单板硬件调试报告
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ﻩ
xxx有限公司
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共15页
XＸ单板硬件调试和单元测试报告
（仅供内部使用）
拟制:
日期:
yｙyy－mm-ｄｄ
审核:
日期:
1.3调试测试组网图
简单描述调试测试的组网图。可以配以插图进行说明。
1.4调试时间、地点及人员
描述本次调试的时间，地点和开发调试人员。
2调试测试用例记录
2.1功能部分调试
2.1.1模块１
2.1.1.1调试用例1
调试用例编号:AAA-UT-ＣＣC-NNN
调试项目：可以用模块名或者调试大项命名
调试子项目：具体的调试描述
1．1ห้องสมุดไป่ตู้本情况介绍
6
１.2单板模块划分
6
1.3调试测试组网图
6
1.4调试时间、地点及人员
6
2调试测试用例记录
6
2.1功能部分调试
6
2.1.1模块1
6
2.1.1.1调试用例1
6
２.１.1．２调试用例2
6
2．1.２模块2
6
２.1.３问题列表
７
2.2信号质量测试用例
７
２.2.１电源
8
2.2．1.1测试数据
功能模块的划分可以为：电源模块、时钟模块、交叉模块、业务处理模块、接口模块、ＣPU控制模块、主备倒换模块等等,或者参照前面“2.单板硬件功能模块划分”。
对于不同的模块，包含或涉及到不同类型的信号,芯片对不同信号的质量要求是不一样的，例如对电源的质量要求是幅度、上电时间、上电顺序、纹波等;对时钟信号的质量要求是边沿单调性、上升时间、下降时间、占空比、上冲、下冲、回冲、时钟频率、抖动等；对控制信号的质量要求则是电平幅度、有效宽度、上冲、下冲、回冲等；对业务信号的质量要求则是电平幅度、上冲、下冲、回冲、眼图等。
14
表目录
表１有问题信号记录表格
9
表２有问题信号记录表格
10
表3有问题信号记录表格
10
表4时序测试遗留问题
12
表５调试测试结果统计一
1２
表6调试测试结果统计二
12
表７调试测试问题列表
13
表8信号质量遗留问题统计表
13
表9时序遗留问题统计表
13
表10功能遗留问题统计表
13
图目录
图１ＸX图
6
ﻬ文档名称
关键词:调试测试、计划、其它关键词
１1
2.3．1.1测试结果
11
2．３.1.2测试时序及分析
１1
2.3.2业务接口部分时序
1１
2.3．2.１测试结果
11
2.3.2.２测试时序及分析
12
2.3.3问题列表
12
2.4失效器件原因分析
１2
３调试测试总结
12
3.１调试测试结果
12
3．2遗留问题报告
1３
3.３调试测试经验总结
14
4其他
14
5评审报告
摘要：
缩略语清单：对本文所用缩略语进行说明,要求提供每个缩略语的英文全名和中文解释。
ﻬ概述
(本章节内容在计划模板中都有体现，在确保内容没有改变的情况下,可以直接拷贝）
1.1基本情况介绍
简单介绍产品，并说明单板正式名称和PCB版本号。
1.2单板模块划分
从调试测试的角度简要说明单板硬件功能模块的划分情况，以及各个模块的功能和相互关系。
检查点、应达到的要求、指标和预期结果:
执行中的其他说明：
调试人员:
时间:
实测结果：
差异说明：
说明以下差异及每个差异的原因:
被测对象与其规格说明、总体/详细设计文档之间的任何差异；
实际调试活动与调试计划之间的任何差异。ﻭ
调试测试是否通过：(ＯK, POK , NＧ,ＮＴ）
1.1.1.1调试用例2
.．..．
ｙyyｙ-mｍ-dｄ
审核:
日期：
yyyｙ－mm－dd
批准：
日期：
ｙｙｙy－mm－ｄd
日期
版本
描述
作者
200１-0６-08
１.00
初稿完成
作者名
yｙyｙ-mm－dd
1.01
修改XXX
作者名
yyｙy-ｍｍ-dd
1．０2
修改XXX
作者名
……
……
……
……
yyyy-ｍｍ-ｄd
2.00
修改XXX
作者名
ﻬ
1概述
6
1.1.2模块2
......．．...
1.1.3问题列表
1.2信号质量测试用例
信号质量测试要保证全面性,即单板上的每个信号都要保证测试到,为了保证测试不遗漏，可以先将单板按照功能模块划分,并列举出每个功能模块中的器件,每个器件涉及到的信号再按照实现的功能分类,要列出每类信号的的判断标准,随后给出测试记录的表格。
<3.５２
TTL
<1Ｖ
<1V
>2．4Ｖ
＜0.８Ｖ
<０．8V
>2.４V
必须单调
>3V
＜0.６V
TＴL(３Ｖ)
<0．6V
＜0.6V
>2.4V
<0.８V
＜0.8Ｖ
以下提供的表格为通用的信号质量规范要求和一些通用的电平信号的标准,可作为信号质量判断的标准,同时需要参考器件手册；以下给出的标准与芯片要求不符的，以芯片要求为准,并要求在芯片的测试实测记录前，列出其特殊要求。
信号标准特性
信号类型
VＣC
ＶＯH
VＩH
VT
VＩL
VOＬ
TTL、ＡBT
5
2．4
2
1.5
0．8
０．４
8
2.２.1.2测试波形及分析
８
2．2.1.3问题列表
８
2.２.2逻辑信号
９
2.2.2.１测试结果
9
２.２．2．2测试波形及分析
9
2.2.2.3问题列表
9
2.2．3时钟信号
10
２.2.3.1测试结果
１0
2.2.3.２实测波形及分析
１0
2.２.3.3问题列表
10
2．３时序测试用例
１０
2.3.１CPＵ接口部分时序
信号质量的测试点要选在信号的终端。
在表格中结果判断一栏中,注明OＫ、POＫ、ＮG、NT，其中：
OＫ:测试结果全部正确
POK:测试结果大部分正确
NG：测试结果不通过
ＮT:由于各种原因本次无法测试
以下的测试结果记录中，对测试通过的信号，只要求提供其列表;测试不通过的信号,要求提供测试波形记录、原因分析、解决措施和解决计划。
LＶTTL、LVT、LＶC、ＡLVＣ、ＬV
3.3
２.４
2
1.5
0.8
0．4
CMOＳ
5
4.44
3．5
2.5
1.５
０.5
ＰＥCL
5
４．1９
3.87
３.７
3.５2
3.０5
ＬVPECL
３．3
2．４2
2.06
2
1.９４
１．58
ＧTL
——
１．2
0.８6
0.８
0.75
０.4
GTL+
——
１.5
１．０5
1
0.９5
０.4
ETL
5
2.4
１.6
1.5
1．4
0．4
BTL（低电平为1V）
——
２．1
1.62
1.５5
1.47
1.1
通用信号规范
信号类型
正向过冲
负向过冲
正向回冲
负向回冲
正向毛刺
负向毛刺
边沿特性①
实测VＩH要求
实测VIL要求
PECL
<０.２V
<0.２V
>3．８７Ｖ
<3.52V
<３.52V
>３．87Ｖ
必须单调
>3．87