在 Format 界面点击 “Smith”
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（8/27）
在 Smith 界面点击 “R + jX”
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（9/27）
此时屏幕上显示 Smith 曲线
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（10/27）
6. 在调试过程中，需要查看 Smith 曲线和 Log 曲线，可以 在
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（2/27）
2. 将延长线焊接到需要调试的板子上，延长线的天线接到板 载天线上，延长线外包的地接在板子的地上
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（3/27）
3. 在匹配天线阻抗时，板载天线要与 IC 端断开，在该板子 上是通过去掉 L1 来实现
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（4/27）
屏幕上同时显示 Smith 曲线和 Log 曲线，点击 Display
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（11/27）
在 Display 界面下点击“Num of Traces”
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（12/27）
在 Num of Traces 界面点击 2
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（13/27）
此时屏幕上同时显示了 Smith 曲线和 Log 曲线
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（14/27）
7. 添加 Marker 点，按下 Marker 按钮
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（15/27）
在屏幕上点击 Marker1，输入 2.4G 作为 Marker1 的频率
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（16/27）
网分校准（Agilent E5071C）（28/34）
在“MeasureOpen”界面，选择 Port1，界面中会出现一 小段线切在圆的右侧，延长线校准 OK
网分校准（Agilent E5071C）（29/34）
9. 保存设置好的状态，按“Save/Recall”按钮
网分校准（Agilent E5071C）（30/34）
网分校准（Agilent E5071C）（7/34）
方法二：设置中心频率 → 设置频带宽度
网分校准（Agilent E5071C）（8/34）
显示屏显示输入频率
网分校准（Agilent E5071C）（9/34）
7. 开始校准，按下“Cal”按钮
网分校准（Agilent E5071C）（10/34）
选择适用于该测试电缆的校准件，将 “O”口接在测试电缆 的另一端
网分校准（Agilent E5071C）（14/34）
在显示屏的 1-PortCal 界面点击“Open”，在左侧出现 小勾表示 Open 校准 OK
网分校准（Agilent E5071C）（15/34）
将校准件的 “S”口接在测试电缆的另一端
JN5168 TX，RX 阻抗匹配（7/14）
网分上显示 TX 的 S 曲线
调试前 TX S 曲线图
JN5168 TX，RX 阻抗匹配（8/14）
3. 测试完 TX 后输入 x 返回到主菜单
JN5168 TX，RX 阻抗匹配（9/14）
输入 h 进入 Receive Packet Test，“+”“-”按键用来切 换
网分校准（Agilent E5071C）（33/34）
在 Save/Recall 界面点击“RecallState”
网分校准（Agilent E5071C）（34/34）
在 RecallState 界面点击“FileDialog”，在弹出的窗口按照 之前保存文件的路径找到并打开保存的状态
Agenda
4. 选择 Log 曲线显示，按下 Format 按键
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（5/27）
在 Format 界面点击 “Log Mag”
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（6/27）
5. 选择 Smith 曲线显示，按下 Format 按键
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（7/27）
面
JN5168 TX，RX 阻抗匹配（4/14）
输入 d 进入 High Power Module
JN5168 TX，RX 阻抗匹配（5/14）
输入 a 进入 TX Power Test（CW）
JN5168 TX，RX 阻抗匹配（6/14）
输入 a 进入连续输出模式，“+”“-”按键用来切换 Channel，“<”“>”按键用来切换 Power Level
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（19/27）
此时可以发现屏幕上只有 Smith 曲线
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（20/27）
按下 Trace Next 按钮可切换到 Log 曲线
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（21/27）
此时可以发现屏幕上只有 Log 曲线
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（22/27）
在显示屏的 1-PortCal 界面点击“Load”，在左侧出现 小勾表示 Load 校准 OK
网分校准（Agilent E5071C）（19/34）
不拿掉校准件（还接在“L”口），点击“Done”，只 有一个像素点集中在圆心上，校准 OK
网分校准（Agilent E5071C）（20/34）
8. 加延长线校准
网分校准（Agilent E5071C）（23/34）
返回到“Port Extensions”界面，点击 “AutoPortExtension”选项
网分校准（Agilent E5071C）（24/34）
在“AutoPortExtension”界面，点击“Select Ports”选 项
网分校准（Agilent E5071C）（25/34）
② 将延长线焊接到需要调试的板子上。
JN5168 TX，RX 阻抗匹配（2/14）
③ 在调试 JN5168 TX、RX 阻抗时， IC 端需要与板载天 线
断开，在该板子上是通过去掉 C18 来实现
JN5168 TX，RX 阻抗匹配（3/14）
2. 通过串口命令测试 TX 的阻抗，打开串口工具，选择相应 的 COM 口，设置波特率为 38400，按回车键出现如下界
网分校准 & 天线阻抗匹配
By Carl Xie 2015.08.31
Agenda
一、网分校准（Agilent E5071C） 二、天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线） 三、JN5168 TX，RX 阻抗匹配
网分校准（Agilent E5071C）（1/34）
1. 校准套件（Agilent 85033E）
JN5168 TX，RX 阻抗匹配（12/14）
5. 随着 L1，L2 取值的不同，中心频点的变化趋势
JN5168 TX，RX 阻抗匹配（13/14）
6. 调试后 TX S 曲线图
调试后 TX S 曲线图
JN5168 TX，RX 阻抗匹配（14/14）
7. 调试后 RX S 曲线图
调试后 RX S 曲线图
在屏幕上点击 Marker2，输入 2.44G 作为 Marker2 的频率
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（17/27）
在屏幕上点击 Marker3，输入 2.483G 作为 Marker3 的频率
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（18/27）
8. 在调试过程中若要单独看 Smith 曲线或 Log 曲线，按下 Trace Max 按钮
一、网分校准（Agilent E5071C） 二、天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线） 三、JN5168 TX，RX 阻抗匹配
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（1/27）
1. 匹配的目标结果：50 欧姆纯电阻阻抗匹配，下图中黄点 处
为纯电阻 50 欧姆，需将 2.4G 的中心频率匹配到该点附 近
在显示屏的 Calibration 界面，点击“Calibrate”
网分校准（Agilent E5071C）（11/34）
在显示屏的 Calibrate 界面，点击“1-PortCal”
网分校准（Agilent E5071C）（12/34）
在显示屏出现 1-PortCal 界面
网分校准（Agilent E5071C）（13/34）
校准套件（Agilent 85033E）
网分校准（Agilent E5071C）（2/34）
2. 测试电缆（Agilent 11500E）
测试电缆（Agilent 11500E）
网分校准（Agilent E5071C）（3/34）
3. 按电源按钮打开网络分析仪（Agilent E5071C）
网络分析仪（Agilent E5071C）
再次按下 Trace Max 按钮可切换到同时显示
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（23/27）
9. 根据首次测试的结果，结合 Smith 圆图，选择电容或电感， 该并联还是该串联（上感下容，左并右串）
天线阻抗匹配（2.4G 倒 F 天线）（24/27）
10. 根据大致的方向不断换电容和电感的值，直到天线中心 频率阻抗接近纯电阻 50 欧姆
网-PortCal 界面点击“Short”，在左侧出现 小勾表示 Short 校准 OK
网分校准（Agilent E5071C）（17/34）
将校准件的 “L”口接在测试电缆的另一端
网分校准（Agilent E5071C）（18/34）
Channel
JN5168 TX，RX 阻抗匹配（10/14）
网分上显示 RX 的 S 曲线
调试前 RX S 曲线图
JN5168 TX，RX 阻抗匹配（11/14）