航空航天材料规范SAE AMS 2750D1. 范围：该规范描述了对热处理设备的温度要求。

包括温度传感器、仪器、热处理设备、系统精确度测试和温度均匀性测试。

这些对确保零件或原材料按照适用规范进行热处理，是必要的。

除非材质或过程规范特别规定，否则该规范不适用于加热或中间热处理，。

该规范适用于实验炉，参见第3.6节。

2. 适用文件：以下文件从订单发布之日起生效，并构成了该规范的一部分。

除非对使用的文件版本有专门的规定，否则供应商要使用最新版本的文件。

当参考文件取消，而且没有文件替代时，使用最新发行的那版文件。

ASTM文件可以从ASTM, 100 Barr Harbor Drive, 邮箱C700，West Conshohocken，PA19428-2959或获得。

ASTME 207，ASTM E 220，ASTM E 230，ASTM E 608，ASTM E 1129，ASTM MNL 7，ASTM MNL 12。

3. 技术要求温度传感器：温度传感器必须符合表1要求和如下要求。

一些例外情况在下文中有提到。

温度应该用此规范中规定的热电偶来测量，或用其他的精度相同或更高的热电偶或温度传感器来测。

热电偶用裸线或涂装线或MIMS线(矿物绝缘，金属铠装的)制成。

没有特殊说明的话，要求适用于所有温度传感器材料。

此规范中的“传感器”即指“温度传感器”。

从传感器首次校准或后来校准所得到的修正系数可以用来提高温度的精确度，且在此规范要求下要被使用。

校准：传感器应该有合格证明，注明校准数据的来源、理论测试温度，实际测试温度读数、校准方法和每个可追溯到NIST或其他认可的国家标准的校准温度的修正系数。

校准方法应符合ASTM E 220，ASTM E 207或其他国家标准的要求。

从毫伏到度或从度到毫伏的转化，应该遵守ASTM E 230或其他国家标准。

温度传感器必须在使用的温度范围内校准。

所有热电偶的校准点间隔不能超过250 o F(140 o C) ，不包括那些按照ASTM MNL 12或其他国家标准要求，在固定点上校准的热电偶。

K型和E型热电偶在500 o F (260 o C)温度以上使用后不允许再次校准。

对超过最高校准温度和低于最低校准温度的修正系数不允许用外插法来预测。

热电偶及其使用：热电偶只能在ASTM MNL 12 表3.1（对保护性热电偶的最高建议温度范围）或3.5（对保护性热组件的最高建议温度范围），ASTM E 230 表6（对保护性热电偶的最高建议温度范围），ASTM E 608 表1（对铠装的热电偶的最高建议温度范围）或其他国家标准规定的以及传感器供应商建议的范围内使用。

对于不符合以上温度要求的热电偶，应该按该规范中表格1所要求的校准和重新校准的温度间隔来使用。

在本规范中所规定的热电偶校准间隔，不论是按使用时间、次数，还是使用温度，都要是可允许的最大值。

虽然使用者按此规定进行定期校准，但是仍有责任确保在特殊条件下（环境、时间和温度）暴露时，不会发生过多的偏移。

使用者必须有支持性数据，如SAT，TUS，和再次校准数据以及书面程序文件，来控制探测头的更换，包括对最大寿命和/或者使用次数的限定等（适用的话）。

在新装置里的补偿导线（此版发行的第二年）应该符合ASTM E 230或等效的国家标准。

不允许接合导线。

连接器、插头、插座和接线条是允许的，前提是它们的热电性能和相应热电偶的特性能兼容。

ASTM E 1129可以用作圆柱插头的指南。

热电偶各组成部分和补偿导线的要求见表2。

用校准线卷制成的热电偶可以替代单独的校准热电偶。

线卷长度达到1000英尺的（305米），可以从一端取样；超过1000英尺的，应从两端取样（见3.1.1.1）。

如果从每端得到的单个的修正系数都在表1规定的接受范围内，就可以使用从线卷两端计算的平均修正系数。

如果样品热电偶在任何校准温度下，得到的最高和最低校准读数的差额超出了3.1.1.6.2或3.1.1.6.3中规定的要求，那么就不能对超过1000英尺的线卷使用线卷校准方法。

1 o F (0.6 o C) 针对一级标准和二级标准热电偶。

2 o F (1.1 o C) 针对系统精确度测试、温度均匀性测试、控制、监控、记录和负荷热电偶。

针对不满足3.1.1.6.2或3.1.1.6.3要求的线卷：允许将线卷分成较短的卷，而且两端误差能满足3.1.1.6.2或3.1.1.6.3中的要求。

如果热电偶是按照表1要求校准的话，就允许使用从线卷取下的单独的热电偶。

校准时，线卷里电线/电缆的最大数量规定如下：一级标准传感器---200英尺（60米）其他贵重金属传感器---2000英尺（610米）廉金属二级标准传感器---2000英尺（610米）其他廉金属传感器---5000英尺（1525米）对于K型和E型热电偶在500 o F (260 o C)以上温度下再次使用时，插入的深度应该等于或多于前一次使用时插入的深度。

除非绝缘性保持完好，并且电线包括热接点没有受到破坏，否则就不允许对任何热电偶进行再次使用。

在热接点重制以及热电偶重新校准下，就允许对破坏的热电偶（包括K型和E型热电偶在500 o F温度以上暴露的部分）进行补救修整。

如果补救的热电偶来源于校准线卷，对原始线卷的校准就可以来代替再次校准。

在补救前使用热电偶的次数应该包含在总的使用次数里。

不允许对任何一次性廉金属测试热电偶（即SAT或TUS）进行再次校准。

如果按照下面公式计算的“Ｕ”的值不超过30，就允许再次使用。

对测试热电偶使用一次是指电偶从加热到冷却的一个周期。

U= 在1200 o F(650 o C)以下使用的次数+在1200 o F(650 o C)和1800 o F(980 o C)之间使用次数的两倍。

对于一次性廉金属测试热电偶，应该限定：在1800 o F(980 o C)以上只能使用一次。

对于可回收的在500o F(260o C)温度以下使用的廉金属E型和K型热电偶，以及J，N型和其他贵金属测试热电偶（SAT或TUS）的再次校准，应该符合表1的要求。

参考标准传感器必须符合表1要求。

使用参考标准传感器和一级标准仪器来校准一级标准传感器。

一级标准传感器应符合表1要求。

使用一级标准传感器和一级标准仪器，来校准二级标准传感器。

二级标准传感器应符合表1要求。

使用仅限于对温度均匀性、系统精确性、控制、监测、记录和负荷传感器的校准。

温度均匀性测试（TUS）传感器应符合表1要求。

对温度均匀性测试传感器的校准，应该用一级或二级标准仪器对照一级或二级标准传感器按照表1的要求进行校准，不包括3.1.5.2中提到的热电偶。

对热电偶再次使用的限制，参见3.1.1.8和3.1.1.9。

对在500o F(260o C)温度以上使用的K型和E型热电偶，不允许再次校准。

对于符合以下三种情况的一次性廉金属TUS热电偶可以再次使用，而且受到3.1.1.9和3.1.1.10的限制：1）只在1200 o F(650 o C)温度下使用；2）有标识；3）在测试时受保护，防止损坏（如折弯、接触过多水分、腐蚀等）或者仍安装在测试时的防护架上。

对于装在防护架上，并只在1200 o F(650 o C)温度下使用的可回收廉金属TUS热电偶，规定只能使用90次或3年，依先达到的限制为准。

系统精确度测试（SAT）传感器应符合表1要求。

应该用一级或二级标准仪器对照一级或二级标准传感器的方式，按照表1的要求对SAT传感器进行校准。

对热电偶重复使用的限制，参见3.1.1.8，3.1.1.9和3.1.1.10。

对在500o F (260o C)温度以上使用的K型和E型热电偶，不允许再次校准。

控制、监控和记录传感器应符合表1要求。

可消耗热电偶的使用要按照3.1.1.9和3.1.1.10的要求。

与控制/监控仪器连接的控制、监控和记录传感器应安装在加热区内或尽可能接近加热区的热处理设备里，来控制和监控温度。

当负荷传感器被用作控制传感器时：在使用前要进行校准。

不允许对廉金属负荷热电偶再次校准。

（见3.1.8.3）。

作为控制传感器使用时，一次性热电偶只能使用一次。

依3.1.8的限制，可回收负荷热电偶可用于控制温度。

负荷传感器应符合表1要求用于测量零件温度、模拟零件或原材料温度的负荷传感器，在热处理时应与负荷物接触或埋在负荷物中。

按照3.1.7.2的要求，负荷传感器可以作为控制传感器来使用。

在这种情况下，控制、监控或记录感应器不应超过最大可允许的处理温度。

不允许对廉金属负荷热电偶再次校准。

对贵金属热电偶的再次校准频率应该是首次使用后每6个月校准一次。

如果3.1.1.9中的要求能满足，一次性廉金属热电偶在1200 o F(650 o C)温度以下使用时，可以用30次。

在1200 o F(650 o C)温度以上时，只能用1次。

可以按照3.1.8.5的要求使用可回收廉金属负荷热电偶。

可回收廉金属负荷热电偶的寿命应该由运作温度来决定。

热电偶累计使用记录应该保留。

最大使用次数或最大使用时间，规定如下：2300 o F(1260 o C)及其以上1次2200 o F(1205o C)至2299 o F(1260 o C) 10次1801 o F(980o C)至2199 o F(1205 o C) 30天或90次1200 o F(650o C)至1800 o F(980 o C) 90天或180次1200 o F(650o C)以下90天或270次在多个温度范围使用时，应采取最小使用次数或频率。

在要求的系统精确度测试（SAT）频率之前，更换负荷传感器以满足负荷传感器的SAT要求。

例1：•在2250 o F(1205o C)下使用9次的传感器，只允许在2200 o F-2299 o F或更低的温度下再使用一次•在2300 o F(1260o C)或以上温度时不能使用例2：•在1400-1600 o F之间使用了50次的传感器，在1820 o F 温度下使用•已经超过了在2199o F以上的温度范围所规定的使用次数•因为在较高的温度下也有使用，所以现在的限定使用次数是90次例3：•在1400-1600 o F之间使用了50次的传感器，在1015 o F 温度下使用•已经超过了在2199o F以上的温度范围所规定的使用次数•因为在1200-1800 o F温度下也有使用，所以现在的限定使用次数是180次仪器（见表格3，4和5）传感器的输出必须通过该规范中规定的仪器（或精度相同或更高的仪器）来转化成温度读数。

仪器必须经过NIST或等效国家标准组织的校准，或者通过其他可以追溯到NIST或公认的等效国家标准来校准（根据表格3）。

使用者必须对AMS 2750D里的所有仪器要求进行评审，因为在AMS 2750C里规定的仪器不一定都能满足这一版的要求。