材料分析方法一、选择题1. 影响X射线衍射强度的因数，除了试样体积外，还有（）。

A．结构因数 B.洛伦兹因数 C.多重性因数 D.以上因数2. 特征X射线谱的波长取决于X射线管的（）。

A.管电压B.管电流C.靶材原子序数D.以上因素3. X射线衍射物相分析时，粉末粒度大小会引起衍射峰（）A．位移B宽化C强度降低D以上效应4.当入射X射线与物质中（）作用时，可能发生相干散射。

A．原子核 B.受核束缚较紧的电子C自由电子D以上情况5. 被样品中原子反弹到样品表面以外的一部分入射电子是（）A吸收电子B二次电子C背散射电子D以上三者6. 电磁透镜的像差是指（）A球差B像散C色差D以上三者7.分析钢中碳化物的化学成分时，应选用（）方法A能谱仪B波谱仪C电子衍射D以上三种方法8.透射电镜中第二相粒子的衬度来源主要有（）A应变场衬度B取向衬度C结构因子衬度D以上三种衬度9.分析界面附近的元素扩散，应选用电子探针的（）方法A点分析B线分析C面分析D以上三种方法10.透射电镜从成像操作转换为衍射操作方式时，应改变（）的激磁电流A物镜B中间镜C投影镜D以上三者11.随着X射线管（）增大，连续X射线谱强度增大。

A 管电压B 管电流C阳极靶原子序数 D 以上三者12．结构因子反映了单胞中（）对于（hkl）晶面衍射方向上衍射强度的影响A 原子种类B原子数C原子位置D以上三者13、X射线衍射仪工作时，样品与计数管的转动角速度比为（）A 1：1B 1：2C 2：1 D任意比14．X射线衍射仪物相定量分析的依据是（）A 衍射线位置B衍射线数目C衍射线强度 D 以上三者15. 分析材料中第二相晶体结构，应选用的分析方法（）A 能谱仪B 衍衬成像C 电子衍射D以上三种方法16. 消光距离是指在偏离参量s（）时，衍射束强度在样品深度方向上变化的周期距离。

A 等于0B 小于0C 大于0D 以上三种情况17. 利用扫描电镜进行断口形貌分析时，应选用（）信号成像A 二次电子B 背散射电子C 吸收电子D 以上三种信号18. 连续X射线谱短波限的波长取决于X射线管的（）A 管电压B 管电流C 阳极靶原子序数D 以上三者19. X射线穿过物质后要引起强度衰减，其主要原因是（）A 光电效应B 热效应C 散射D 以上三者20. 与光学玻璃透镜相比，电磁透镜的特点是（）A 变焦距B 焦距恒正C 景深和焦长大D 以上三者21. 与基体保持共格或者半共格的第二相粒子，导致界面附近基体晶格畸变产生的衬度是（）A 结构因子衬度B 应变衬度C 取向衬度D 以上三种情况22. 单晶体取向测定以及晶体对称性研究，应该采用X射线衍射分析的（）A 劳厄法B 粉末法C 周转晶体法D 以上三种方法23. 多晶体物相分析应选用（）A 扫描电镜B X射线衍射仪C 能谱仪D 以上三种仪器24. 需要精确测定点阵参数的研究工作有（）A 固相溶解度曲线测定B 宏观应力定C 固溶体类型确定D 以上三种25. 为了提高点阵参数的测定精度，应该选用高角度衍射线并精确测定θ角，此外需采用（）减小或者消除误差。

A 图解外推法B 最小二乘法C 标准样校正法D 以上三种方法26. 测量复杂形状工件的表面残余应力（特别是测量转角处的切向应力）时，应选用（）A 同倾法中的固定θ法B 同倾法中的固定θ0法C 侧倾法D 以上三种方法27. 观察位错或者层错等晶体缺陷时，应该选用的成像方法是（）A 二次电子成像B 背散射电子成像C 透射电镜衍射成像D 以上三种方法二、填空题1. 由布拉格方程可知，只有晶面间距d（）X射线半波长的那些干涉面才能产生衍射，采用短波长X射线照射，参与衍射的干涉面将会（）。

2. 由于光电效应而处于激发态的原子释放能量的方式有，（）继而（）。

3. X射线衍射物相分析的依据是衍射峰的（），相含量测定的依据是衍射峰的（）。

4. 第一类内应力的衍射效应使衍射线（），第三类内应力使衍射（）。

5. 称单胞中原子种类，原子数目及原子位置对（HKL）晶面衍射方向上衍射强度影响因数为（），称某种晶面的等同晶面数为影响衍射强度的（）。

6. 决定电磁透镜分辨率的因素为（）和（）。

7. 二次电子像主要提供（）衬度，背散射电子像主要提供（）衬度。

8. 透射电镜在成像操作方式下，中间镜物平面与（）重合；在衍射操作方式下，中间镜物平面与物镜（）重合。

9. 与波谱仪相比，能谱仪的能量分辨率（），元素的分析范围（）。

10. 扫描电镜进行断口分析时，利用（）信号成像；电子探针进行微区成分分析时，利用（）信号。

11. 随着X射线管电压的提高，连续X射线谱的短波限（），各波长X射线的强度（）。

12. X射线的真吸收消耗于（）和（）。

13. X射线质量吸收系数μm决定于物质的（）和X射线的（）14. 劳厄法采用（）X射线照射，周转晶体法采用（）X射线照射。

15. 正、倒点阵同名基矢点乘（），异名基矢点乘为（）16. 透射束通过物镜光阑成像为（），衍射束通过物镜光阑成像为（）17. 对应原子序数大的样品区域，背散射电子像（），而吸收电子像（）18. 按照分光晶体的运动方式，波谱仪可分为（）和（）19. X射线衍射仪工作时，样品与计数管的转动角速度比为（）20. 同倾法测定宏观应力的衍射几何特点是测量方向平面与扫描平面（）22. 侧倾法测定宏观应力的衍射几何特点是测量方向平面与扫面平面（）23. 透射电镜的选区光阑应该放在物镜的（）上24. 扫描电镜的末级透镜习惯上称为物镜，其作用是使电子束（）25. 直进式波谱仪工作时，分光晶体沿着直线运动保持检测X射线的（）不变26. 波谱仪要求聚焦样品，使分析点，分光晶体表面的检测器位于（）27. X射线衍射分析的粉末法采用单色X射线照射（）28. 因X射线衍射仪测角仪其独特的衍射几何决定，只有（）试样表面的某种（HKL）才有可能获得衍射29. 透射电子显微镜在成像模式下，（）的物平面与物镜的背焦面重合30. 透射电子显微镜中用于选区电子衍射的选区光阑安放在物镜的（）上三、判断题1. 对于给定的物质，质量吸收系数μ随X射线波长变化有突然升高现象（），这是有光电效应引起的（）。

2．X射线穿过物质后强度衰减，主要是由于真吸收消耗于光电效应（），还有热效应（）。

3. 测定单晶取向的结构可分别采用劳厄法和周转晶体法，前者使用的光源为单色X射线（），而后者使用的光源连续X射线（）。

4. 元素的X射线吸收谱可作为选择滤光片材料的依据（），这种材料的K吸收限在光源λkα和λkβ之间，即λkα<λk<λkβ（）。

5. 面心立方晶体中（111）和（200）晶面同属于【011】晶带（），而{001}和{101}晶向所在的晶面为（020）（）。

6. 电磁透镜的焦距横正（），是一种可变焦距或可变倍率的会聚透镜（）。

7. 透射电镜的物镜光栏和选区光栏分别在安放在物镜的背焦面（）和像平面上（）。

8. 要满足衍衬运动学理论，需采用极薄的样品（）和大的偏离参量（）成像。

9. 能谱仪的分析速度快（），因此稳定性和重复性较差（）。

10. 倒易矢量g(hkl)平行于正点阵中的（hkl）晶面（），其大小等于（hkl）晶面间距的倒数（）。

11. 特征X射线波长取决与阳极靶原子序数（），也取决与管电压（）12. 对于一定吸收体，X射线波长越短穿透能力越强（），质量吸收系数μm随波长减小连续变化（）13. 布拉格定律显示只有晶面间距小于X射线半波长的干涉面才能参与衍射（），采用短波长X射线照射时，能参与衍射的干涉面将会增多（）14. 某种粉末物质X射线衍射的数目和位置是这种物质的特征（），而衍射线强度与物质特征无关（）15. 电磁透镜的焦距可正可负（），且方法倍率可变（）16. 透射电镜中电子衍射的衍射角很小（），略偏离布拉格条件的晶面也能发生衍射（）17. 单晶体衍射花样由规则排列的斑点组成（），可同时提供晶体结构和晶体取向的信息（）18. 二次电子像只有表面形貌衬度（），背散射电子像也只有表面形貌衬度（）19. 能谱仪比波谱仪元素分析范围大（），比波谱仪能量分辨率高（）20. 特征谱的强度随着X射线管管电压和管电流增大而增大（）与阳极靶原子序数无关（）21. 第一类内应力的衍射效应使得衍射强度降低（），第三类内应力则引起衍射线位移（）22. 电磁透镜的分辨率主要取决于球面像差（）和衍射效应（）23. 选择透射束通过物镜光阑成像成为明场像（）衍射束强度较高的晶粒在明场像中具有较凉的衬度（）24. 二次电子产额对于样品表面形貌十分敏感（）和样品原子序数之间有对应关系（）25. 随着X射线管电压增大，特征X射线短波限减小（）强度增大（）26. 物质对于X射线的散射可以认为只是电子的散射（）相干散射波只占入射能量的极小部分（）27. 劳厄法采用连续X射线照射不动的单晶体（），周转晶体法采用单色X射线照射转动的单晶体（）。

28. 第一类内应力的衍射效应使得衍射强度位移（），第三类内应力则引起衍射线强度降低（）29. 改变电磁透镜的激磁电流，放大倍率随之发生变化（）焦距的正负可改变（）30.衍衬运动学理论告诉我们，衍射束强度在样品深度方向发生周期变化（）变化的周期为消光距离ξg（）31. 背散射电子像能提供原子序数衬度（）样品平均原子序数越小对应的图像越暗（）32. 与波谱仪相比能谱仪的分析速度快（）能量分辨率较高（）。