5典型 缓冲电路
IGBT关断过程经 IGBT关断过程经 历两个换流期:IGBT历两个换流期:IGBTCs和Cs-VDo。IGBTCs和Cs-VDo。IGBTCs换流有f—g两个时 Cs换流有f 换流有 区,在f时区中由于ic 时区中由于ic MOS关断而迅速下 因MOS关断而迅速下 而在时区g 降,而在时区g中电流 ic拖尾 ics上升缓慢 拖尾, ic拖尾,ics上升缓慢 uce上升 上升( ,uce上升(上升速度 取决于Cs Io), Cs和 取决于Cs和Io),t=t7 IGBT-Cs换流结束 换流结束。 时IGBT-Cs换流结束。
布线电感Ls包含缓压电容 的寄生电感和电路的引线电感 布线电感 包含缓压电容Cs的寄生电感和电路的引线电感,在 包含缓压电容 的寄生电感和电路的引线电感, 大容量电路中必须考虑(类似于 类似于GTO电路 。 电路)。 大容量电路中必须考虑 类似于 电路
2011-8-15 上海理工电气工程系 5
3.5.3 开关电路的基本状态
2011-8-15 上海理工电气工程系 9
开通换流期的特点
因为有IGBT VDo间的换流 间的换流, 因为有IGBT -VDo间的换流, 按上设Lk很大,故在Uce Lk很大 Uce下降 按上设Lk很大,故在Uce下降 期中iL缓升, Uce下降比iL上 iL缓升 下降比iL 期中iL缓升, Uce下降比iL上 升要快许多。 t=t1时 时区a) 升要快许多。当t=t1时(时区a) 达到I2 I2<<Io, , iL 达到I2 ,且I2<<Io,尔 uce=0,uL=Ud,iL线性上 后uce=0,uL=Ud,iL线性上 (iD0线性下降 线性下降) 升(iD0线性下降)。
u ce = u LS
2011-8-15 上海理工电气工程系
dicS LS I 0 = LS = = U1 dt tf1
18
关断期的特点是
dicS LS I0 uce = uLS = LS = = U1 dt tf1
上式表明:阶跃电压U1随Ls和Io的增 上式表明:阶跃电压U1随Ls和Io的增 U1 大而升高,从而使Eon增大, Eon增大 大而升高,从而使Eon增大,为此应设法 减小Ls 如选择低内感缓冲电容器, Ls, 减小Ls,如选择低内感缓冲电容器,安装 时直接接在器件电极端子上等。 时直接接在器件电极端子上等。
2011-8-15
上海理工电气工程系
7
注意! 注意!稳态时缓冲电路不工作
不管是哪种状态, 不管是哪种状态,电路中电量均为 恒值( io≡Io,ud≡Ud), ≡Io,ud≡Ud) 恒值(设io≡Io,ud≡Ud),缓冲电路并不 处于工作状态。 处于工作状态。 可见,时区a IGBT开通的换流 可见,时区a~d是IGBT开通的换流 而时区f 则是IGBT IGBT关断的换流期 期,而时区f~j则是IGBT关断的换流期 为了改变IGBT在这些时区中的环境, IGBT在这些时区中的环境 ,为了改变IGBT在这些时区中的环境, 缓冲电路应投入工作。 缓冲电路应投入工作。
2011-8-15 上海理工电气工程系 8
3.5.4 开通换流期的特点
VG开通过程有关电量 VG开通过程有关电量 波形如左图中时区a 波形如左图中时区a~ 所示, d所示,该电量波形基 于以下的假定: 于以下的假定: uce在换流期中线性 ①uce在换流期中线性 下降(uL线性上升) (uL线性上升 下降(uL线性上升); 串联缓流电感Lk Lk值 ②串联缓流电感Lk值 较大(与集极电感Lko 较大(与集极电感Lko 比); 考虑VDo VDo的反向恢 ③考虑VDo的反向恢 复电荷Qrr 复电荷Qrr
2011-8-15
上海理工电气工程系
3
3.5.1 IGBT缓冲电路的构成 IGBT缓冲电路的构成
点划线框A 点划线框A与 IGBT串联 串联, IGBT串联,为开通 缓冲电路,电感Lk 缓冲电路,电感Lk 器件在开通时使电 流缓升, 流缓升,称缓流电 感,可降低器件的 开通损耗,Rk和 开通损耗,Rk和 VDk构成阻尼电路 VDk构成阻尼电路 Lk储能提供释 ,为Lk储能提供释 放回路, 放回路,也称有阻 尼开通缓冲电路。 尼开通缓冲电路。
电路的基本状态是IGBT稳定导通状 稳定导通状 电路的基本状态是 指左图中时区e,此时有: 态,指左图中时区 ,此时有:
2011-8-15
上海理工电气工程系
6
开关电路的基本状态
二极管VDo稳定导通状态即VG 二极管VDo稳定导通状态即VG VDo稳定导通状态即 关断状态,指图中时区k 关断状态,指图中时区k,此时有
2011-8-15 上海理工电气工程系 1
3.5.1 正常开关状态下的负载动态轨迹
在感性负载下,IGBT的开关环境相当恶 在感性负载下,IGBT的开关环境相当恶 不仅过高的开关损耗会导致器件过热, 劣,不仅过高的开关损耗会导致器件过热, 还有可能产生关断过电压, 还有可能产生关断过电压,为保障器件安全 设计者可采用具有更大SOA的器件, SOA的器件 ,设计者可采用具有更大SOA的器件,但这 在技术和经济上都是欠妥当的, 在技术和经济上都是欠妥当的,较为合理的 做法是设法改变器件的负载动态轨迹, 做法是设法改变器件的负载动态轨迹,减轻 器件在开关过程中的功率负担, 器件在开关过程中的功率负担,在电路中加 入缓冲电路便是一种有效措施。 入缓冲电路便是一种有效措施。 在正常开关状态下的负载动态轨迹将如 下图所示。 下图所示。
2011-8-15 上海理工电气工程系 20
3) 在VG关断过程的两个换流期 VG关断过程的两个换流期
在VG关断过程的两个换流期中,Cs值决 VG关断过程的两个换流期中,Cs值决 关断过程的两个换流期中 定了电压的上升速度,适当选择Cs Cs值可使 定了电压的上升速度,适当选择Cs值可使 uce在电流下降期中缓升 在电流下降期中缓升, uce在电流下降期中缓升,从而显著降低关断 损耗,由于电路简单有效, 损耗,由于电路简单有效,使无源关断缓冲 电路在软PWM电路中得到广泛应用。 PWM电路中得到广泛应用 电路在软PWM电路中得到广泛应用。
2011-8-15 上海理工电气工程系 13
2011-8-15
上海理工电气工程系
14
CsCs-VDo换流期
Cs-VDo间换流包含 Cs-VDo间换流包含 h~j三个时区 在时区h 三个时区: h~j三个时区:在时区h, 由于uce>Ud uce>Ud, 由于uce>Ud,产生电压过 充 ∆U , ∆U = U cem − U d VDo正偏导通 正偏导通, Lk、 VDo正偏导通,由Lk、Ls Cs和VDs组成的串联振 、Cs和VDs组成的串联振 荡电路投入工作。 荡电路投入工作。
2011-8-15 上海理工电气工程系 16
2011-8-15
上海理工电气工程系
17
关断期的特点是
1) 由于考虑缓冲电路分布电感 Ls,Cs初充电时uce产生阶跃 初充电时uce Ls,Cs初充电时uce产生阶跃 电压U1,如图所示, t=t5时 U1,如图所示 电压U1,如图所示,当t=t5时 ,uce为 ,uce为: uce=uLs+ucs 考虑Cs端压初值为ucs=0, Cs端压初值为ucs=0,设 考虑Cs端压初值为ucs=0,设 ic按线性下降 ics线性上升 按线性下降( 线性上升) ic按线性下降(即ics线性上升)并 忽略其拖尾, 忽略其拖尾,则上式可写成
上海理工电气工程系 11
与实 际方 向相 反
2011-8-15
开通换流期小结
因为有了开 通缓冲电路 Uce下降 ,在Uce下降 期中,电流ic 期中,电流ic 主要为ics ics, 主要为ics, 这样就改善 了器件的开 通环境。 通环境。
2011-8-15
上海理工电气工程系
12
3.5.5关断换流期及其特点 3.5.5关断换流期及其特点
2011-8-15
上海理工电气工程系
19
2)为抑制关断期中电压过冲 2)为抑制关断期中电压过冲ΔU 为抑制关断期中电压过冲Δ
缓冲电路应折衷确定 LK值 此外在LK LK并联由 LK值,此外在LK并联由 RK和VDK组成的阻尼电 RK和VDK组成的阻尼电 uL反向期中 反向期中VDK 路,在uL反向期中VDK 正偏导通,LK中储能沿 正偏导通,LK中储能沿 RK释放 释放; IGBT并联 RK释放;与IGBT并联 Cs、Rs和VDs组成的 的Cs、Rs和VDs组成的 RCD电路 电路, LS中储能 RCD电路,将LS中储能 转移到Cs Cs中 Cs越大则 转移到Cs中,Cs越大则 电压过冲量Δ 越低。 电压过冲量ΔU越低。
2011-8( IGBT缓冲电路的构成(续) 缓冲电路的构成
点划线框B IGBT并 点划线框B与IGBT并 电容Cs Cs在关断时使电压 联,电容Cs在关断时使电压 缓升,也称缓压电容, 缓升,也称缓压电容,可降低 器件的关断损耗, Rs和 器件的关断损耗,由Rs和 VDs构成的并联支路 构成的并联支路, VDs构成的并联支路,可提高 充电速度且抑制放电流。 充电速度且抑制放电流。称 RCD关断缓冲电路 关断缓冲电路。 RCD关断缓冲电路。由于电 路包含电阻Rk Rs,是称耗能 Rk和 路包含电阻Rk和Rs,是称耗能 型缓冲电路。 型缓冲电路。
2011-8-15 上海理工电气工程系 2
IGBT正常开关状态下的负载动态轨迹 IGBT正常开关状态下的负载动态轨迹
IGBT正常开关状态下 IGBT正常开关状态下 的负载动态轨迹 : VG关断过程 关断过程, a-VG关断过程, VG开通过程 开通过程, b-VG开通过程, c-理想开关动态轨迹。 理想开关动态轨迹。
2011-8-15 上海理工电气工程系 10
开通换流期的特点
实际上,IGBT开通过程还 实际上,IGBT开通过程还 存在一个叠流期, 存在一个叠流期,因为在 IGBT关断时 开通前)Cs 关断时( )Cs中 IGBT关断时(开通前)Cs中 储有能量Wc Wc, IGBT开通 储有能量Wc,当IGBT开通 Cs立即沿IGBT和Rs放电 立即沿IGBT 时Cs立即沿IGBT和Rs放电 (ics<0),放电电流与iL iL一 (ics<0),放电电流与iL一 起流经IGBT IGBT, 起流经IGBT,放电电流峰 Icsm,Rs虽可限制 虽可限制Icsm 值Icsm,Rs虽可限制Icsm 但却不能影响Cs中电荷Qs Cs中电荷 但却不能影响Cs中电荷Qs 也即增大Rs Rs同时会减缓 ,也即增大Rs同时会减缓 放电的速度, 放电的速度,延长放电电流 的衰减期, 的衰减期, 因此Rs的上限值要受到ug Rs的上限值要受到 因此Rs的上限值要受到ug 的最窄脉宽τ 的限制。 的最窄脉宽τm的限制。