目录1 目的 (2)2 执行原则........................... (3)3 适用范围........................... (3)4 主要职责........................ .. (3)5 可靠性测试程序............... (3)5.1 环境测试............... . (3)5.2 静电测试 (3)5.3 结构耐久测试...... . (3)5.4 表面装饰涂层测试...... . (3)5.5元器件可靠性测试 (3)5.6 安全器件测试 (3)1 目的1.1 在特定的可接受的环境下不断的催化产品的寿命和疲劳度，评估产品的质量和可靠性；1.2 规范可靠性试验作业方法。
1.3 作为spc品质对spc产品放行的指导标准2 执行原则Spc产品可靠性试验程序及判断标准，严格遵守此程序。
3 适用范围适用于品质对spc产品的出货标准。
5 可靠性测试程序5.1环境测试样机标准数量：16台试验周期： 10天测试目的：通过连续的施加各种测试条件，加速产品的失效，提前暴露潜在问题。
试验流程：见下图，其中完成环测后和跌落测试的时间间隔应不超过4小时。
精品文档A ：产品平均失效寿命测试组合：样机数量： 16台5.1.1功能外观检查测试目的：测试预检查测试方法：OQC 功能外观检验标准进行检查测试标准：符合《成品检验指导书》中所有的指标。
5.1.2射频测量测试目的：测试预检查测试方法：使用 8960/CMU200 测试仪，参照《射频测试记录表》中项目列表，对所有样品进行参数指标预测试并保存测试结果测试标准：《射频指标记录表》中所有参数指标正常。
5.1.3 跌落试验测试条件： 6cm 厚水泥地板，2.4寸及以下LCD 跌落高度为1.2m ；2.6-2.8寸LCD 为1m ；3.0-3.4寸LCD 跌落高度为0.8m.3.5寸及以上LCD 跌0.5m 。
测试目的：跌落冲击试验样机数量： 16台试验方法：将手机处于开机状态进行跌落。
进行6个面的自由跌落实验，每个面的跌落次数为1次，每个面跌落之后进行外观、结构和功能检查。
对于翻盖手机，其中一半样品打开翻盖跌正面和背面(即跌8个面)；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置，跌正面和背面(即跌8个面)。
跌落结束后对外观、结构和功能进行检查。
检验标准：手机外观，结构和功能符合要求。
每跌完一个面进行拔号，应无掉网、关机等不良现象；拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按键功能，显示功能，触摸屏功能及灵敏度，拍照功能，SPK 听筒声音应无异常。
间隙张开，其它部件松脱后不借用其它工具用手可以复原的可接受，受力点有水泥沙大小的凹陷、A 产品平均失效寿命测试组合B 环境测试掉涂层、划伤可接受。
但涂层不允许有片状脱落、龟裂，掉电及掉SIM卡以微跌为准。
掉电池盖不作为不合格项，以手感拆装为准。
5.1.4温度冲击测试测试环境：低温箱：-40℃；高温箱：+80℃样机数量：16台测试目的：通过高低温冲击进行样品应力筛选试验方法：使用高低温冲击箱，手机带电池，设置成关机状态先放置于高温箱内持续30分钟后，在 15 秒内迅速移入低温箱并持续 30 分钟后，再 15 秒内迅速回到高温箱为一个循环，共循环24 次。
实验结束后将样机从温度冲击箱（高温箱）中取出，恢复 2 小时后进行外观、机械和电性能检查。
对于翻盖手机，应将一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
试验标准：手机电性能指标满足要求，活动部件正常，壳件无形变，无龟裂，变色，无氧化，麻点，脱层，缝隙断差变大（断差和间隙在0.1mm以下可接受），装饰片及镜片起翘不均匀。
IML材料高温存储温度为60℃作为允收标准。
5.1.5高温高湿参数测试测试环境：+60℃，93%RH测试目的：高温高湿应用性能测试试验方法：将手机电池充满电，手机处于开机状态，放入温度实验箱内的架子上。
持续48H，在此环境下进行电性能检查。
对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
检验标准：手机电性能参数指标满足要求，时钟精准，存储信息无丢失，拨打过程中有无掉网、关机等不良现象；拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按键功能，显示功能，触摸屏功能及灵敏度，拍照功能，SPK听筒声音，镜片和LCD内部、Touch Lens内部无水印，水珠，功能正常，外壳无变形。
B：环境测试样机数量： 10台5.1.6低温参数测试测试环境：-20℃测试目的：高温/低温应用性能测试试验方法：将手机电池充满电，手机处于开机状态，放入温度实验箱内的架子上，调节温度控制器到-20℃持续4个小时，在此环境下进行电性能参数和功能检查。
对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
检验标准：手机电性能参数指标满足要求，时钟精准，存储信息无丢失，拨打过程中有无掉网、关机等不良现象；拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按键功能，显示功能，触摸屏功能及灵敏度，拍照功能，SPK听筒声音变小，功能正常，外壳无变形。
5.1.7高温/低温存储测试环境：-40℃ /+80℃测试目的：高温/低温应用性功能测试试验方法：将手机处于关机状态，放入温度实验箱内的架子上。
持续48个小时之后，恢复至常温，然后进行结构，功能和电性能检查。
对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
检验标准：手机电性能指标满足要求，活动部件正常，壳件无形变，无龟裂，变色，无氧化，麻点，脱层，缝隙断差变大（间隙断差<0.1mm可接受），装饰片及镜片无起翘不均匀。
IML材料高温存储温度为60℃作为允收标准。
5.1.8湿热循环测试测试环境：+40℃，93%RH ；-10℃测试目的：高湿低温循环应用性能测试试验方法：温度控制器设到+40℃，93%RH持续1个小时之后，以1小时的速率变化到-10℃持续1小时后，以1小时的速度变化到+40℃，93%RH。
循环13次。
在此环境下进行电性能参数和功能检查。
对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
检验标准：手机电性能参数指标满足要求，时钟精准，存储信息无丢失，拨打过程中有无掉网、关机等不良现象；拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按键功能，显示功能，触摸屏功能及灵敏度，拍照功能，SPK听筒声音，镜片和LCD内部、Touch Lens内部无水印，水珠，功能正常，外壳无变形。
5.1.9灰尘测试测试环境：室温测试目的：测试样机结构密闭性样机数量： 2台试验方法：将手机关机后放入灰尘实验箱内。
其体积综合不得超过试验箱的有效空间的1/3，底面积不超过有效水平面积的 1/2，试验样品与试验箱内壁距离应不小于 100mm。
试验箱内的气流速度应能保证试验用灰尘均匀缓慢降在试验样品上，风速最大不超过 2m/s。
持续 8 个小时之后，将手机从实验箱中取出，用布和离子风枪清洁后进行检查。
对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到限位置。
试验标准：手机各项功能正常，所有活动元器件运转自如，每个按键按10次不能有INT，声音正常，显示区域没有明显灰尘（距离≥2.5cm，点≤0.15mm，数量≤3个的灰尘数可接）。
5.1.10盐雾测试测试环境：35℃ 5%NaCL测试目的：测试样机抗盐雾腐蚀能力样机数量： 2台试验方法：用氯化钠含量为5±1%的盐溶液，PH值为6.5~7.2。
允许用稀释后的化学纯盐酸或氢氧化钠调整PH值。
试验有效空间温度为35°C；连续喷雾的试验时间为24H；持续期满后在箱内恢复到正常大气条件，稳定后保持2H，检查。
检验标准：外壳表面及装饰件无明显腐蚀，（脱层，氧化<5%可接受，麻点≥2.5cm，点≤0.15mm，数量≤3个可接受）等异常现象。
5.1.11淋雨测试(无仪器暂时可不作要求)测试环境：室温（20~25℃）；样机数量： 2台测试目的：整机抗雨淋能力试验方法：手机关机状态下，正面朝上平放在转动平台上，以1分/转的速度通过25mm喷雨矩阵，持续10分钟。
检验标准：用干抹布将雨水擦拭干净后开机，检查手机所有功能应正常。
7.2 静电测试7.2.1 静电测试测试条件：+/-6kV；+/-10kV测试目的：测试样机抗静电干扰性能样机数量： 8台试验方法：将样机设置为开机状态，检查样机内存和功能（内存10条短信息和10个电话号码；使用功能正常）。
将样机放于静电测试台的绝缘垫上，分两种状态：加充电器和不加充电器（样机与绝缘垫边缘距离至少2英寸）。
打开静电模拟器，调节放电方式，分别选择+/-6kV(接触放电)，+/-10kV（空气放电），对手机指定部位连续放电10次，并对地放电。
每做完一个部位的测试，检查手机功能，并观察手机在测试过程中有无死机，通信链路中断，LCD显示异常，自动关机及其他异常现象。
样机需在与8960/CMU200测试仪起或10086建立呼叫连接的状态与及其它信号联接（电视，收音），MP3播放状态下进行各个放电方式、级别和极性的测试。
检验标准：不作任何操作可自己恢复的软故障为可接受，不可恢复故障与及用户极容易查觉到的现象不可接受，详见《可靠性测试操作细则》。
备注：静电释放位置的确定要依据中试及PQE发布的测试点。
5.3 结构耐久测试样机标准数量：36试验周期： 3天测试目的：通过连续的施加各种测试条件，加速产品的失效，提前暴露潜在问题。
试验流程：结构耐久测试5.3.1 定向跌落试验测试条件： 6cm 厚水泥地板，2.4寸及以下LCD 跌落高度为1.2m ；2.6-2.8寸LCD 为1m ；3.0-3.4寸LCD 跌落高度为0.8m.3.5寸及以上屏跌0.5m.测试目的：跌落冲击试验 样机数量： 16台试验方法：：将手机处于开机状态进行跌落。
进行6个面的自由跌落实验，每个面的跌落次数为2次，每个面跌落之后进行外观、结构和功能检查。
对于翻盖手机，其中一半样品打开翻盖跌正面和背面(即跌8个面)；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置，跌正面和背面(即跌8个面)。
跌落结束后对外观、结构和功能进行检查。
检验标准：手机外观，结构和功能符合要求。
每跌完一个面进行拨号,应无掉网、关机等不良现象；拨打测试完成后，对每个手机进行快速检测包括活动部件，按键功能，显示功能，触摸屏功能及灵敏度，拍照功能，SPK ，听筒声音应无异常。
间隙张开，其它部件松脱后不借用其它工具用手可以复原的可接受，受力点有水泥沙大小的凹陷和掉涂层与及划伤可接受。