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1）抗扰度波形检验
2）暂态波形测量
其中 CAR-TESTER 用于产生# 1, 2a , 3a , 3b 波形
PS 30-10 用于产生+12V , +24V 电源及 2b 波形
PG2800
用于产生#5a 波形,其用 5b 波形由特殊电路实现
北京市海淀区翠微路甲 10 号建筑大厦 607 电话:+10 6825 1425 6825 5405 6825 5406 网址：
半电波暗室 80M-1000M 任 选 一 种 组 合 覆 盖
ISO11452-3
TEM 小室 1-400M
1M-1000MHz, 本 方 案 中
ISO11452-4
BCI1-1000M
采用 BCI 配合半电波暗
ISO11452-5
带状线 1-400M
室
TL82366 ISO11452-4 传感器电缆与控制电 1M-400M
最好采用半电波暗
络 TEM 小室整车电波 150kHz-200MHz
室,TEM 小室上限频率只
暗室
70kHz-2500MHz
有 200MHz
TL82066 ISO7637-2
传导暂态干扰测量暂
最好能够完成 12V，24V，
态干扰抗扰度
42V 供电的测试
TL82166 ISO11452
ISO11452-2
TL82166 射频抗扰度测试
频率 标准 主要 设备
10kHz-400MHz
400MHz-1GHz
ISO11452-4 大电流注入 ISO11452-2 半电波暗室
功率放大器 AP32 DT214 ，9kHz-1GHz
电流钳
天线 AT 4001
0.8G-3GHz 扩展测试 功率放大器 AP32 SV125A（25W，0.8-3GHz） 天线 AT4510，1GHz-4.2GHz
TL82366 对传感器电缆以及信号和控制电缆的抗扰度实验
ISO 11452-4 大电流注入,对信号线、控制线及传感器线设备同 TL82166 部分，不用另购 ISO 7637-3 采用 ISO 7637 配置中的 CDN 5000 即可完成,不需另购其它任何产品
TL82466 静电放电抗扰度实验
在大众汽车标准中采用 IEC 61000-4-2,但针对汽车及车载电子设备有专门标准 ISO10605,因 此为了配合这些标准,选用电阻电容模块：R=330Ω，R=2000Ω；C=150pF，C=300pF 组合结果为:
TL965 产品对自身无线电发射的抑制能力的评估
实际采用 CISPR25 即 GB18655,但为了更好的完成测试应扩展到 2G 或者 3G。
辐射骚扰预测试：
频率范围 测试方法 主要设备
9kHz-200MHz TEM 小室 TEM 小室 TEMF200 配备
200M-3GHz 半电波暗室(用户自建) 天线 接收机
根据上述分析，用户可以采用两种方案： 一种为有电波暗室的方案,这种方案是最佳考虑,如果只做元器件测试,7×3×3(m3)的电波暗室
就可以完全满足预测试的要求 另一种,不采用电波暗室,但频率范围受到限制,满足初期预测试需要,在这种现象中,不需要测量
天线及电波暗室,但是在系统结果比对,实验结果的重复,这里不提供这类非电波暗室配置。用户可以 简化在电波暗室中的测试，自行配置，配置中需要在电波暗室中完成的项目以篮色字体标出。
大众汽车电子零部件 EMC 预测试 解决方案
从大众汽车标准的分析来看，大众汽车在 EMC 测试中，基本采用 GSPR25、ISO11452、
ISO7637、ISO10605。
下表为主要对应关系：
大众标准 国际标准
采用பைடு நூலகம்案
频率范围/选件
备注
TL965
CISPR25
传导骚扰人工电源网 150kHz-108MHz
IEC 61000-4-2 ISO 10605 ISO 10605
电工电子产品电磁兼容抗扰度测试 车内及汽车电子单元电磁兼容抗扰度测试 对汽车车外静电放电抗扰度测试
150pF/ 330Ω 330pF/ 2000Ω 150pF/ 2000Ω
TL 82066 暂态传导干扰的测量以及抗扰度测试
其中 TDS 2012 主要用于：
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另外也应针对标准的要求，完成如下测试: 传导骚扰测试，分别对电源端以及数据和控制线进行骚扰测量： 1) 电源端传导骚扰采用 AN,两个；配合接收机完成测量 2) 信号线传导骚扰采用电流探头:100kHz-30MHz, 30MHz-300MHz，配合接收机完成测量 辐射骚扰测试，应该在半电波暗室(ALSE)中完成，主要使用天线 VUBL9163(20MHz-2GHz) 配合接收机完成测量
ISO7637-3 采用耦合钳
ISO7637-3
缆测试
3a 与 3b 波形配合耦合钳子
TL82466 IEC61000-4-2 静电放电
配合电阻电容模块
阻抗试验配置同
ISO10605
R=330 Ω ， R=2000 Ω ， IECC61000-4-2 估 计 很
C=330pF，C=150pF
快会采用 ISO10605
在 TEM 小室中,用户可以完成简单的产品测试,另外还可以完成将来的 IC 器件测试,在此建议 书后面报价中采用选项方式,用户可根据资料情况选择使用，采用 TEM 小室也是相对比较保险的方 案，同时也可以在研制过程中，比较容易地完成汽车电子产品的摸底测试，也可以完成
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