塞尺校验规程
1.0目的
为确保检验﹑测量和试验用的计量器具能溯源至国家标准，保持其量值的准确可靠，规范内校操作，特制订本内校操作规范。

2.0范围
本规程适用于（0.02～3.00）mm长度为（75～300）mm塞尺的首次校准、后续校准和使用中检验。

3.0校验设备
数显千分尺
所用装置应有CNAS认可的计量机构进行校准合格，每年需校准一次。

并在校准有效期内使用。

4.0环境条件
常温常湿。

温度：（20±5）℃
湿度（30~80)%
5.0校验方法
5.1校准项目
表1 校准项目
校
首次校准后续校准使用中校准准类别
校准项目
外观+ + +
相互作用+ + +
工作面表面粗糙度+ - -
塞尺厚度+ + -
注：表中“+”表示校准项目，“-”表示可不校准项目。

5.2外观
5.2.1 目力观察。

首次校准的塞尺的工作面应无划痕、毛刺、锈斑；后续校准的塞尺工作面允许有不影响使用计量特性的外观缺陷。

5.2.2 保护板上应标出制造厂名（或厂标）、规格、出厂编号，每片塞尺上均应标出厚度的标称值。

5.3相互作用
手感试验。

塞尺与保护板的联接应可靠，塞尺绕联接件转动应灵活，不得有松动和卡滞现象。

5.4工作面表面粗糙度
用表面粗糙度比较样块比较测量或用表面粗糙度测量仪测量。

表2 工作面表面粗糙度
塞尺厚度d/mm 表面粗糙度Ra/μm
0.02≤d≤0.05 ≤0.4
0.05<d≤3.00 ≤0.8
5.5塞尺厚度
每片塞尺选择几个受检点用数显千分尺测量，取其中最大值作为塞尺的厚度值，取塞尺厚度值与其标称值之差作为测量结果。

塞尺厚度d
塞尺厚度极限偏差
首次校准后续校准
0.02≤d≤0.10 +0.005
-0.003
+0.005
-0.005
0.10<d≤0.30 +0.008
-0.005
+0.008
-0.008
0.30<d≤0.60 +0.012
-0.007
+0.012
-0.012
0.60<d≤1.00 +0.016
-0.009
+0.016
-0.016
1.00<d≤
2.00 +0.028
-0.015
+0.028
-0.028
2.00<d≤
3.00 +0.048
-0.025
+0.048
-0.048
注：距工作面边缘1mm范围内的厚度偏差不计。

5.6校准结果处理和校准周期
5.6.1 将校准数据进行整理，按表3塞尺厚度偏差判断塞尺是否合格，将校准结果记录于规定的“仪器计量校准记录表”中。

5.6.2 校准证书应出具实测值。

将校准数据及原始记录﹑校准证书等数据进行归档处理以便备查。

5.6.3 被校塞尺各项要求均符合本指导书中相应项目的要求，则说明该塞尺校准合格，否则为校准不合格。

合格的贴上绿色合格标签，不合格的注明不合格项，并贴上蓝色限用标签。

5.6.4计量校准不合格的允许降级处理或限制使用。

5.6.5校准证书及其原始记录资料至少保存3年。

6.0校准周期
塞尺校准周期根据使用情况，一般不超过一年。

新购塞尺需经校准验收，合格后方能提供使用。

7.0参考文件
JJG 62-2007 塞尺检定规程
JJF1071国家计量校准规范编写规则
JJF1001通用计量术语及定义
GBT/T8170数值修约规则与极限数值的表示和判定8.0记录表格
内校合格证
塞尺校验记录表
内校合格证
内校合格证
仪器编号
校准日期
复效日期
校准人。