.6电路接线,验证8-3优先编码器74LS148和显示译码器74LS48的逻辑功能,记录实验数据,表格自拟;2•用数据选择器74LS151(或者74LS138+74LS04)设计一个红、黄、绿三色信号灯状态监测逻辑电路,并对所设计电路的功能进行测试。

要求:任何时刻信号灯只能亮红、黄、绿三种颜色中的任意一种颜色灯;其它状态都属于故障状态。

3•用一片四位加法器74LS283实现8421BCD码到余3码的转换,并测试电路功能。

四、设计方法与设计提示1. 组合电路设计的一般步骤:参见教材P.180 Fig.6.5①根据电路功能描述,分析因果关系,确定输入、输出变量,并对之进行逻辑赋值;②应用穷举法列出真值表,并写出逻辑表达式;③根据具体电路要求及特定器件资源,选择确定器件;④利用公式或卡诺图化简函数,并将之转换成与所选用器件功能相适应的形式;⑤画出所设计的逻辑电路图,并进行后续的工艺设计与组装调试。

湖南工学院教案用纸2. 典型组合电路MSI功能与引脚:①8-3优先编码器74LS148 ;②显示译码器74LS48 :③8选1数据选择器74LS151 :④3-8译码器74LS138;⑤四位加法器74LS283。

3. 设计提示:①数据选择器实现逻辑函数:如:用8选1数据选择器74LS151实现函数f(A,B,C) m(0,2,5,6,7)。

因74LS151输出丫70mD i,f (A,B,C) m o D o m2D2 m t D5 msD6 m7D7,故74LS151 的接线方法为:A o C,A1 B,A2 A,D0 D2 D5 D6 D7 1,D1 D3 D4 0。

②3-8译码器74LS138实现逻辑函数与数据分配:74LS138的输出Y m,其中m是由地址码A2A1A0组成的最小项。

由于任意函数总可以写成最小项之和形式即Y i m ,因而如果将函数变量作为译码器的地址码或译码控制信号,则根据反演定理并结合与非门即可完成逻辑函数的译码器实现。

译码器实现逻辑函数与数据分配的具体方法参见教材P.183 Fig.6.10。

③8421BCD码到余3码的转换:余3码=8421BCD+0011,故用加法器可容易实现8421BCD码到余3码的转换。

五、预习要求及实验注意事项1•预习要求:①查阅并熟悉相关MSI的引脚及功能;②按设计要求设计好实验所用电路,画出实验电路图。

2•实验注意事项:①接插芯片时,注意认清定位标志;②实验前注意确定MSI芯片功能正常;③不允许MSI芯片输出端直接接地或电源,须在断电状态进行拆线或电路更改。

六、实验报告要求1. 内容必须包括实验名称、目的要求、实验电路及设计步骤、实验结果记录与分析、问题分析与处理、实湖南工学院教案用纸验总结与体会等。

2•在报告中回答以下问题:①组合电路的一般设计步骤?②组合电路的设计体会?实验3集成触发器功能测试(验证性实验)一、实验目的1•熟悉集成JK和D触发器的功能与使用;2. 熟悉触发器的功能测试方法。

二、实验设备与器材双列直插集成电路插座,逻辑电平开关,示波器,74LS112集成JK触发器,74LS74集成D触发器,多用表,导线三、实验电路与说明触发器是时序逻辑电路构成的基本单元,具有两个稳态,并且触发器状态能在外部输入信号作用下进行翻转。

触发器种类繁多,按电路结构,可分为同步触发器、主从触发器和边沿触发器,按逻辑功能,可分为RS触发器、JK触发器、D触发器、T触发器等。

一般而言,集成触发器除了触发信号输入端外,还拥有直接置零、置1输入端。

熟悉并掌握各种触发器特性方程、状态转换、动作特点,是应用触发器的重要基础。

1.74LS112 —集成JK触发器的功能与引脚:2. 74LS74 —集成DK触发器的功能与引脚:四、实验内容与步骤1.74LS112功能测试:①按教材P.186表6.11改变S d和R d,观察并记录触发器状态的变化;②按教材P.186表6.12,对触发器逻辑功能进行测试;③使J K 1(计数状态),在CP端输入f 100kHz方波,观察并记录Q、Q端工作波形。

2. 74LS74功能测试:①按教材P.187表6.13测试并记录74LS74触发器的逻辑功能;②连接D Q (计数状态),在CP端输入f 100kHz方波,观察并记录Q、Q端工作波形。

湖南工学院教案用纸五、实验报告要求1. 内容必须包括实验名称、目的要求、实验电路及设计步骤、实验结果记录与分析、实验总结与体会等。

2. 在报告中回答以下思考题:①S d和R d的作用是什么?如何利用它们实现触发器的置零或置 1 ?触发器正常工作时,它们应处于什么状态?②当触发器处于计数状态时,Q端状态在CP的什么时刻变化?Q端波形与CP波形在周期上有什么关系?湖南工学院教案用纸实验4移位寄存器(设计性实验)一、实验目的1•掌握集成移位寄存器的功能及其测试方法;2•研究由移位寄存构成的环形计数器和串行累加器工作原理。

二、实验设备与器材双列直插集成电路插座,逻辑电平开关,集成移位寄存器74LS194,集成D触发器74LS74,全加器74LS183,示波器,多用表,导线三、实验内容与步骤1•集成移位寄存器74LS194逻辑功能测试:实验电路参见教材P.195 Fig. 6.25。

CR、S、S o、S L、S R、D A、D B、D e、D D接逻辑电平开关,Q A、Q B、Q e、Q D接LED显示器,从CP输入单次脉冲,按教材P.196表6.23 逐项测试并记录测试结果:①清除功能;②送数功能测试;③右移功能测试;④左移功能测试;⑤保持功能测试。

2. 循环移位电路设计并测试其循环移位功能:用74LS194设计一循环右移寄存器,然后测试其在CP脉冲作用下的数据循环右移功能,并记录测试结果。

3. 串行累加器设计及其功能测试:根据教材P.195 Fig. 6.24所示串行累加器结构与工作原理,用74LS194和74LS183设计一四位串行累加器,然后在CP脉冲作用下测试电路的串行累加功能,结果记入自拟表格。

四、实验说明1.74LS194引脚及功能:2. 循环移位寄存器结构与工作原理:3. 吕行累加器构成方法与工作原理:五、实验报告要求1. 报告内容必须包括实验名称、目的要求、实验电路及设计步骤、实验结果记录与分析、问题分析与处理、实验总结与体会等。

2. 总结74LS194逻辑功能,画出环形计数器状态转换图与波形图;3. 分析串行累加器实验结果的正确性;4. 在报告中回答以下问题:①要使移位寄存器清零,可否采用右移或左移功能实现可否采用并行送数法实现?如果可以,又如何操作?②如要求循环左移,如何更改循环右移电路的连接?湖南工学院教案用纸p. 6一、实验目的1•掌握用集成计数器构成任意进制计数器的方法;2•掌握MSI计数器使用与功能测试方法;3. 基于MSI计数器的任意进制计数器设计。

二、实验设备与器材双列直插集成电路插座,逻辑电平开关,LED发光显示器,集成十进制计数器74LS192,四2输入与非门74LS00,连续脉冲源,单次脉冲源,导线三、实验内容与设计要求1. 自拟74LS192逻辑功能测试电路,并进行测试与记录;2. 采用反馈归零或反馈置数法,用一片74LS192和74LS00构成一个8进制计数器,实验方法与步骤自拟;3. 采用级联的方法,用两片74LS192和74LS00构成一个24进制计数器,实验方法与步骤自拟。

四、设计提示1. 基于MSI集成N计数器的任意M进制计数器的构成方法:①M<N :不需要级联,采用一片集成N计数器便可构成一个M进制计数器,基本思想是在计数过程中,利用集成N计数器的清零或置数功能使之设法跳过N-M个计数状态,前者称为反馈归零法,后者称反馈置数法。

设计的关键在于利用集成N计数器的哪个计数状态来产生所需的清零或置数信号,这主要取决于集成N计数器的清零或置数功能是同步方式还是异步方式。

②M>N :此时需要采用多片集成N计数器通过级联和整体的清零或置数才能构成一个M进制计数器。

整体的清零或置数信号在整个计数器的哪个状态产生,类似于M<N时的情况;而多片集成N计数器的级联方法,主要有串行进位法级联和并行进位法级联两种。

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