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材料现代分析方法

《材料现代分析方法》课程教学大纲
一、课程基本信息
课程编号:13103105
课程类别:专业核心课程
适应专业:材料物理
总学时:54学时
总学分: 3
课程简介:
本课程介绍材料微观形貌、结构及成分的分析与表面分析技术主要方法及基本技术,简单介绍光谱分析方法。

包括晶体X射线衍射、电子显微分析、X射线光电子谱仪、原子光谱、分子光谱等分析方法及基本技术。

授课教材:《材料分析测试方法》,黄新民解挺编,国防工业出版社,2005年。

参考书目:
[1]《现代物理测试技术》,梁志德、王福编,冶金工业出版社,2003年。

[2]《X射线衍射分析原理与应用》,刘粤惠、刘平安编,化学工业出版社,2003年。

[3]《X射线衍射技术及设备》,丘利、胡玉和编,冶金工业出版社,2001年。

[4]《材料现代分析方法》,左演声、陈文哲、梁伟编,北京工业大学出版社,2001年。

[5]《材料分析测试技术》,周玉、武高辉编,哈尔滨工业大学出版社,2000年。

[6]《材料结构表征及应用》,吴刚编,化学工业出版社,2001年。

[7]《材料结构分析基础》,余鲲编,科学出版社,2001年。

二、课程教育目标
通过学习,了解X射线衍射仪及电子显微镜的结构,掌握X-射线衍射及电子显微镜的基本原理和操作方法,了解试样制备的基本要求及方法,了解材料成分的分析与表面分析技术的主要方法及基本技术,了解光谱分析方法,能够利用上述相关仪器进行材料的物相组成、显微结构、表面分析研究。

学会运用以上技术的基本方法,对材料进行测试、计算和分析,得到有关微观组织结构、形貌及成分等方面的信息。

三、教学内容与要求
第一章X射线的物理基础
教学重点:X射线的产生及其与物质作用原理
教学难点:X射线的吸收和衰减、激发限
教学时数:2学时
教学内容:X射线的性质,X射线的产生,X射线谱,X射线与物质的相互作用,X射线的衰减规律,吸收限的应用
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)了解X射线的性质和产生机制,了解X射线管的结构。

(2)深刻认识X射线谱的两种不同的波谱,即连续X射线谱和特征X射线谱。

(3)深刻理解X射线与物质的相互作用过程,掌握X射线的散射、吸收过程。

(4)掌握X射线的衰减规律。

(5)了解吸收限的应用。

第二章X射线衍射原理
教学重点:布拉格方程、衍射矢量方程及劳埃方程的推导
教学难点:产生X射线衍射的充要条件和多晶衍射积分强度的计算
教学时数:3学时
教学内容:倒易点阵,X射线衍射方向,X射线衍射强度
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)了解倒易点阵的构建和倒易矢量。

(2)掌握布拉格方程、衍射矢量方程、厄瓦尔德图解、X射线衍射强度。

(3)了解倒易球、等同晶面、多重性因子、半高宽、厄瓦尔德图解等基本概念。

(4)掌握产生衍射的充要条件和多晶衍射积分强度的计算。

(5)掌握影响衍射强度影响的五大因素。

第三章多晶体X射线衍射分析方法
教学重点:X射线衍射仪的构成、工作原理及测量方法
教学难点:德拜法
教学时数:4学时
教学内容:德拜照相法,X射线衍射仪法
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)了解德拜相机德基本结构。

(2)了解德拜法试样德制备和实验参数选择。

(3)熟练掌握德拜相的指数标定。

(4)了解X射线衍射仪法的仪器结构,了解测角仪的结构。

(5)掌握X射线衍射仪的构成、工作原理及测量方法。

第四章X射线衍射方法的应用
教学重点:物相分析基本原理
教学难点:宏观应力测定
教学时数:4学时
教学内容:点阵常数的精确测定,X射线物相分析,宏观应力测定
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)掌握点阵常数的测定方法,了解误差来源及其消除方法。

(2)掌握X射线物相分析的方法和步骤,熟练掌握物相定性分析方法。

(3)了解X射线残余应力测定原理、单轴应力测定原理、平面应力测定原理。

(4)掌握X射线在应力测量中的具体应用。

第五章透射电子显微镜结构
教学重点:电磁透镜的景深与焦长,透射电子显微镜的结构
教学难点:电磁透镜的像差及其对分辨率的影响
教学时数:6学时
教学内容:光学显微镜的分辨率,电子波波长,电磁透镜,电磁透镜的像差及其对分辨率的影响,电磁透镜的景深与焦长,透射电子显微镜的结构,透射电镜的主要部
件,透射电镜的功能及发展
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)了解光学显微镜的分辨率,认识光学显微镜分辨率的局限性。

(2)了解电子波波长,了解电磁透镜。

(3)掌握球差、色差、像散、景深、焦长的基本概念。

(4)掌握电磁透镜的像差及其对分辨率的影响。

(5)掌握透射电子显微镜的结构,能熟练绘出5级成像系统光路图。

(6)了解透射电镜的主要部件及其功能。

(7)了解透射电镜的功能及发展。

第六章电子衍射
教学重点:电子衍射原理,单晶电子衍射花样的标定
教学难点:单晶电子衍射花样的标定,复杂电子衍射花样
教学时数:6学时
教学内容:电子衍射原理,单晶电子衍射花样的标定,多晶电子衍射图的标定,复杂电子衍射花样
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)掌握布喇格定律和电子衍射基本公式。

(2)熟练掌握单晶电子衍射花样的标定方法,学会查表标定法、d值比较法、标准花样对照法在具体实例中的应用。

(3)了解多晶电子衍射图的标定。

(4)对复杂电子衍射花样,只做一般介绍。

第七章电子显微图像
教学重点:质厚衬度原理,衍衬衬度,相位衬度
教学难点:衍衬衬度,相位衬度
教学时数:6学时
教学内容:质厚衬度原理,衍衬衬度,相位衬度,透射电子显微镜样品制备
教学要求:
(1)掌握质厚衬度原理。

(2)掌握衍衬运动学理论和衍衬图像的基本特征。

(3)掌握相位衬度基本原理,了解高分辨电子显微镜的结构特征。

(4)了解透射电子显微镜样品制备方法。

第八章扫描电子显微镜与电子探针显微分析
教学重点:电子显微镜的工作原理,电子探针X射线显微分析,表面形貌衬度原理及其应用
教学难点:表面形貌衬度原理及其应用
教学时数:7学时
教学内容:电子束与固体样品相互作用时产生的物理信号,扫描电子显微镜的结构和工作原理,表面形貌衬度原理及其应用,原子序数衬度原理及其应用,电子探针X
射线显微分析,扫描电子显微镜的发展
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)了解电子束与固体样品相互作用时产生的背散射电子、二次电子、吸收电子、透射电子、特征X射线、俄歇电子等物理信号。

(2)了解扫描电子显微镜的结构,掌握其工作原理。

(3)掌握表面形貌衬度原理及其应用,了解原子序数衬度原理及其应用。

(4)掌握电子探针X射线显微分析,特别是能谱仪的结构和工作原理。

(5)了解扫描电子显微镜的发展。

第九章光谱分析简介
教学重点:光谱分析基本原理,紫外、可见光吸收光谱
教学难点:光谱分析基本原理
教学时数:6学时
教学内容:光谱分析基本原理,原子光谱,分子光谱
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)要求学生充分理解光谱分析基本原理。

(2)了解分子光谱分析的基本原理。

(3)初步了解原子发射光谱、吸收光谱、原子荧光光谱的原理与应用。

(4)了解分子光谱分析原理。

(5)掌握紫外、可见光吸收光谱的原理与应用。

(6)了解红外吸收光谱和分子荧光光谱的原理与应用。

第十章其他显微分析方法简介
教学重点:扫描探针显微镜,软X射线显微术
教学难点:扫描隧道电子显微镜和原子力显微镜的原理及应用
教学内容:扫描隧道电子显微镜和原子力显微镜
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)掌握扫描隧道电子显微镜和原子力显微镜的工作原理。

(2)了解扫描隧道电子显微镜和原子力显微镜的特点与应用。

(3)了解软X射线显微术基本概念及软X射线全息显微成像技术简介
第十一章电子能谱分析方法简介
教学重点:X射线光电子能谱
教学难点:X射线光电子能谱的分析与应用
教学时数:6学时
教学内容:俄歇电子能谱法,X射线光电子能谱和紫外光电子能谱
教学方式:课堂讲授
教学要求:
(1)了解俄歇电子能谱的基本原理、俄歇电子能谱仪及应用。

(2)了解紫外光电子能谱的原理
(3)了解X射线光电子能谱仪的结构,掌握X射线光电子能谱的基本原理。

(4)熟练掌握X射线光电子能谱的分析与应用。

四、作业
该课程原则上每次课都布置作业,除了教材中的习题,也可以补充一些典型习题。

五、考核方式与成绩评定
考核方式:考试。

成绩评定:总评成绩= 平时成绩(30%)+期末考试(70%),其中平时成绩是平时作业与出勤情况,视具体情况而定。

执笔人:
责任人:
2013年8月。

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