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X荧光光谱仪建立分析方法的过程

Axios建立分析方法的过程
1.标准样品的选择和准备
采用自制内控标样建立工作曲线,数量不少于10个,且有一定的浓度梯度,可人工配制一些,再从生产线上自然取得一些。

2.样品制备程序
*取样人员应将分析试样研磨至120目以上。

*准确称量10克样品和0.5克甲基纤维素。

*将称好的样品和粘结剂倒入WC料钵中,再加入3滴三乙醇胺,于振动磨上混合180秒。

*压片条件:压力25吨;保压时间30秒。

3.汇编测量条件
*启动,输入用户名和口令。

*单击Application,再选择New Application弹出New Application对话框。

*为新的应用起一个名字,例如Clinker。

*单击,添加一个通道设置,建议此名称与应用名一致,例如仍为Clinker。

*单击OK,打开汇编条件窗口,例如。

*单击标签,做一个样品制备描述。

*单击标签,定义样品识别方案,一般选择发free。

*单击标签,定义Airlock抽真空时间(一般选择8秒)和延迟时间(一般选择0秒),
将前的对勾去掉。

*单击标签,定义样品类型(Pressed Powder)和样品杯(Steel 32mm)。

输入样
品重量(10g), 单击,从化合物表中添加粘结剂名称,在Weight(g)单元格中输入粘结剂的的重量(0.5g),按回车键。

*单击标签,再单击按钮打开Add compound对话框,添加要分析的化合物名称。

*单击标签,将所有通道的kV和mA修改为50/48。

*找一个标准样品来检查角度和PHD。

*整行选中一个通道,单击,去掉前的对勾,再单击Measure。

待扫描结束后,确定峰和背景的2 角,以及峰和背景的的测量时间,搜索干扰谱线。

确定测量时间通常有三种途径:
①输入样品中该元素的浓度,给定分析精度,加锁,然后计算其他未加锁的参数。

②对于微量成分给定LLD,加锁,然后计算其他未加锁的参数。

③根据你的经验直接给定测量时间,加锁,然后计算其他未加锁的参数。

加锁的参数在测量过程中是不变化的,未加锁的参数由智能化软件根据试样的浓度自动调整。

*单击,去掉前的对勾,再单击Measure。

待扫描结束后,确定LL和UL,要注意逃逸锋、高次荧光及晶体荧光的甄别。

4. 单击,打开Open standards for application对话框。

*选择应用名(例如Clinker),单击OK。

*单击,输入标样名称,点击Add,待输入最后一个标样名后点OK。

*在电子表格中输入元素浓度。

*单击保存退出。

5.启动,
*单击,打开测量样品窗口。

*单击,在窗口的左半部选择Application名,在右半部选择标样名,点开始测量。

*依此将所有的标样测量完毕。

6.启动,单击,打开Open calibration for application对话框。

选择Application 名称,点OK,打开回归窗口。

*单击窗口上半部左上角的全选按钮,选中所有的化合物,点,计算回归曲线系数。

*依此选中各个通道,点击观察回归图。

*若回归曲线的RMS不能满足分析要求,可做基体修正。

*对于水泥用户,建议采用经验系数法做基体修正。

*若需作基体修正,点击打开Add model coefficient(s)对话框。

*在一栏,选择影响元素,在或一栏中选择干扰元素。

*点OK。

*点计算影响系数。

*待所有元素的回归精度都满足要求后,点保存退出。

典型的Alpha系数是:
-1<Alpha<9 对于钢铁,铜合金等。

-1<Alpha<40 对于氧化物。

-1<Alpha<250 对于塑胶,纤维素。

光谱重叠系数是:
0<LO(c)<1
古典模型:
如果校正标样与未知样品非常相似,古典模型不仅能给出非常好的精度,而且能将其他误差
减至最小,例如:
∙基体修正因子中的近似值
∙样品制备误差
∙样品厚度,如果试样对某些元素不是无限厚,但标样和试样总是相同的
FP基体修正模型在下述情况下使用:
1.标样数量少
2.标样与试样基体不相似
FP模型有以下好处:
∙该模型本质上允许无标样分析,利用2-3个标样即可建立校正
∙采用FP模型,不要求标样必须与未知样品有相似的基体
∙容许通过外推得到含量
7.建立Instrument Monitor
*在XRF system set-up窗口中单击Monitor菜单,选择New instrument monitor,打开New instrument monitor对话框。

*在New instrument monitor字段中输入仪器监控名(与Application同名),例如Clinker,点击Channelset下拉框,选择应用所对应的Channelset名。

*点OK确定。

*点标签,再单击,在对话框中选择Application名,点OK确定。

*点标签,再单击按钮。

添加一个或两个监控样(一定是均匀的、稳定的且有一定浓度值的样品)。

*点保存退出。

*点Application菜单,选择Open application,打开该应用。

在Channel标签下的Monitor栏打开监控开关。

Monitor用于校正仪器漂移,可采用一点或两点校正。

8.测量Instrument monitor
*启动,单击,选择Sample下的。

*在窗口的左半部选择Instrument monitor(s)名,在右半部选择Instrument monitor sample(s)名。

*单击开始测量。

9. 建立一个Daily Monitor Sample(日常检查样)
找一个标准样品做日常检查样,其荧光分析值与化学值应吻合得较好。

10.考核分析精度
总的分析误差应包括:
a.样品作成再现性误差
b.检量线作成误差
c.仪器不稳定性误差
d.仪器重调误差
e.计数统计误差
测量仪器分析精度时,应测量动态精度,而且样品要重新制备,若测量精密度满足生产需要,则该方法可投入使用。

11
.启动,分析未知样品
12.日常精度管理
每月随机抽取一定数量的样品,用化学方法或其它不同原理的仪器进行核对。

Magix日常分析过程
1.数据库维护
2.输出系统文件
3.输出Application
4.输出Standards
5.拷贝结果数据库文件(.rdb文件)5.Backup SuperQ database
制作数据CD
影响元素的选择
目前常用α和γ进行基体修正。

α
用于校正吸收/增强效应。

Alpha 因子可通过理论Alpha 计算获得,也可通
过经验Alpha 计算获得。

Typical concentration 为用于回归的标样的平均浓度。

元素周期表
理论Alpha 采用基本参数法计算。

经验Alpha 采用标样回归得到,这需要大量的标样,计算一个经验修正系数至少需要三个标样,
典型的Alpha 系数是:
-1<Alpha<9 对于钢铁,铜合金等。

-1<Alpha<40 对于氧化物。

-1<Alpha<250 对于塑胶,纤维素。

β 用于校正增强效应。

在RH 校正模型中,Beta 修正因子用于校正增强效应。

Beta 修正会给出与Alpha 修正相似的效果。

γ
用于校正高次荧光效应。

PH 模型:
式中:C 是浓度或计数率;n 是待分析元素数;α,β,δ,γ是用于基体校正的因子;i 是待测元素;j,k 是干扰元素。

该式的特点有:
1)在PH 模型中,α系数可用de Jongh 理论影响系数法计算,也可用经验方法计算。

β、δ、γ为经验系数,根据标 样的浓度和强度通过数学上解方程求的。

2)理论α系数的计算可用基本参数法根据标样各待测元素的平均含量求得。

3)PH 模型将理论影响系数和经验系数相结合,强度校正和浓度校正相结合,为使用者提供方便,可
获得质量更好的校正曲线。

这样做不仅可以校正元素间相互影响,还可以对粉末压片法中对矿物效
应和颗粒度效应进行部分校正。

∑∑∑∑====++++=+n j n k k j k j i n
j i ij j ij j n j ij i C C C C C M 11,,11111γδβα。

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