在综合题和工艺题中涉及到有关工件时应考虑的主要内容一、焊缝1. 平板对接焊缝⑴探头K值：根据板厚按JB/T4730-2005标准表18确定。

⑵试块及反射体：根据题意，结合JB/T4730-2005标准确定。

⑶检测面：根据检测技术等级和板厚确定，检测面宽度按JB/T4730-2005标准公式（4或（5）确定。

⑷母材检测：只有C级检测时实施，其检测方法和缺陷记录按JB/T4730-2005标准5.1.4.4规定。

⑸探头数量：根据检测技术等级和板厚按JB/T4730-2005标准5.1.2规定。

⑹检测灵敏度：根据板厚和题意按JB/T4730-2005标准5.1、5.2条规定并符合表19或表20的要求。

△检测横向缺陷时，每条距离—波幅曲线均应提高6dB。

△焊缝两边板厚不等时，检测灵敏度应满足在厚板侧探测要求。

⑺焊缝两边板厚不等时，如厚板侧削薄，探头需在削薄处倾斜部分探测，则应使探头K值增加。

⑻对典型缺陷的检测：△根部未焊透检测宜选用K1探头。

△坡口未熔合检测，应尽量使声束垂直于坡口面。

△对电渣焊八字裂纹检测，应使探头与焊缝中心线成45°斜向扫查。

△横向缺陷检测：有余高焊缝：探头在焊缝两侧作与焊缝中心线成10°～20°斜平行扫查。

余高磨平焊缝：探头放在焊缝及热影响区作与焊缝中心线平行扫查。

⑼检测范围为焊缝本身再加30％板厚区域，（30％板厚区域最小5mm，最大10mm）。

⑽缺陷定量：根据给出的缺陷指示长度、间距等分布情况，对照板厚按照JB/T4730-2005标准5.1.8规定进行评级。

当板厚不等时，按薄板厚度评定。

⑾材质衰减与表面耦合损失按JB/T4730-2005标准附录F测试。

在一跨距声程，经测试传输损失≤2dB时可不进行补偿。

⑿检测时间：根据所用材料：一般材料在焊后检测；有延迟裂纹倾向的材料在焊后24小时或36小时（根据产品要求）后检测；有热处理要求的产品在热处理之前检测。

如有要求，在热处理后再增加一次检测。

2. 筒体纵焊缝除平板焊缝中所述内容应考虑外，还应考虑以下内容：⑴内圆面探测应考虑对缺陷定位时与平板焊缝对缺陷定位差别。

一般缺陷深度大于平板工件深度，缺陷离探头入射点的内圆面弧长小于平板工件水平距离。

⑵外圆面探测应考虑对缺陷定位时与平板焊缝对缺陷定位差别，且与内圆面探测时的不同之处。

一般缺陷深度小于平板工件深度，缺陷离探头入射点的外园面弧长大于平板工件水平距离。

同时应考虑最大探测璧厚和缺陷声程修正范围。

3. 曲面工件焊缝曲面工件焊缝是指直径小于或等于500mm的工件上的对接焊缝，主要考虑以下内容：⑴检测面曲率半径R≤W2/4时（W为探头接触面宽度，环焊缝检测时为探头宽度，纵缝检测时为探头长度），应采用与检测面曲率半径相同的对比试块，反射孔尺寸符合CSK－ⅡA或ⅢA试块要求，反射孔位置可参照CSK-ⅡA或ⅢA试块设置。

⑵当检测面曲率半径R满足W2/4＞R≤250mm时：纵缝检测：对比试块曲率半径与检测曲率半径之差应小于10％，外园检测时应考虑最大检测璧厚，对缺陷定位时应考虑与平板焊缝的差异。

环缝检测：对比试块曲率半径应为检测面曲率半径的0.9～1.5倍。

4. T型焊缝检测⑴直探头或双晶直探头检测；在翼板外侧沿焊接接头检测，主要检测翼板侧未熔合、中心未焊透等缺陷。

检测灵敏度按JB/T4730-2005标准表22规定。

⑵斜探头检测：在翼板上检测：主要检测焊缝中体积状缺陷和横向缺陷。

此时推荐使用K1探头。

在腹板上检测：主要检测根部未焊透、中心未焊透、腹板侧未熔合及焊缝中其它缺陷。

⑶对缺陷评级时均以腹板厚度为准。

缺陷评级方法同平板对接焊缝。

5. 管座角焊缝⑴在接管上检测时，探头与接管的接触面积W与接管曲率半径R之间应满足W＜2R，否则应采用与接管曲率半径相同的对比试块调节检测灵敏度。

⑵直探头检测灵敏度根据厚度按JB/T4730-2005标准表21规定。

⑶斜探头检测△探头K值的选择和检测灵敏度确定与平板焊缝相同。

△在筒体上检测时，当探头和筒体轴线平行探测时，与平板对接焊缝相同。

当探头和筒体轴线垂直探测时，与筒体纵焊缝相同。

当探头和筒体轴线成其它角度探测时，对缺陷的定位方法与筒体纵焊缝相同，只是曲率半径应以探头所在位置实际缺陷处探头在筒体探测方向的半径为准，并不是用筒体的曲率半径。

⑷缺陷评定与平板对接焊缝相同。

6. 堆焊层⑴堆焊层侧检测：探头：双晶直探头、纵波双晶斜探头并符合JB/T4730-2005标准5.2.31条规定。

双晶斜探头的交点深度应位于堆焊层与母材交界处。

试块：T1,T3b），试块母材厚度T≥2倍堆焊层厚度。

其中双晶直探头用T1和T3b），双晶斜探头用T1。

基准灵敏度：按JB/T4730-2005标准5.2.5.1条（T1试块）和5.2.5.3条（T3试块）。

扫查灵敏度：比基准灵敏度提高6dB。

扫查方法：应符合JB/T4730-2005标准5.2.6.3条规定。

⑵母材侧检测：探头：直探头，纵波斜探头，并符合JB/T4730-2005标准5.2.3.2条和5.2.3.3条规定。

纵波斜探头一般采用K1探头。

试块：T2，T3a），试块母材厚度T与被检工件母材厚度差不应超过10％。

其中直探头用T2和T3a），纵波斜探头用T2。

基准灵敏度：JB/T4730-2005标准5.2.5.2条（T2试块）和5.2.5.3条（T3试块）。

扫查灵敏度：比基准灵敏度提高6dB。

扫查方法：直探头应在母材侧作100％扫查，纵波斜探头应在母材侧作垂直于堆焊层（90°）方向和平行于堆焊层方向分别进行正反两个方向共四个方向扫查。

⑶堆焊层侧检测时的优缺点：优点：对缺陷容易判别，定位准确，不受工件形状影响。

缺点：堆焊层表面状况不好时影响检测结果。

⑷母材侧检测时的优缺点：优点：适合于在用设备检测，不受堆焊层表面状况的影响，能较好取得声耦合。

缺点：不适合工件表面形状复杂的工件，母材的材质、热处理状态和表面状态对检测结果有影响，对缺陷定位不准。

⑸对缺陷当量尺寸采用6dB法测定。

⑹对缺陷评定按JB/T4730-2005标准表24规定执行。

⑺堆焊层试块的制作要求：△试块材质、焊接工艺、缺陷状况符合JB/T4730-2005标准5.2.4.1条规定。

△堆焊层厚度应与被检工件堆焊层厚度一致。

△试块母材厚度至少应为堆焊层厚度的两倍，且与被检工件母材厚度之差不应超过10％。

△试块长度和宽度应符合JB/T4730-2005标准图27、图28和图29的规定。

7. 压力管道环焊缝⑴探头：符合JB/T4730-2005标准第6.1.3条规定；探头K值按表29选择；斜探头斜楔的探测面应磨成与管子外径曲率相吻合，并确保一次波扫查到焊缝根部。

⑵试块：根据管子外径按JB/T4730-2005标准第6.1.2条规定选用。

⑶检测面宽度符合JB/T4730-2005标准6.1.4.2条规定。

⑷距离—波幅曲线符合JB/T4730-2005标准表30规定。

扫查灵敏度不低于最大声程处评定线灵敏度。

⑸扫查方式：探头垂直于焊缝作前后、左右移动，不作斜平行扫查。

⑹缺陷指示长度确定：符合JB/T4730-2005标准6.1.7.4条规定，并根据缺陷深度和管子外径按JB/T4730-2005标准公式（6）进行修正。

点状缺陷按5mm计指示长度。

⑺缺陷评定：按JB/T4730-2005标准6.1.9条规定表31评定。

⑻对主要缺陷探测：根部未焊透：主要用一次波从焊缝两侧检测。

坡口未熔合：主要用二次波从焊缝两侧检测。

8. 奥氏体不锈钢对接焊缝⑴探头：纵波、高阻尼和窄脉冲单晶斜探头，双晶斜探头和单晶聚焦斜探头。

⑵试块：符合JB/T4730-2005标准附录N中N.4规定的N.1对比试块。

⑶距离—波幅曲线：按JB/T4730-2005标准表N.1规定制作。

对缺陷评定，应以通过焊缝的距离—波幅曲线为基准比较。

⑷检测方法：用一次波检测，不用反射法检测。

对焊缝100％检测必须将余高磨平。

对有余高的焊缝可用大K值探头检测，允许有少部分未检区。

⑸检测中应避免变形横波干扰，识别非纵波反射信号。

⑹扫查灵敏度不低于评定线灵敏度，如信噪比允许再提高6dB。

⑺缺陷指示长度测定按JB/T4730-2005标准N.8条规定。

⑻缺陷评定按JB/T4730-2005标准N.9条规定。

⑼缺陷评级按JB/T4730-2005标准表N.2规定。

9. 铝合金焊缝⑴对比试块：按JB/T4730-2005标准5.3.2条规定，符合图30规定。

⑵探头：2.5MH Z，K2。

⑶距离—波幅曲线：按JB/T4730-2005标准表26规定。

⑷缺陷质量分级：按JB/T4730-2005标准表27规定评级。

其余方面与钢焊缝相同。

10. 钛合金焊缝⑴对比试块：按JB/T4730-2005标准M.2条规定，符合图M.1要求。

⑵探头：2.5MH Z，K2。

⑶距离—波幅曲线：按JB/T4730-2005标准表M.2规定制作。

⑷缺陷评定：按JB/T4730-2005标准表M.3规定评级。

其余方面与钢焊缝相同。

二、锻钢件1. 明确锻件级别及合格要求⑴压力容器锻件标准：JB4726-2000压力容器用碳素钢和低合金钢锻件JB4727-2000低温压力容器用低合金钢锻件JB4728-2000压力容器用不锈钢锻件锻件共分四个级别，Ⅰ、Ⅱ级锻钢件不要求超声检测，Ⅲ、Ⅳ级锻钢件要求逐件超声检测。

⑵锻钢件按JB/T4730-2005标准进行超声检测评级，其合格级别为：2. 探头纵波探头：符合JB/T4730-2005标准4.2.2要求。

横波探头：符合JB/T4730-2005标准附录C要求。

3. 试块与反射体⑴试块：直探头试块CSⅠ。

双晶直探头CSⅡ。

横波和奥氏体钢斜探头试块：60°V形槽试块。

⑵ 反射体尺寸：直探头：大平底或Φ2平底孔，奥氏体钢锻件由合同或技术文件决定其平底孔当量。

双晶直探头：Φ1～Φ9平底孔。

横波：长25mm ，深度为锻件璧厚1％（按实际锻件厚度计算）。

奥氏体斜探头：长25mm ，深度为锻件璧厚3％（按实际锻件厚度计算）。

或5％（按实际锻件厚度计算）。

4. 衰减系数测定按JB/T4730-2005标准4.2.7条规定测锻件衰减系数并按JB/T4730-2005标准式（1）和（2）计算锻件衰减系数，当衰减系数≥4dB/m 时，在用试块定检测灵敏度时和对缺陷定当量时均应进行修正。

5. 基准灵敏度及调校方法⑴ 基准灵敏度直探头：Φ2平底孔当量，奥氏体钢锻件由合同或技术文件确定平底孔当量。

双晶直探头：Φ3平底孔当量。

横波：长25mm ，深1％锻件璧厚，60°V 形槽距离－波幅曲线。

奥氏体钢斜探头：长25mm ，深3％或5％锻件璧厚，60°V 形槽距离－波幅曲线。