图1-3（a、b）所示的两种测量方法所得结果都是近 似的；
具体采用哪一种连接方式，取决于由被测电阻阻值所 决定的测量准确度。
造成的误差为：
rRx
R测Rx RV RV
(图 13， a)
rRx
RA Rx
(图13，b)
两种接法的误差计算
图(a)
R测=Rx=
分类一 低阻≤10Ω 中阻 10Ω~ 106Ω 高阻 ≥107Ω
分类二 超低阻 10-12Ω~ 10-7Ω 低阻 10-6Ω~ 10Ω 中阻 10Ω~ 106Ω 高阻 107Ω~ 1012Ω 超高阻 1013Ω~ 1019Ω
万用表
1.1 电阻与电阻率的概念
电阻的构成
1984。
参考资料2
国标、国军标以及美军标等标准； 论文； 多利用搜索引擎。
Ch1.1电阻值与电阻率的测量
1.1 电阻与电阻率的概念 电阻的概念
R，指直流电阻，即在 电子元器件或材料两端 施加一直流电压U与其 所通过的稳态电流I之比 值。
R U I
1.1 电阻与电阻率的概念 电阻的分类
中阻的测量
中阻的测量是电阻测量的基础。
包括：电流电压测量法、电桥测量法、补偿 测量法。
以电桥测量法为主。
电桥法最突出的优点是精度较高。
电流电压法测（伏安法）
工具：电压表和电流表
方法：测量施加在样品 上的直流电压U和通过 样品的稳态电流Ix。
Rx

U Ix
得到：样品的电阻Rx。
V Ix
r R x= R 测 R xR x= Ix I + V IV V IVIx V + IV R R 测 V R R V x
图(b)
V R测=I
Vx
VA I
R
x=
Vx I
rRx
= R测 Rx Rx
= RA Rx
具体的操作，可参见图1-4，
当R测＜√RVRA时，采用图13（a）；
《电子材料与元器件测试技术》
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内容简介
什么是电子材料？
电子材料是指在电子技术和微电子技术中使用的材料，包括介电材料、半导 体材料、压电与铁电材料、导电金属及其合金材料、磁性材料、光电子材料以及 其他相关材料。
什么是电子元器件？
电子元器件是元件和器件的总称。电子元件：指在工厂生产加工时不改变分子成 分 的成品。如电阻器、电容器、电感器。它对电压、电流无控制和变换作用， 所以又称无源器件。电子器件：指在工厂生产加工时改变了分子结构的成品。例 如晶体管、电子管、集成电路。对电压、电流有控制、变换作用，所以又称有源 器件。
测量必须研究的两个基本问题： 如何才能测量出来？（测试方法、测量设备） 如何才能测得准确？（测试技术）
参考资料1
教材： 李能贵，电子材料与元器件测试技术，上海科
学技术出版社 1987
参考书： 周东祥、潘晓光，电子材料与元器件测试技术，
华中理工大学出版社，1994； 李远等，压电与铁电材料的测量，科学出版社 ，
V
RV
A l
V

EV JV
表面电阻率
沿材料表面电流方向的 直流电场强度ES和单位 宽度通过的表面电流a 之比。符号是ρS 。
对于平板试样，可采用 刀形电极测量表面电阻 率。若不考虑体积电流 的影响，ρS如右所示。 其中b为电极宽度，h为 电极间距离。
S

ES a
S

RS
b h
表面电阻率和体积电阻率
电阻率的概念
单位长度上所承受的直 流电压（即直流电场强 度E）与单位面积所通 过的稳态电流（即电流 密度J）之比。符号为ρ.
E
J
体积电阻率
体积电阻率ρV是沿着体 积电流方向的直流电场 强度与稳态电流密度之 比。
对于平板试样。其中A 是电极面积（m2）；l 是电极间的距离，即试 样厚度（m）
采很用大图的1情-3况（。b）适应于Rx
分析
结论：内阻大的电压表和内阻小的电流表对 于高精度的测量是有益的。
现状：一般的电功仪表很难满足高精度的要 求。
解决：多采用运放来构成内阻很大的电压表 和内阻很小的电流表。
运放的特点
一个理想的运放满足以下条件：
1.2 电阻与电阻率的测量
低阻、中阻、高阻的例子
电阻器的阻值，几欧到几十兆欧，属于中阻； 绝缘介质材料的绝缘电阻，属于高阻； 电阻器的引线帽与电阻基体间的接触电阻，
电位器电刷与基体触点的接触电阻，很小， 小到百分之几欧或千分之几欧，属于低阻。
测量对象的多样性决定了测试方法的多样性。
中阻的测量
对绝缘材料而言， 表面电阻率是绝缘材料抵抗表面漏泄电流的能力. 体积电阻
率是绝缘材料抵抗体内漏泄电流的能力.
表面电阻率、体积电阻率越高, 漏泄电流越小, 材料的导电性 能越差.
体积电阻率可作为选择绝缘材料的一个参数（电阻率随温度 和湿度的变化而显著变化）。体积电阻率的测量常常用来检 查绝缘材料是否均匀，或者用来检测那些能影响材料质量而 又不能用其他方法检测到的导电杂质。
当R测＞√RVRA时，采用图13（b）；
当R测=√RVRA时，两种方式 所造成的误差相等，可任意 选择。
rRx
Rx R测......(图 13， a) RV RV
rRx
R测Rx RV RV
(图 13， a)
图1-3（a）适应于Rx很小 的情况；
rRx
RA Rx
(图13，b)
表面电阻率和体积电阻率
表面电阻率在很大程度上取决于材料的表面状态。当表面吸 附着半导体杂质和水分时，将明显地影响表面电阻率的大小。 它是一个有关材料表面污染特性（或程度）的参数。
因为体积电阻总是要被或多或少地包括到表面电阻的测试中 去，因此只能近似地测量表面电阻。通常都以体积电阻率作 为衡量材料电性能的参数之一。
因为流过待测样品 （DUT）的电流可分为 表面电流IS和体积电流 IV，所以DUT的电阻也
RS

U IS
可以分为表面电阻RS和
体积电阻RV.。
对于电子元器件，所测 得的电阻是总电阻。
RV

U IV
电阻率
为什么要引入电阻率？
电阻与材料的性能、尺寸大小和形状 有密切关系，阻值大小不能反映材料本身 的特性，所以引入电阻率的概念。