当前位置:文档之家› 仪器分析第三章发射光谱

仪器分析第三章发射光谱

仪器分析第三章发射光谱
原子发射线的表示
以Na的发射线为例 NaⅠ Na原子激发电位 5895.923A NaⅡ Na原子一次电离后的激发电位 2802.700A 其中Ⅰ:原子发射的谱线
Ⅱ:一次电离离子发射的谱线 Ⅲ:二次电离离子发射的谱线 其他依次类推
仪器分析第三章发射光谱
3、发射谱线的强度
设i、j两能级之间的跃迁所产生的谱线强 度Iij表示,则
电离电位:使原子电离所需的最低能量 (离子)激发电位:离子中的外层电子被
激发所需的能量
仪器分析第三章发射光谱
2、发射线的波长
X+h(电,热)X* X*X+h(光能)
X:基态原子,X* :激发态原子
E=E2-E1=h=hc/=h、发射线的波长
原子的外层电子由高能级向低能级 跃迁,能量以电磁辐射的形式发射出去, 这样就得到发射光谱,原子发射光谱是 线状光谱。 定性分析依据:发射线的波长
a b
仪器分析第三章发射光谱
a
b
自吸和自蚀
弧焰中心a的温度最高,边缘b的温度较低。由 弧焰中心发射出来的辐射光,必须通过整个弧焰 才能射出,由于弧层边缘的温度较低,因而这里 处于基态的同类原子较多。这些低能态的同类原 子能吸收高能态原子发射出来的光而产生吸收光 谱。
原子在高温时被激发,发射某一波长的谱线, 而处于低温状态的同类原子又能吸收这一波长 的辐射,这种现象称为自吸现象。
原子光谱中每一条谱线的产生各有 其相应的激发电位。由激发态向基态 跃迁所发射的谱线称为共振线。共振 线具有最小的激发电位,因此最容易 被激发,为该元素最强的谱线。
仪器分析第三章发射光谱
当外界的能量足够大时,可 把原子中的电子激发至无穷远处, 也即脱离原子核的束缚,使原子 发生电离成为离子的过程,使原 子电离所需的最低能量叫电离电 位。离子也可能被激发,离子中 的外层电子被激发所需的能量叫 (离子)激发电位。
4、原子发射光谱图
元素标准光谱图
仪器分析第三章发射光谱
仪器分析第三章发射光谱
5、谱线的自吸和自蚀
自吸和自蚀
影响自吸和自蚀的因素 谱线的固有强度 弧层厚度 溶液浓度
仪器分析第三章发射光谱
自吸和自蚀
发射光谱是通过物质的蒸发、激发、 迁移和射出弧层而得到的。在一般光 源中,是在弧焰中产生的,弧焰具有 一定的厚度,如下图:
仪器分析第三章发射光谱
一般情况下,原子处于基态, 在激发光源作用下,原子获得能 量,外层电子从基态跃迁到较高 能态变为激发态 ,约经10-8 s, 外层电子就从高能级向较低能级 或基态跃迁,多余的能量的发射 可得到一条光谱线。
仪器分析第三章发射光谱
原子中某一外层电子由基态激发 到高能级所需要的能量称为(原子) 激发电位。
Iij = NiAijhij A数ij,为Ni、ii为j为j两单发能位射级体谱间积线的内的跃处频迁于率几高。率能,级hi的为原普子朗数克,常
仪器分析第三章发射光谱
3、发射谱线的强度 Ni = N0 gj/g0e (-Ei / kT)
的的计数原原权,子子T重式为数数,中激,,EN发i为i Ng为温i激,0为单度发g单位0。为电位体激位体积发,积内态k内处为和处于玻基于激兹态基发曼的态态常统
仪器分析第三章发射光谱
Iij = NiAijhij
影响谱线强度的因素: Ni = N0 gj/g0e (-E / kT) 统计权重
谱线强度与激发态和基态的统计 权重之比成正比。 跃迁几率
谱线强度与跃迁几率成正比。跃 迁几率是一个原子在单位时间内两 个能级之间跃迁的几率,可通过实 验数据计算。
仪器分析第三章发射光谱
第三章 原子发射光谱法
Atomic Emission Spectrometry,AES
仪器分析第三章发射光谱
特点: 优点——灵敏度高、简便快速、可靠性高、
所需原料少 缺点——不能分析有机物及大部分非金属元素,
仪器设备复杂、昂贵。
应用:矿石、金属、合金、半导体等试样中的杂质 分析。
仪器分析第三章发射光谱
影响谱线强度的因素:
激发温度 温度升高,谱线强度增大。但温度升高,
电离的原子数目也会增多,而相应的原子数减 少,致使原子谱线强度减弱,离子的谱线强度 增大。 基态原子数
谱线强度与基态原子数成正比。在一定的 条件下,基态原子数与试样中该元素浓度成正 比。因此,在一定的条件下谱线强度与被测元 素浓度成正比,这是光谱定量分析的依据。
影响谱线强度的因素:
Iij = NiAijhij= N0 gj/g0e (-E / kT)NiAijhij
激发电位和电离电位 谱线强度与激发电位成负指数关
系。在温度一定时,激发电位越高, 处于该能量状态的原子数越少,谱 线强度越小。激发电位最低的共振 线通常是强度最大的线。
仪器分析第三章发射光谱
仪器分析第三章发射光谱
发射线的强度
Iij = NiAijhij
Aij:i、j两能级间的跃迁几率, ij:发射谱线的频率。
试样浓度C Iij正比于Ni。在一定的条件下, C ,Iij 。
激发电位和电离电位Ej
在T一定时, E ,Ni , Iij 振线通常是强度最大的线。
。激发电位最低的共
激发温度T
T , Iij 。但温度升高,原子电离增多,原子数减少, 使原子谱线强度减弱,离子的谱线强度增大。
一、原子发射光谱分析的基本原理
发射光谱的分析过程 发射线的波长 发射谱线的强度 原子发射光谱图 谱线的自吸和自蚀
仪器分析第三章发射光谱
1、发射光谱的分析过程
激发态原子
外 层 电 子 跃
基态原迁子
热或电
光电法 摄谱法
光电倍增管 感光板
原子化
气态分子
化气
样品分子
仪器分析第三章发射光谱
原子发射光谱示意图
仪器分析第三章发射光谱
仪器分析第三章发射光谱
基态:原子所处的最稳定状态,此时它 的能量最低
激发态:原子获得足够的能量后,外层 电子从低能级跃迁到高能级后所处的状 态
(原子)激发电位:Ej,将原子中的一个 外层电子从基态跃迁到激发态所需的能
量,单位 ev
仪器分析第三章发射光谱
电离:当外界的能量足够大时,可把原 子中的电子激发至无穷远处,也即脱离 原子核的束缚,使原子发生电离成为带 正电的离子的过程
相关主题