SJ 2215.8-82
半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法
SJ 2215.9-82
半导体光耦合器（三极管）反向截止电流的测试方法
SJ 2215.10-82
半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法
SJ 2215.11-82
半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法
SJ 2215.12-82
SJ 2109-82
CKM-29B、CKM-29C、CKM-29D、CKM-29E、CKM-29F、CKM-29G型脉冲磁控管
SJ 2112-82
厅堂扩声系统设备互联的优选电气配接值
SJ 2124-82
弹性管联轴节
SJ 2125-82
十字滑块联轴节
SJ 2126-82
波纹管联轴节
SJ 2127-82
SJ 2232-82
厚膜、薄膜集成电路金属外壳技术条件
SJ 2231-82
厚膜、薄膜集成电路直流稳压电源系列和品种
SJ 2240-82
空气介质片型微调电容器总技术条件
SJ 2240.1-82
ＣＷ１和ＣＷ１Ｓ型空气介质片型微调电容器
SJ 2240.2-82
ＣＷ２和ＣＷ２Ｓ型空气介质片型微调电容器
SJ 2240.3-82
电子行业标准
SJ 2089-82
电子测量仪器型号命名方法
SJ/Z 2091-82
信息处理交换用七位编码字符集键盘的常用控制键、功能键的排列和接口
SJ 2092-82
ＣＳ３５型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2093-82
ＣＳ３６型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2094-82
SJ 1479-79
３ＣＧ１２２型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1480-79
SJ 1469-79
３ＣＧ１０１型ＰＮＰ硅平面高频小功率三极管
SJ 1470-79
３ＣＧ１０２型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1471-79
３ＣＧ１０３型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1472-79
３ＣＧ１１０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1473-79
３ＣＧ１１１型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
SJ 2099-82
ＣＳ４２型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2100-82
ＣＳ４３型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2101-82
ＣＳ４４型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2102-82
ＣＳ４５型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2103-82
ＣＳ４６型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
ＣＷＴ７Ｌ型同心型微调电容器
SJ 2241.6-82
ＣＷＴ８Ｚ型同心型微调电容器
SJ 2241.7-82
ＣＷＴ９Ｊ型同心型微调电容器
SJ 2242-82
散热器强制风冷热阻测试方法
SJ 2244-82
ＲＸ－５４型微波气体放电管
SJ 2245-82
ＲＸ－７型微波气体放电管
SJ 2246-82
ＲＸ２０２、ＲＸ２０３型微波气体放电管
SJ 1383-78
ＦＵ－１０４Ｚ型电子管
SJ 1385-78
噪声二极管和气体放电噪声管总技术条件
SJ 1386-78
噪声二极管和气体放电噪声管测试条件
SJ 1387-78
噪声二极管灯丝电流和灯丝电压的测试方法
SJ 1388-78
噪声二极管阳极电导的测试方法
SJ 1389-78
噪声二极管极间漏电流的测试方法
ＣＳ３７型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2095-82
ＣＳ３８型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2096-82
ＣＳ３９型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2097-82
ＣＳ４０型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 2098-82
ＣＳ４１型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管
SJ 1408-78
３ＤＡ１０１型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
SJ 1409-78
３ＤＡ３型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
SJ 1410-78
３ＤＡ９８型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
SJ 1411-78
３ＤＡ５型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
SJ 1412-78
３ＤＡ１４型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
SJ 1413-78
３ＤＡ２型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
SJ 2195-82
ＣＤＬ－１００／Ｌ型Ｃ型铁芯滤波阻流圈（电感输入式）
SJ 试方法
SJ 2197-82
地面用标准硅太阳电池的标定
SJ 2199-82
电声器件名词术语
SJ 2206-82
Ｋ－２１系列反射速调管
SJ 2214.1-82
半导体光敏管测试方法总则
SJ 2214.2-82
３ＤＡ８９型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
SJ 1431-78
３ＤＡ３９型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
SJ 1436-78
ＣＫＭ－１０４型脉冲磁控管
SJ 1437-78
ＣＫＭ－１０４Ｂ型脉冲磁控管
SJ 1438-78
ＣＫＭ－１１４型脉冲磁控管
SJ 1439-78
ＣＫＭ－１１４Ｂ型脉冲磁控管
SJ 1457-79
薄膜联轴节
SJ 2130-82
电子束管屏内刻度
SJ 2131-82
洁净工作台通用技术条件
SJ 2133-82
氧化物阴极加速寿命试验方法
SJ 2137-82
硅稳流二极管测试方法总则
SJ 2138-82
硅稳流二极管稳定电流的测试方法
SJ 2139-82
硅稳流二极管动态阻抗的测试方法
SJ 2140-82
硅稳流二极管极限电压的测试方法
ＣＷ５和ＣＷ５Ｓ型空气介质片型微调电容器
SJ 2241-82
同心型微调电容器总技术条件
SJ 2241.1-82
ＣＷＴ２型同心型微调电容器
SJ 2241.2-82
ＣＷＴ４Ｙ型同心型微调电容器
SJ 2241.3-82
ＣＷＴ５Ｙ型同心型微调电容器
SJ 2241.4-82
ＣＷＴ６型同心型微调电容器
SJ 2241.5-82
SJ 1474-79
３ＣＧ１１２型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1475-79
３ＣＧ１１３型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1476-79
３ＣＧ１１４型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1477-79
３ＣＧ１２０型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
SJ 1478-79
３ＣＧ１２１型ＰＮＰ硅外延平面高频小功率三极管
SJ 2247-82
半导体光电子器件外形尺寸
SJ 2253-82
阴极碳酸盐颗粒度的测定方法
SJ 2254-82
阴极碳酸盐分析方法的一般要求（暂行）
SJ 1286-77
ＦＵ－１０５Ｚ型电子管
SJ 1287-77
ＦＵ－１０１Ｆ（Ｚ）型电子管
SJ 1381-78
实验二极管结构与工艺
SJ 1382-78
ＦＵ－８２２Ｚ（Ｆ）型电子管
SJ 2141-82
硅稳流二极管击穿电压的测试方法
SJ 2142-82
硅稳流二极管电流温度系数的测试方法
SJ 2148-82
硅稳流三极管动态阻抗的测试方法
SJ 2152-82
烧结含油轴承
SJ 2154-82
薄膜集成电路用微晶玻璃基片
SJ/Z 2165-82
单相Ｃ型铁芯电源变压器和滤波阻流圈典型计算
SJ 2168-82
３ＤＡ１８型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
SJ 1420-78
３ＤＡ１０４型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
SJ 1421-78
３ＤＡ２２型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
SJ 1422-78
３ＤＡ３７型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
SJ 1423-78
３ＤＡ３２型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
SJ 1424-78
３ＤＡ１０５型ＮＰＮ硅高频大功率三极管
SJ 2215.3-82
半导体光耦合器（二极管）正向电流的测试方法
SJ 2215.4-82
半导体光耦合器（二极管）反向电流的测试方法
SJ 2215.5-82
半导体光耦合器（二极管）反向击穿电压的测试方法
SJ 2215.6-82
半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法
SJ 2215.7-82
半导体光耦合器集电极－发射极反向击穿电压的测试方法
半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法
SJ 2215.13-82
半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法
SJ 2215.14-82
半导体光耦合器入出间绝缘耐压的测试方法
SJ 2216-82
硅光敏二极管
SJ 2217-82
硅光敏三极管
SJ 2218-82
半导体光敏二极管型光耦合器
SJ 2219-82
半导体光敏三极管型光耦合器
SJ 1390-78
噪声二极管超噪功率非线性系数的测试方法
SJ 1391-78
噪声二极管冷态电压驻波系数的测试方法
SJ 1392-78
噪声二极管超噪功率的测试方法
SJ 1393-78
气体放电噪声管阴极预热时间的测试方法
SJ 1394-78
气体放电噪声管着火电压的测试方法
SJ 1395-78
气体放电噪声管阳极电流和管压降的测试方法
SJ 1414-78
３ＤＡ１０２型ＮＰＮ硅高频大功率三极管