測量十次,計算平均值,得到基准值Xr. 2)再讓評价人用待評价設備測量基准件至
少十次以上,得到平均值Xbar. 3)偏倚 Bias＝Xbar－Xr 4)偏倚% Bias%＝[Bias/過程變差]*100%
测量系统分析MSA(1)
穩定性(Stability) 是測量系統在某持續時 間內測量同一基准或零 件的單一特性時獲得的 測量值總變差
精度 • 統計特性可能隨待測項目的變化而變化
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測量系統 •統計控制示意
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測量系統 •分辨率要求:
•識別產品的好坏 •識別制程的變異,不斷改善 •是過程變異的十分之一
•考慮一個產品,其規格為10±0.5, 而產品測 量使用直尺, 其讀數為10,10,10,…..,這樣的 測量系統有問題嗎?
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線性 y=b+ax x---基准值 y---Bias a---斜率 a={Sum(xy)-Sum(x)*Sum(y)/n}/{Sum(x2)-
[Sum(x)]2/n} b=Sum(y/n)-a*Sum(x/n)
線性=斜率*過程變差 擬合优度R2={Sum(xy)-Sum(x)Sum(y)/n}2
-原理:每個評价者測量同一物品的差距即再 生性 實際上是人的操作的變异引起 -用多個人多個產品統計平均值最大差距代表 -考慮消除再現性影響 AV={[(Xbar)DIFF*K2]2-[EV2/nr]}1/2 (K2是常數)
R&R均值和极差法(Average & Range法) 再現性(Repeatability)
-原理:評价者多次測量同一物品的差距即再 現性 實際上是設備的變异引起 -用多個人多個產品統計平均值代表性更高
EV=(Rbar)bar*K1 (K1是常數)
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R&R均值和极差法(Average & Range法) 再生性(Reproducibility)
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穩定性 1)選擇基准件(1-3件) 2)定時(每天/星期)測量基准件(3/5次) 3)根据測量數据制定Xbar-R圖 4)觀察數据是否處于統計制程控制 5)計算標准偏差 Sigma=Rbar/d2 6)將標准偏差与過程變化標准偏差比較.
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線性(Linearity) 是在量具預期的工作 范圍內,偏倚值的差值.
/{[Sum(x2)-Sum(x)2/n]*[Sum(y2)-Sum(y)2/n]}
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再現性(Repeatability) 是由一個評价人, 采用一 种測量儀器, 多次測量同 一零件的同一特性時獲得 的測量值變差
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再生性(Reproducibility) 是由不同的評价人, 采用 相同的測量儀器, 測量同 一零件的同一特性時測 量平均值的變差
(見學員教材 P.25)
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R&R均值和极差法(Average & Range 法)
1)采用多個評价者測量數個零件(一般5個零 件以上)
2)讓評价者多次測量每個零件(不知編號), 記錄結果.
3)對數据進行再生性和再現性分析.
(見學員教材 P.26 - 43)
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测量系统分析MSA(1)
2020/11/25
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測量
以确定量值為目的的一組操作.
•那些用預設的標准比較實物有多少單位的過程. •測量結果由一個數位和一個標準的測量單位構成。 •測量結果是測量過程的輸出。
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測量數據的品質
測量數據的品質與在穩定的作業狀況下，由一個 測量系統獲得的多個測量值的統計特性有關。
• 參考值（Reference Value）— 一個作為比較參 考的被認同的值
• 如果某一特性的測量值[接近]它的標準值，則稱 此一數據的品質為[高]。
• 如果某一特的測量值[遠離]它的標準值，則稱 此一數據品質為[低]。
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測量系統
用來對被測特性賦值的操作、程序、量具、設備、 軟件以及操作人員的集合; 用來獲得測量結果的整 個過程. 簡單說來,就是与測量有關的一組相關的資源,活動 和影響.
一般的(ISO9000)要求是:分辨率需達到公差帶 的十分之一到三分之一.
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測量數据
准确:數據的中心与 標准值相近.
好的測量數据: 零偏倚 零錯誤分類率
精确:數据的變差小, 集中于某點附近.
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測量系統 •應有特性:
• 處于統計控制中 • 系統的變异比待測物的變异小 • 系統的變异比待測物的公差小 • 系統精度(分辨率)高于待測物變异或公差
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線性 1)選擇處于測量系統工作范圍的部分零件,
例如5~10件 2)利用高准确度設備測量其基准值Xir. 3)評价人使用待評价設備對每個零件測量
12次(隨机抽取),得出零件平均值Xibar 4)計算每個測量點的偏倚
Biasi=Xibar-Xir 5)劃出Xir-Xibar線性相關圖,計算線性斜率
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測量在質量管理体系中的地位
顧要 客求
持續改善質量管理體系
資源管理
輸入
管理職責 實現產品
量度、分析、 改進
輸出
產品
滿顧 意客
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測量在質量管理体系中的地位
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制程控制
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測量數据 分辨率: 測量系統檢出並如實指示被測特性 中最小變化的能力
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R&R极差法(Range法)
1)采用兩個評价者測量數個零件(一般5個零 件以上),得到Xa, Xb
2)計算每個零件的測量极差Ri=Xa-Xb 3)計算平均极差Rbar=Sum(Ri)/n 4)計算測量變差GR&R=5.15*Rbar/d2 5)計算 %GR&R=[GR&R/過程變差]*100%
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測量系統變異類型 与位置有關:
偏倚 穩定性 線性 与寬度有關: 再現性 再生性
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偏倚(Bias) 是測量結果的觀測平 均值与基准值的差值
(基准是采用更高級別的 檢測設備得到的一致認 可的數据)
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偏倚 1)首先用較高准确度的設備對基准件進行