常见的错误代码含义如下：1、“C1”内存读写测试，如果内存没有插上，或者频率太高，会被BIOS认为没有内存条，那么POST就会停留在“C1”处。

2、“0D”表示显卡没有插好或者没有显卡，此时，蜂鸣器也会发出嘟嘟声。

3、“2B”测试磁盘驱动器，软驱或硬盘控制器出现问题，都会显示“2B”。

4、“FF”表示对所有配件的一切检测都通过了。

但如果一开机就显示“FF”，这并不表示系统正常，而是主板的BIOS出现了故障。

导致的原因可能有：CPU没插好，CPU核心电压没调好、CPU频率过高、主板有问题等。

实战DEBUG灯——Award BIOS篇]DEBUG灯的使用也很简单，下面针对几种常见的故障代码和大家讨论一下解决问题的方法。

需说明的是，目前市场上的主板绝大部分使用的是AWARD BIOS或AMI BIOS，由于目前DEBUG 灯实际上是调用了主板BIOS的自检过程，所以主板BIOS程序的不同，DEBUG灯显示的代码也不同，解决问题的方法也不可一概而论。

因此我们也将分两个部分讨论。

以下的说明中将选择最常见的故障代码及解决方法，至于其他更详细的代码含义，请读者参考DEBUG灯的说明手册。

1. Award BIOS篇错误代码：00(FF)代码含义：主板没有正常自检解决方法：这种故障较麻烦，原因可能是主板或CPU没有正常工作。

一般遇到这种情况，可首先将电脑上除CPU外的所有部件全部取下，并检查主板电压、倍频和外频设置是否正确，然后再对CMOS进行放电处理，再开机检测故障是否排除。

如故障依旧，还可将CPU从主板上的插座上取下，仔细清理插座及其周围的灰尘，然后再将CPU安装好，并加以一定的压力，保证CPU与插座接触紧密，再将散热片安装妥当，然后开机测试。

如果故障依旧，则建议更换CPU测试。

另外，主板BIOS损坏也可造成这种现象，必要时可刷新主板BIOS后再试。

错误代码：01代码含义：处理器测试解决方法：说明CPU本身没有通过测试，这时应检查CPU相关设备。

如对CPU进行过超频，请将CPU的频率还原至默认频率，并检查CPU电压、外频和倍频是否设置正确。

如一切正常故障依旧，则可更换CPU再试。

错误代码：C1至C5代码含义：内存自检解决方法：较常见的故障现象，它一般表示系统中的内存存在故障。

要解决这类故障，可首先对内存实行除尘、清洁等工作再进行测试。

如问题依旧，可尝试用柔软的橡皮擦清洁金手指部分，直到金手指重新出现金属光泽为止，然后清理掉内存槽里的杂物，并检查内存槽内的金属弹片是否有变形、断裂或氧化生锈现象。

开机测试后如故障依旧，可更换内存再试。

如有多条内存，可使用替换法查找故障所在。

错误代码：0D代码含义：视频通道测试解决方法：这也是一种较常见的故障现象，它一般表示显卡检测未通过。

这时应检查显卡与主板的连接是否正常，如发现显卡松动等现象，应及时将其重新插入插槽中。

如显卡与主板的接触没有问题，则可取下显卡清理其上的灰尘，并清洁显卡的金手指部份，再插到主板上测试。

如故障依旧，则可更换显卡测试。

一般系统启动过0D后，就已将显示信号传输至显示器，此时显示器的指示灯变绿，然后DEBUG 灯继续跳至31，显示器开始显示自检信息，这时就可通过显示器上的相关信息判断电脑故障了[实战DEBUG灯——AMI BIOS篇]错误代码：00（或FF）代码含义：主板没有正常自检解决方法：(同Award BIOS篇相同故障代码)错误代码：01代码含义：处理器寄存器测试解决方法：(同Award BIOS篇相同故障代码)错误代码：0D至0F代码含义：CMOS停开寄存器读/写测试解决方法：检查CMOS芯片、电池及周围电路部分，可先更换CMOS电池，再用小棉球蘸无水酒精清洗CMOS的引脚及其电路部分，然后看开机检查问题是否解决。

错误代码：12、13、2B、2C、2D、2E、2F、30、31、32、33、34、35、36、37、38、39、3A代码含义：测试显卡解决方法：该故障在AMI BIOS中较常见，可检查显卡的视频接口电路、主芯片、显存是否因灰尘过多而无法工作，必要时可更换显卡检查故障是否解决。

错误代码：1A、1B、20、21、22代码含义：存储器测试解决方法：同Award BIOS篇内存故障的解决方法。

注意事项：如在BIOS设置中设置为不提示出错，则当遇到非致命性故障时，诊断卡不会停下来显示故障代码，解决方法是在BIOS设置中设置为提示所有错误之后再开机，然后再根据DEBUG灯所显示的代码来诊断。

机器出了故障，即使电话求助于高人，那也要想法先把问题说清楚，但对于大多数用户来说，他们都不知道该如何描述故障，是更本不通电？通电不开机？还是开机后报警器响个不停？这时候我们就要靠DEBUG灯来进行诊断。

[主板/诊断卡Debug灯代码解析0x段]适合AwardBIOS AmiBIOS PhoenixBIOS或Tandy 3000 BIOS00：已显示系统的配置；即将控制INI19引导装入。

01：处理器测试1，处理器状态核实,如果测试失败，循环是无限的。

处理器寄存器的测试即将开始，不可屏蔽中断即将停用。

CPU寄存器测试正在进行或者失败。

02：确定诊断的类型（正常或者制造）。

如果键盘缓冲器含有数据就会失效。

停用不可屏蔽中断；通过延迟开始。

CMOS写入／读出正在进行或者失灵。

03：清除8042键盘控制器，发出TESTKBRD命令（AAH）通电延迟已完成。

ROMBIOS检查部件正在进行或失灵。

04：使8042键盘控制器复位，核实TESTKBRD。

键盘控制器软复位／通电测试。

可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。

05：如果不断重复制造测试1至5，可获得8042控制状态。

已确定软复位／通电；即将启动ROM。

DMA初如准备正在进行或者失灵。

06：使电路片作初始准备，停用视频、奇偶性、DMA电路片，以及清除DMA电路片，所有页面寄存器和CMOS停机字节。

已启动ROM计算ROM BIOS检查总和，以及检查键盘缓冲器是否清除。

DMA初始页面寄存器读／写测试正在进行或失灵。

07：处理器测试2，核实CPU寄存器的工作。

ROM BIOS检查总和正常，键盘缓冲器已清除，向键盘发出BAT（基本保证测试）命令。

08：使CMOS计时器作初始准备，正常的更新计时器的循环。

已向键盘发出BAT命令，即将写入BAT命令。

RAM更新检验正在进行或失灵。

09：EPROM检查总和且必须等于零才通过。

核实键盘的基本保证测试，接着核实键盘命令字节。

第一个64K RAM测试正在进行。

0A：使视频接口作初始准备。

发出键盘命令字节代码，即将写入命令字节数据。

第一个64K RAM芯片或数据线失灵，移位。

0B：测试8254通道0。

写入键盘控制器命令字节，即将发出引脚23和24的封锁／解锁命令。

第一个64K RAM奇／偶逻辑失灵。

0C：测试8254通道1。

键盘控制器引脚23、24已封锁／解锁；已发出NOP命令。

第一个64K RAN的地址线故障。

0D：1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。

2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。

3、视频通道测试，如果失败，则鸣喇叭。

已处理NOP命令；接着测试CMOS停开寄存器。

第一个64K RAM的奇偶性失灵。

0E：测试CMOS停机字节。

CMOS停开寄存器读／写测试；将计算CMOS检查总和。

初始化输入／输出端口地址。

0F：测试扩展的CMOS。

已计算CMOS检查总和写入诊断字节；CMOS开始初始准备。

主板/诊断卡Debug灯代码解析1x段]10：测试DMA通道0。

CMOS已作初始准备，CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。

第一个64K RAM第0位故障。

11：测试DMA通道1。

CMOS状态寄存器已作初始准备，即将停用DMA和中断控制器。

第一个64DK RAM第1位故障。

12：测试DMA页面寄存器。

停用DMA控制器1以及中断控制器1和2；即将视频显示器并使端口B作初始准备。

第一个64DKRAM第2位故障。

13：测试8741键盘控制器接口。

视频显示器已停用，端口B已作初始准备；即将开始电路片初始化／存储器自动检测。

第一个64DK RAM第3位故障。

14：测试存储器更新触发电路。

电路片初始化／存储器处自动检测结束；8254计时器测试即将开始。

第一个64DK RAM第4位故障。

15：测试开头64K的系统存储器。

第2通道计时器测试了一半；8254第2通道计时器即将完成测试。

第一个64DK RAM第5位故障。

16：建立8259所用的中断矢量表。

第2通道计时器测试结束；8254第1通道计时器即将完成测试。

第一个64DK RAM第6位故障。

17 调准视频输入／输出工作，若装有视频BIOS则启用。

第1通道计时器测试结束；8254第0通道计时器即将完成测试。

第一个64DK RAM第7位故障。

18：测试视频存储器，如果安装选用的视频BIOS通过，由可绕过。

第0通道计时器测试结束；即将开始更新存储器。

第一个64DK RAM第8位故障。

19：测试第1通道的中断控制器（8259）屏蔽位。

已开始更新存储器，接着将完成存储器的更新。

第一个64DK RAM第9位故障。

1A：测试第2通道的中断控制器（8259）屏蔽位。

正在触发存储器更新线路，即将检查15微秒通／断时间。

第一个64DK RAM第10位故障。

1B：测试CMOS电池电平。

完成存储器更新时间30微秒测试；即将开始基本的64K存储器测试。

第一个64DK RAM第11位故障。

1C：测试CMOS检查总和第一个64DK RAM第12位故障。

1D：调定CMOS配置。

. 第一个64DK RAM第13位故障。

1E：测定系统存储器的大小，并且把它和CMOS值比较。

第一个64DK RAM第14位故障。

1F：测试64K存储器至最高640K。

. 第一个64DK RAM第15位故障。

[主板/诊断卡Debug灯代码解析2x段]20：测量固定的8259中断位。

开始基本的64K存储器测试；即将测试地址线。

从属DMA 寄存器测试正在进行或失灵。

21：维持不可屏蔽中断（NMI）位（奇偶性或输入／输出通道的检查）。

通过地址线测试；即将触发奇偶性。

主DMA寄存器测试正在进行或失灵。

22：测试8259的中断功能。

结束触发奇偶性；将开始串行数据读／写测试。

主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。

23：测试保护方式8086虚拟方式和8086页面方式。

基本的64K串行数据读／写测试正常；即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。

从属中断屏蔽存器测试正在进行或失灵。

24：测定1MB以上的扩展存储器。

矢量初始化之前的任何调节完成，即将开始中断矢量的初始准备。

设置ES段地址寄存器注册表到内存高端。

25：测试除头一个64K之后的所有存储器。