圖例
說明
表示:工序能力過分充裕，有很大的貯 備 不合格品率p＜0.00006%
對精密加工而言，工序能力適宜；對一 般加來說工序能力仍比較充裕，有一定 貯備 不合格品率0.00006%≤p＜0.006%
對一般加工而言，工序能力適宜 不合格品率0.006%≤p＜0.27%
工序能力不足，不合格品率較高 不合格品率0.27%≤p＜4.55%
➢ a. 1924年由美國的休哈特(W.A.Shewhart)提出.
➢ b. 第二次世界大戰后期, 1940年美國開始將SPC導入武器製 造商的製程中,取得了良好的效果,但世界大戰結束后由于美 國內商業缺乏競爭,SPC在1950~1980有有逐漸從美國工業消 失.
➢ c.戰敗的日本為了復興經濟1950年從美國邀請休哈特的同事 戴明(W.Edwards Deming)博士到日本輔導SPC的應用,經過 30年努力,取得了輝煌的成就.從而日本濟入世界工業強國之 列.
••••••••••
μ = 規格中心
SL
M
Su
SL
M
Su
Ca Capability of Accuracy
準確度
制程平均值-規格中心值
Ca =
* 100%
規格允差之半
X-M
=
* 100%
T/2
即偏移系數( k ) = Ca
Su= 規格上限 SL= 規格下限 T= 規格允差. ，T =Su - Sl
R=Xmax – Xmin
式中 Xmax
一組數據中的最大值，
Xmin
一組數據中的最小值
例如：有3，6，7，8，10五個資料組成一組，則 極差R=10-3=7
什么是標準差?
(1)
A槍手
(3) (5)
(7)
b槍
手
飛標圖解
流程之聲
C槍手
1 3 5 7 10 7 5 3 1
A 槍手
A
B 槍手
B A
C 槍手
當n爲奇數時-----正中間的數只有一個， 當n爲偶數時-----正中位置有兩個數，此時，爲 正中間兩個數的算術平均值。
離中趨勢
全距&极差 R
標準差 σ
全距（極差）
概念:
將樣本資料按大小順序排列，數列中最大值 Xmax與最小資料Xmin之差 稱爲樣本的極差。 常用符號 R 表示，其計算公式爲：
C B A
B 槍手
C 槍手
A 槍手
LCL
LCL
Mx
UCL
Mx
UCL
LCL x M
UCL
依照射擊擊中環次的頻率進行排列,可得以下的圖表:
Sigma (标准偏差)
由此可見 Sigma () 即是----變異,學術名 詞叫标准偏差
9
X 10
=
Σ1 n
n
(X
2
-X)
i-1
11
Sigma ()
表示數據的离散程度
➢ d.在日本的強大競爭之下, 80年代美國在SPC作為一種高科 技技術來推廣, SPC在美國得到全面的復興,經過15年的努力 到1995年左右美國與日本在產品質量方面的差距才基本保持 平.
何謂『統計』？
統計的基本原料是？
數據
計算
有數據就是統計嗎？
經過計算后得什麼？
有意義的情報
統計基礎
何謂『統計』？
2. 當公差範圍內能納入愈多的σ個數，則此製 程表現愈好，其本身是一種製程固有的（已決定的） 特性值，代表一種潛在的能力
精密度評價
Cp 值
Cp ≧ 1.67
製程等級
較佳
1.67 > Cp ≧ 1.33 A(合格)
1.33 >Cp ≧ 1.00 B(警告) 1.00 > Cp ≧ 0.67 C(不足)
樣本標準差 S ～～ δ
因為標準差是用數據整體計算，所以當數據量大太時， 就不便以操作,而且不符合現場需要。所以一般情況下, 會用樣本標準差S來代替δ
S ～～ δ
S=樣本標準差
母體
樣本
S=
Σ1 n
2
n-1
(
i-1
X
-X)
樣本: 從總體中隨機抽取的若干個個體的總和稱爲樣本。 組 成樣本的每個個體稱爲樣品。
統計
---收集的數據經過計算從而得到有意義的情報的活動
• 何謂『有意義的情報』？
至少應包括：
『集中趨勢 + 離中趨勢 + 含蓋在特定範圍內的機率』
集中趨勢
平均值 中位数
平均值
概念:
表示数据集中位置，數據算術平均數_ ，
x
常用符号
表示。 x
X= N
N:表示樣本數
例:有统计数据2,3,4,5,6五个数据，则其平均数据为：
記爲Cp。通常以規格範圍T與工序能力 6* δ的比值來
表示。即：
不精密
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精密
••••••••
精密度表示什麼
Cp=T/6δ=規格公差/6*標準差
規格公差=UCL-LCL=規格上線-規格下線
1. 製程精密度，其值越高表示製程實際值間的 離散程度越小，亦即表示製程穩定而變異小（離中 趨勢，與σ有關）。
偏移係數
T =Su – SL=Tu-TL
K _ 偏移量= M - x
偏移係數 K
_ M- x
= T/2
Su
M
3 品質與6品質的差距
6品質—減少變異
品質 品質
Su
M
SL
數據分析
Cp、 Ca、 Cpk
數據的分布
A: 每件産品的尺寸與別的都不同 B:但它們形成一個模型，若穩定，可以描述爲一個分佈
C:數據會有不同的分布型態，正態分布為 鐘型
CP Capability of Precision
精確度：
是衡量工序能力對産品規格要求滿足程度的數量值，
Ca Capability of Accuracy
準確度:
代表製程均值偏離規格中心值之程度。若其值越
小，表示製程平均值越接近規格中心值，亦即品質_越 接近規格要求之水準（集中趨勢，與有關），值越x大，
表示製程平均值愈偏離規格中心值，所造成的不良率 將愈大）
準確度差••••••••
準確度好
Su= 規格上限 SL= 規格下限
_
5X =
2+3+4+5+6 ————— =4
中位數
概念:
把收集到的統計資料按大小順序重新排列，排在正中
間的那個數就叫作中位數，常用符号 ~x 表示。
● 例: 试找出3、5、6、7、11五个样本数据和3、5、6、8、
9、11六个样本数据的中 解：3、5、6、7、11的中位数为6
3、5、6、8、9、11的中位数为 6+8 = 7 2
【电子工程培訓教材】
CPK培訓教材
教材編號 : QC-009 版 本 : 1.0
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SPC(Statistical Process Control) 統計制程管制
統計過程控制 ➢ 是應用統計的方法對過程中的各個環節進行監控與診斷,從而達到 改進與保證產品品質的目的 .
SPC的發展進程