当前位置:文档之家› 第十三讲 光电二极管资料

第十三讲 光电二极管资料

三、特性参量
5 时间特性(频率响应) (2)耗尽层外生成的载流子的扩散时间t2
入射光从受光部分开始到比外部边缘和耗尽层更深的基板处被吸收 。这种载流子即使扩散的话,时间也有几微秒(μs)以上。
(3)载流子通过耗尽层时间t3 载流子在耗尽层中移动速度Vd是用载流子的移动速度(μ)和耗尽层中的 电场(E)决定的(Vd=μE),因平均电场E=VR/d,则t3可近似表示:
t3=d / Vd=d 2/ (μVR)
18
四、 PIN光电二极管
1、原理与结构
为了提高PN结硅光电二极管的时间响应,消除在PN结外光生载流子 的扩散运动时间,常采用在P区与N区之间生成没有杂质的本征层(I型层)。
四、 PIN光电二极管
1、原理与结构 结构图
17
外形图
雪崩区
光吸收区
电场分布
特点:(1) 时间响应快(2) 光谱响应向长波方向移动 (3) 输出线性范围宽。
(4)响应特性
响应特性通常用上升时间或截止频率来表示,上升时间是指输出信号
峰值从10%到90%的建立时间:
tr=2.2Ct(RL+RS)
Ct:封装电容和结电容Cj之之和;RL:负载电阻;RS:串联阻抗
通常RL>> RS,RS可以忽略不计。为了减小上升时间,则Ct、RL值要求
很小是非常必要的。
上升时间和截止频率的关系:
4、性能参数
(1) 增益(放大倍数)
增益M与PN结的反向偏压、材料及结构有关
M
1
n
1


U U BR

UBR:击穿电压;U:管子外加反向偏压;n:材
料、掺杂和结构有关常数,硅器件,n=1.5~4,
增益与温度、反向偏压的 关系曲线
锗器件n=2.5 ~ 8 当U→UBR时,M→∞,PN结将发生击穿。
一般采用图d和图c两种形式。
Ip:光电流,V:理想二极管,Cf:结电容,Rsh: 漏电阻,Rs:体电阻,RL:负载电阻
28
二、工作原理
4、电流方程 无辐射时,电流方程为
I

I
D

eU
e
kT
1
ID为U为负值(反向偏置时)且 U
>>
kT e
时(室温下kT/e≈0.26mV,很容易满足这
个条件)的电流,称为反向电流或暗电流。
20
三、特性参量
5、时间特性(频率响应) 响应速度-时间特性常用上升时间或截止频率来表示。
上升时间:输出信号的波形前沿幅度的10%与90%的两点时间间隔,用tr 表示。
(1)极间电容Ct和负载电阻RL的时间常数t1 t1=2.2×Ct×RL
Ct:封装电容和光电二极管结电容Cj之和,RL:负载电阻
19
10
五 、雪崩光电二极管(APD)
2、基本结构 (a) 在P型硅基片上扩散杂质浓度大的N+层,制成P型N结构; (b) 在N型硅基片上扩散杂质浓度大的P+层,制成N型P结构; (c) PIN型雪崩光电二极管
9
五 、雪崩光电二极管(APD)
3、工作原理
输出端受光照时,P+层受光子能量激发跃迁 至导带的载流子,在内部加速电场作用下,高速 通过P层,使P层发生碰撞电离而产生电子一空穴 对。而它们又从强电场中获得足够的能量,再次 晶格原子碰撞,又产生出新的电子一空穴对。这 种过程不断重复,使PN结内电流急剧倍增放大 (雪崩),形成强大的光电流。
4、性能参数
(4) 响应速度
响应速度的主要因素是CR(C主要是器件的结电容)和耗尽层内载流 子的运动时间。
为了能达到高速响应,必须减小极间电容,而且减小受光面积,加宽 耗尽层厚度也是有必要的。
通常APD响应速度特别快,响应时间(上升时间)为0.5~2ns。
2
五 、雪崩光电二极管(APD)
5、典型应用
31
二、工作原理
2、等效电路 一种是不加外电压,直接与负载相接;另一种是加反向电压
不是不能加正向电压,只是正接以后就与普通二极管一样,只有单
向导电性,而表现不出它的光电效应。
为什么一般 加反偏压?
a) 不加外电源 b) 加反向外电源 c) 2DU环极接法
30
二、工作原理
3、微变等效电路
图a为实际电路; 图b为考虑结构、功能后的微 变等效电路;
温度 (℃)
在环境温度变化较大的情况下,为了使电路能稳定工作,必须把暗电流 对输出特性的影响减到最小。
21
三、特性参量
4、光谱响应 以等功率的不同单色辐射波长的光作用于光电二极管时,其响应程
度或电流灵敏度与波长的关系称为光电二极管的光谱响应。
典型硅光电二极管光谱响应长波限 为1.1μm左右,短波限接近0.4μm,峰值 响应波长为0.9μm左右。
13
四、 PIN光电二极管
2、基本特性
(3)线性
下限由噪声决定,上限由感光面电极的结构决定。
为了使上限延伸,可通过增加反向偏压来实现。
InGaAS PIN光电二极管不同激活面积的线性曲线
GaAs PIN光电二极管的线性
入射光辐射通量(mw)
入射光辐射通量(mw)
12
四、 PIN光电二极管
2、基本特性
图c是图b的简化。正常运用时 ,加反向电压,Rsh很大,Rs很小 ,V、Rsh、Rs都可以不计;
Ip:光电流,V:理想二极管,Cf:结电容,Rsh: 漏电阻,Rs:体电阻,RL:负载电阻
29
二、工作原理
3、微变等效电路 图d是图c的简化,因为Cf很小
,除了高频情况要考虑它的分流作 用外,在低频情况下,它的阻抗很 大,可不计。
光的பைடு நூலகம்粒二象性的实验
1
本讲小结
1、光电二极管的基本结构、工作原理、特性参量 2、PIN光电二极管的工作原理、基本结构、基本性质 3、雪崩光电二极管(APD)的基本结构、工作原理、性能参数等
《光电子技术》
Photoelectronic Technique
光电二极管 周自刚
本讲主要内容
一、基本结构 二、工作原理 三、特性参量 四、PIN管 五、APD管
36
一、基本结构
1、基本概念 当光照PN结,并在半导体加有反向电压时,
产生的反向电流将随光照强度和光波长的改变而 改变,这种半导体器件叫光电二极管。
8
五 、雪崩光电二极管(APD)
3、工作原理
7
五 、雪崩光电二极管(APD)
4、性能参数
(1) 增益(放大倍数)
电离产生的载流子数远大于光激发产生的光生载流子数,这时雪崩 光电二极管的输出电流迅速增加,其电流倍增系数M定义为
M I I0
I为倍增输出的电流,I0为倍增前输出的电流。
6
五 、雪崩光电二极管(APD)
23
三、特性参量
2、伏安特性
在低反向偏压下光电流随反向偏 压的变化较为明显;当进一步增加 反向偏压时,光电流趋于饱和。这 时光电流仅决定入射光的功率,而 几乎与反向偏压无关。
22
三、特性参量
3、暗电流
在无光照射时的暗电流就是二极管的反向
饱和光电流I0,暗电流对温度变化非常敏感。
暗电流与所加偏压有关。
不足:I层较厚,电阻大,输出电流较小。
16
四、 PIN光电二极管
1、原理与结构
15
四、 PIN光电二极管
2、基本特性
(1)结电容
与激发面积和反向偏压有关。
反向偏压VR(V)
14
四、 PIN光电二极管
2、基本特性
(2)电流-电压特性(伏安特性)
E0无光照条件下,E1有光照射下,E2是增加光强的曲线
此雪崩光电二极管的噪声应该包括散粒噪声、由雪崩过程中引入的附加噪
声和负载电阻RL的热噪声。
in 2
2eIM
K f

4k Tf RL
2eId
I P M k f

4k Tf RL
第一项:散粒噪声和雪崩过程中的附加噪声之和;Id:暗电流;k:与器件 材料有关的系数。
3
五 、雪崩光电二极管(APD)
27
二、工作原理
4、电流方程
光辐射时,光电二极管的全电流方程为:
I
e
hc
1 ed
e,
ID
1 eeU/kT
η:光电材料的光电转换效率,
α :材料对光的吸收系数。
26
三、特性参量
光电二极管的工作区域: 第3象限与第4象限
25
三、特性参量
1、光电特性(光电灵敏度) 定义为输出电流与入射到光敏面上辐射通量之比 。
34
一、基本结构
2、结构类型 2CU系列光电二极管只有两个引出线; 2DU系列光电二极管有三条引出线,除了前极、后极外,还设
了一个环极(其目的:减少暗电流和噪声)
33
二、工作原理
1、感应电子层 受光面一般都涂有SiO2防反射膜(少量的钠、钾、氢等正离子)。 使P-Si表面产生一个感应电子层,从而使P-Si表面与N-Si连通起来。
这一转变过程是光信号变成电信号,也是一个 吸收过程。
硅光电二极管是最简单、使用最广泛、最具有代表性的光伏效应的光半 导体器件。
35
一、基本结构
2、结构类型 2DU型--以P型硅为衬底的光电二极管 2CU型--以N型硅为衬底的光电二极管
a) 2DU型光电二极管结构
b) 光电二极管符号 c) 光电特性测量电路
tr

0.35 fc
11
五 、雪崩光电二极管(APD)
1、基本概念 在硅(或锗)光电二极管PN结上加反向偏压后,射入光被PN结吸收形
成光电流。当加大反向偏压时会产生“雪崩”(即光电流成倍地激增)的 现象-称为“雪崩光电二极管”。
相关主题