（三） 贴片元件检验规范(电容,电阻,电感…) 4
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1. 目的 便于 IQC 人员检验贴片元件类物料。
2. 适 用 适用于本公司所有贴片元件（电容,电阻,电感…）之检验。
范围
3. 抽 样 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽
接受；
b. 来料品名错，或不同规格的混装，均
不可接受；
c. 本体变形，或有肉眼可见的龟裂等
不可接受；
目检或 检验时，
d. 元件封装材料表面因封装过程中留
MA
10 倍以上 必须佩带
下的沙孔，其面积不超
的放大镜 静电带。
过 0.5mm2,且未露出基质, 可接受；
否则不可接受；
e. Pin Leabharlann 化生锈，或上锡不良，均不可部分电子元器件检验规范标准书 IC 类检验规范(包括 BGA)
1. 目的
作为 IQC 人员检验 IC 类物料之依据。
2. 适用 范围
适用于本公司所有 IC（包括 BGA）之检验。
3. 抽样 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽 计划 样计划》。
4. 允 收 严重缺点(CR): 0; 水 准 主要缺点(MA): 0.4; （AQL） 次要缺点(MI): 1.5.
7
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缺陷属 检验项目
性
缺陷描述
检验方式
包装检验
a. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL MA 上的 P/N 及实物是否
都正确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验
a.实际包装数量与 Label 上的数量是否 相同,若不同不可接受；
位，样本数也以盘为单位；从抽检的每
备注
盘中取 3~5pcs 元件进行检测；AQL 不变。 检验方法见＂LCR 数字电桥测试仪操作指引＂ 和＂
数字万用表操作指引＂。
（四） 插件用电解电容.
1. 目的 作为 IQC 人员检验插件用电解电容类物料之依据。
2. 适 用 适用于本公司所有插件用电解电容之检验。
接受；
f. 元件脚弯曲，偏位, 缺损或少脚，
均不可接受；
备注：凡用于真空完全密闭方式包装的 IC，由于管理与防护的特殊要求不能现 场打开封装的，IQC 仅进行包装检验，并加盖免检印章；该 IC 在 SMT 上拉前 IQC 须 进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡 20%RH 对应的位置有没有变 成粉红色，若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。
受。
目检
a. 实际包装数量与 Label 上的数量是 否相同,若不同不可接受； MA b. 实际来料数量与送检单上的数量是 否吻合,若不吻合不可接
受。
目检 点数
3
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外观检 验
a. Marking 错或模糊不清难以辨认不可
5. 参 考 无
文件
检验项 目
缺陷 属性
缺陷描述
检验方式 备注
2
包装检 验
数量检 验
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a.根据来料送检单核对外包装或 LABEL
上的 P/N 及实物是否
MA
都正确,任何有误,均不可接受。
b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接
计划
样计划》。
4. 允 收 严重缺点(CR): 0; 水 准 主要缺点(MA): 0.4; （AQL） 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参 考 《LCR 数字电桥操作指引》
文件
《数字万用表操作指引》
检验项 目
缺陷 属性
缺陷描述
检验方式 备注
包装检 验
a. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上
的 P/N 及实物是 否都正确,任何有误,均
MA 不可接受。
目检
b. 包装必须采用防静电包装，否则不可接
受。
数量检 验
a. 实际包装数量与 Label 上的数量是否相
同,若不同不可接受；
目检
MA
实际来料数量与送检单上的数量是否吻合, 点数
若不吻合不可接受。
5
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e.Pin 氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；
电性检 验
MA 元件实际测量值超出偏差范围内.
LCR 测试 仪
数字万用 表
检验 时，必 须佩带
静电 带。
二极管 类型
检 测方法
选择数字万用表的二极管档，正向测量，LED 需发出与要求相符的颜色
的光，而反向测量不发光；否则该二极 LED
管不合格。
注：有标记的一端为负极。
外观检 验
a.Marking 错或模糊不清难以辨认不可接 受；
b. 来料品名错，或不同规格的混装，均不可
接受；
目检
检验
时，必
c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接 10 倍以
MA
须佩带
受；
上的放大
静电
d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙 镜
带。
孔，其面积不超过 0.5mm2,且未露出基质,
可接受；否则不可接受；
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电子元器件检验规范标准书
修订 修订
日期 单号
2011/03/ 30
/
修订内容摘要 系统文件新制定
页版 次次
修订
4 A/0 /
审核 批准
/
/
批准：
审核： 1
编制：
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6
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其它二 极管
选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于 1，而反向测量读 数需无穷大；否则该二极管不合格。
注：有颜色标记的一端为负极。
抽样计划说明：对于 CHIP 二极管，执行抽样计划时来料数量以盘为单
范围
3. 抽 样 依 MIL-STD-105E，LEVEL II 正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考
计划
《抽样计划》。
4. 允 收 严重缺点(CR): 0; 水 准 主要缺点(MA): 0.4; （AQL） 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参 考 《LCR 数字电桥操作指引》、
文件
《数字电容表操作指引》。