9
计算公式
13、Zu(Cap) :(规格上限SIGMA水平)
Zu(Cap) 3*Cpu USL -
产品均值μ
Zu(Cap)表示产品均值离 规格上限有多少倍标准差?
也表示为几个SIGMA
0.30 0.25 0.20 0.15 0.10 0.05 0.00
6.0 7.0 8.0 9.0 10.0 11.0 12.0 13.0 14.0 15.0 16.0 17.0
SPC统计过程控制
(SPC统计量介绍)
1
常用统计量
1. Mean:(平均值) 2. Max:(最大值) 3. Min:(最小值) 4. Range:(Max－ Min最大跨距) 5. StdDev标准差 6. Cp:(过程能力指数) 7. Cr:(过程能力比值 ) 8. k:(偏移系数 ) 9. Cpu:(上限过程能力指数 ) 10. Cpl:(下限过程能力指数 ) 11. Cpk:(过程能力指数 ) 12. Cpm:(目标能力指数) 13. Zu(Cap) :(规格上限SIGMA水平) 14. Zl(Cap) :(规格下限SIGMA水平) 15. Fpu(Cap): (超出规格上限机率)
T2
2
规格中心 M
产品均值μ
0.30
0.25
0.20
规格宽度
0.15
T
0.10
0.05
0.00 6.0 7.0 8.0 9.0 10.0 11.0 12.0 13.0 14.0 15.0 16.0 17.0
K越大说明产品均 值偏离中心值越远;
6
计算公式
9、Cpu:(上限过程能力指数 )
Cpu USL 3
Cr=(6*0.4)/(40.5-39.5)=2.4
5
计算公式
8、k:(偏移系数 )
评价产品检验结果偏离规格中心程度的质量指标!
例:产品规格为(40±0.5),产品均值为40.2,试计算K
K=(40.2-40))/((40.5-39.5)/2)=0.4
k M ,其中T USL LSL, M USL LSL
6、Cp:(过程能力指数)
Cp USL LSL 6
例:产品规格为(40±0.5),产品标准差为0.4,试计算CP CP=(40.5-39.5)/(6*0.4)=1/2.4=0.42
7、Cr:(过程能力比值 ) 例:产品规格为(40±0.5),产品标准差为0.4,试计算Cr
Cr 6 USL LSL
4、Range最大跨距 例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Range(2,4,6,4)=6-2=4
Range X max X min
4
பைடு நூலகம்
计算公式
5、StdDev标准差
例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求
StdDev
n
(xi Mean)2
i 1
n 1
StdDev (2 4)2 (4 4)2 (6 4)2 (4 4)2 1.63 4 1
0.30
0.25
0.20
规格上限
0.15
USL
0.10
0.05
0.00 6.0 7.0 8.0 9.0 10.0 11.0 12.0 13.0 14.0 15.0 16.0 17.0
所有检验数据形成一
个数据分布,而用
可以衡量数据分布离
散的大小; 越小分
布越好,数据越集中
8
计算公式
11、Cpk:(修正的过程能力指数 ) Cpk=Min（Cpl，Cpu）=Cp(1-k)
例:产品规格为(40±0.5),产品均值为40.2,产品标准差为 0.4试计算Cpu;
Cpu =(40.5-40.2))/(0.4*3)=0.3/1.2=0.25
※Cpu越大,产品检验数据超出上限的概率就越小,也就 是说产品超出上限的不合格品数量就越少;
规格下限 LSL
产品均值μ
0.30
0.25
0.20
3
计算公式
1、Mean均值
n
xi
Mean i1 n
2、Max最大值
Max X max
例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Mean=(2+4+6+4)/4=4 例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Max(2,4,6,4)=6
3、Min最小值
Min X min
例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求Min(2,4,6,4)=2
例:产品规格为(40±0.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpk; Cpk =Min(0.25,0.58)=0.25 或Cpk =0.42*(1-0.4)=0.25
12、Cpm:(目标能力指数)
Cpm USL LSL 6 2 ( T)2
例:产品规格为(40±0.5),目标值为40.2,产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpm; Cpm=1/2.4=0.42
Cpl LSL 3
例:产品规格为(40±0.5),产品均值为40.2,产品标准差为 0.4试计算Cpl;
Cpl =(40.2-39.5))/(0.4*3)=0.7/1.2=0.58
※Cpl越大,产品检验数据超出下限的概率就越小,也就
是说产品超出下限的不合格品数量就越少;
规格下限 LSL
产品均值μ
规格上限
0.15
USL
0.10
0.05
0.00 6.0 7.0 8.0 9.0 10.0 11.0 12.0 13.0 14.0 15.0 16.0 17.0
所个有数检 据验 分数 布据 ,而形用成一ˆ 可散以的衡 大量 小数 ; 据ˆ越分小布分离
布越好,数据越集中
7
计算公式
10、Cpl:(下限过程能力指数 )
2
常用统计量
16. Fpl(Cap):(超出规格下限机率) 17. Fp(Cap):(超出规格限的机率) 18. Pp:(过程性能指数 ) 19. Pr:(过程性能比值 ) 20. Ppu:(上限过程性能指数 ) 21. Ppl:(下限过程性能指数 ) 22. Ppk:(过程性能指数 ) 23. Ppm:(目标过程性能指数) 24. Zu(Perf):(规格上限SIGMA水平) 25. Zl(Perf):(规格上限SIGMA水平) 26. Fpu(Perf):(超出规格上限机率) 27. Fpl(Perf):(超出规格下限机率) 28. Fp(Perf): (超出规格界线的机率) 29. Skewness:(偏度) 30. Kurtosis:(峰度)