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第七章光刻工艺A共29页文档

集成电路图形印制到硅片上的精密表面加工技术。
光源
光阑 快门 掩膜 光刻胶 硅片 一个简单的光刻曝光系统示意图
像纸上的感光材料 光刻胶 胶卷(底片) 掩膜版 曝光系统(印像机) 光刻机 暗室(小红灯) 光刻间(黄灯) 显影液 定影液
2、工序:
(1) 利用旋转涂敷法在硅片表面上制备一层光刻胶; (2) 将一束光通过掩膜版对光刻胶进行选择性曝光; (3) 对光刻胶显影从而将掩膜版上的图形转移到硅片上。
3、 图形转移技术:光刻与刻蚀
光刻工艺
■ � 概述 ■ � 掩膜版 ■ � 光刻机 ■ 光刻胶 ■ � 典型的光刻工艺流程
参考资料: 《微电子制造科学原理与工程技术》第7、8章 (电子讲稿中出现的图号是该书中的图号)
一、概述
(光刻、工序及说明)
1、光刻: 是指通过曝光和选择性化学腐蚀等工序将掩膜版上的
前面工艺的遗留问题
1、 氧化、扩散、离子注入、外延、CVD等一系列工艺都是 对整个硅园片进行处理,不涉及任何图形。
2、 在同一集成电路制造流程中,经历了一系列加工工艺后: a. 如何在一片硅片上定义、区分和制造出不同类型、 不同结构和尺寸的元件? b. 如何把这些数以亿计的元件集成在一起获得我们 所要求的电路功能? c. 如何在同一硅片上制造出具有不同功能的集成电路。
b. 制版工艺: 可分光学制版和电子束制版。 光学制版主要用于3 µm以上图形的制造。
4、掩模版的基本结构
(1) 掩膜材料:主要是铬、氧化铬或氧化铁等金属或金属氧化 物薄膜。
a. 作用:有选择的遮挡照射到硅片表面光刻胶膜上的光。 厚度几十~几百纳米。
b.要求:与玻璃粘附力强,针孔小,易加工成图形,机械 强度与化学稳定性好,分辨率高。
7.1 7.2 7.3 7.4
等等
接触孔尺寸(固定) 最小接触孔间距 最小有源区对接触孔覆盖 最小接触孔与栅间距 最大接触孔与栅间距 对于标准器件性能文件
1.0m × 1.0m 1.2m 1.2m 0.8m 1.5m
一组典型的设计规则的例子
3、制版程序:
(1) 绘制版图
将电路设计数据转化为物理图形的装置
3、说明:
(1) 三要素:光刻胶、掩膜版和曝光系统(光刻机)。 (2) 目的:就是在二氧化硅、氮化硅、多晶硅和金属等薄膜
表面的光刻胶上形成与掩膜版完全对应的几何图形。这 样光刻胶就可以用作刻蚀下面薄膜时的掩蔽膜或用作离 子掺杂注入的掩蔽膜。
二、掩膜版 (概念、版图设计、制版程序、基本结构)
1、基本概念
(1) 掩膜版: 包含着预制造集成电路特定层图形信息的模板. (2) 掩膜版的作用:
a. 是IC设计与IC制造之间的接口与桥梁。 b. 决定了组成集成电路芯片每一层的横向结构与尺寸。 c. 掩膜版的数量决定了工艺流程中所需的最少光刻次数。 (3) 掩膜版的版图。所谓版图就是根据电路器件的几何形状 与尺寸,依据集成电路工艺的设计规则,利用计算机辅 助设计(CAD)软件所设计出的掩膜图案。
2、版图设计规则主要解决两个问题:
(1) 同一层几何图形之间的关系; (2) 不同层之间的相互关系。
说明
■ 对于每一层版图,版图设计规则规定:允许的最小特征尺 寸、最小间隔、该层图形与其它层图形的最小覆盖,与它 下面层图形的最小间隔等。
层次索引
接触孔(#14) 第一层金属(#15) 有源区(#3) 栅(#10)
2、光刻机的三个主要性能指标:
(1) 分辨率:是可以曝光出来的最小特征尺寸。通常指能分辩的 并能保持一定尺寸容差的最小特征尺寸。极限分辨率为λ/2。
(2) 对准和套刻精度:是描述光刻机加工图形重复性能的一个指 标,是层间套刻精度的度量,主要取决于掩模版和硅片的支撑 平台图形对准和移动控制精度性能。 套刻精度约为分辨率的1/3。
(2) 数据转换成图形发生器的专用文件(CIF文件、PG
文件等) (3) 驱动和控制图形发生器,以一定的间距和布局,将
掩膜图形印制于掩膜材料上,进而制备出批量生产
用的掩膜版。
说明ห้องสมุดไป่ตู้
a. 根据使用的光刻机,掩膜可以与最后完成的芯片上的图形 有同样的尺寸或是该尺寸的整数倍,后者在曝光时掩膜上 的图形被缩小。通常缩小倍数为 4 和 5。
掩膜版上形成图形后,图形可 通过与数据库对比检查进行 确认。任何不希望有的铬可 用激光烧化剥离。铬层的针孔 可用额外的淀积来修理。
三、光刻机
1、光刻技术的主体: 光刻机(曝光机 + 对准机)
它是将掩膜版上的图形与前次工序中已刻在硅片上的图形对准后, 再对硅片表面的光刻胶进行曝光实现图形复制的设备。
(3) 产率:指每小时可加工的硅片数,是判断光刻系统性能的一 个重要的指标,直接决定了集成电路芯片的制造成本。
补充
影响工艺效果的一些参数
■ 对于指定的光刻机,分辨率、对准和套刻精度、产量
都不是一个固定值。
表7.2 某些光刻胶参数对工艺效果的影响
分 辨 率 对 准 片间的控制
批间的控制
产量
曝光系统 衬底 掩膜 光刻胶 显影机 润湿剂 工艺 操作员
XX
XX
X
X
X
XX
X
X

XX
X
XX
X

XX


XX
X
X
XX
X
XX
XX
XX
XX
X
X
X
X
XX
XX
XX
X
X

XX
XX
X
XX
XX表示强烈影响,-表示微小影响,操作员针对手动光刻机。
3、光刻机的主要组成:
曝光光源、光学系统和支撑定位平台 1)曝光光源 a. 曝光光源的波长是光刻工艺的关键参数,其它条件相同,
(2) 基版材料:玻璃、石英。
要求:在曝光波长下的透光度高,热膨胀系数 与掩膜材料匹配、表面平坦且精细抛光。
(3) 对掩膜版的质量要求 a. 图形尺寸准确,符合设计要求; b. 整套掩膜版中的各块版应能依次套准,套准误差应尽可能小; c. 图形黑白区域之间的反差要高; d. 图形边缘要光滑陡直,过渡区小; e. 图形及整个版面上无针孔、小岛、划痕等缺陷; f. 坚固耐用,不易变形。
波长越短,可曝光的特征尺寸越小。λ/2 b. 曝光要求有一定的能量,且必须均匀的加在硅片上。为了
保持合适的曝光时间,曝光波长下的光源必须足够亮。 c. 常见的曝光光源 I) 汞灯光源在可见光和近紫外波长是有效的辐照源 II) 曝光光源从最初的紫外光波段的多波长汞灯光源,发展到
g线光源、90年代中期,采用i线的光刻机成为主流机型。
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