b、首检3次不合格立即开启品质异常单 并跟踪致结果确认正常。
检验仪器图解
达应笔：
1、达应笔介绍：达因笔,又名表面张力测试笔、 电晕处理笔、及塑料薄膜表面张力检测笔。是 薄膜表面电晕度（达因）的测试工具，专门用 于测定薄膜受电晕处理后的效果。 2、使用方法：使表面张力测试笔垂直于玻璃 平面,加上适当的压力,在玻璃表面上画一条线. 应用表面张力测试笔，能够很容易的分析出不 同固体的表面能、亲水性、润湿度等微小变化， 如果第一次测试就收缩成水珠（球状），则换 上数值更小的测试笔进行第二次测试，直到表 面湿为止。这种方法能准确测出基材的表面张 力、表面湿力并判定工作前基材表面因素是否 符合要求以便调整到工作所需。 3图示：如右图：
注：a、IPQC在巡检过程中一旦发现异常立即开启 品质异常单，并跟踪致结果确认正常。
b、首检3次不合格立即开启品质异常单并跟 踪致结果确认正常。
镀膜管控点
镀膜控制机台：
1、主要管控镀膜工艺参数是否与实际设定的 工艺参数相符。IPQC巡检/首检记录主要依据产线 工艺参数点检表与《镀膜工艺参数》相符、一旦发 现实际参数设定与《镀膜工艺参数》不符、立即通 知当站的负责人、及QC组组长。并及时跟踪结果、 直至确认正常。
检验仪器图解
电子数显千分尺：
1、使用方法：以微分套筒的基准线 为基准读取左边固定套筒刻度值，再 以固定套筒基准线读取微分套筒刻度 线上与基准线对齐的刻度，即为微分 套筒刻度值，将固定套筒刻度值与微 分套筒刻度值相加，即为测量值。 2、我司主要应用于产品的厚度测量，
检验仪器图解
塞规：
1、介绍：由一组具有不同厚度级差的薄钢片组成的量规（见图）。 塞尺用于测量间隙尺寸。在检验被测尺寸是否合格时，可以用通此 法判断，也可由检验者根据塞尺与被测表面配合的松紧程度来判断。 塞尺一般用不锈钢制造，最薄的为0.02毫米，最厚的为3毫米。自 0.02～0.1毫米间，各钢片厚度级差为0.01毫米；自0.1～1毫米间， 各钢片的厚度级差一般为0.05毫米；自1毫米以上，钢片的厚度级差 为1毫米。除了公制以外，也有英制的塞尺 2、 定义：塞尺又称测微片或厚薄规，是用于检验间隙的测量器具 之一， 横截面为直角三角形,在斜边上有刻度,利用锐角正弦直接将短 边的长度表示在斜边上,这样就可以直接读出缝的大小了。
检验仪器图解
注：a、IPQC在巡检过程中一旦发现异常立即开启 品质异常单，并跟踪致结果确认正常。
b、首检3次不合格立即开启品质异常单并跟 踪致结果确认正常。
镀膜管控点
镀膜百级作业区：
1、主要管控镀膜百级取放产品的作业手法、以及 产品的分类情况与镀膜后产品的外观效果是否满足 生产要求。一旦发现不符、立即通知当站的负责人、 及QC组组长。并及时跟踪结果、直至确认正常。
b、首检3次不合格立即开启品质异常单并跟 踪致结果确认正常。
黄光管控点
脱模： 1、强碱主要作用将玻璃表面未被曝光的光阻 进行除去的过程。 2、主要控制参数：剥膜传导速度、剥膜液浓 度、 3、主要异常：剥膜不净。光阻回粘、剥膜液 残留。 注：a、IPQC在巡检过程中一旦发现异常立 即开启品质异常单，并跟踪致结果确认正常。
注：a、IPQC在巡检过程中一旦发现异常立即开启 品质异常单，并跟踪致结果确认正常。
b、首检3次不合格立即开启品质异常单并跟 踪致结果确认正常。
黄光管控点
涂布前清洗烘烤： 1、主要烘干玻璃表面残留的水渍，使玻璃表 面洁净度更高从而满足于生产要求
注：a、IPQC在巡检过程中一旦发现异常立即开启 品质异常单，并跟踪致结果确认正常。
b、首检3次不合格立即开启品质异常单并跟 踪致结果确认正常。
黄光管控点
显影后烘烤：
1、使经过显影后的玻璃表面光阻固化，从而使图 行稳定 2、主要控制参数：烘烤温度，烘烤时间、IR烘烤 速度
注：a、IPQC在巡检过程中一旦发现异常立即开启 品质异常单，并跟踪致结果确认正常。
b、首检3次不合格立即开启品质异常单并跟 踪致结果确认正常。
黄光管控点
涂布后烘烤：
1、将光阻中的大部分有机溶剂烘烤，使原本液态 的光阻固化。 2、主要控制的参数：软烤时间、软烤温度、 3、主要异常：玻璃受热不均匀、使光阻局部过烤 或烘烤不足，造成后续显影不净，或显影过显。
注：a、IPQC在巡检过程中一旦发现异常立即开启 品质异常单，并跟踪致结果确认正常。
b、首检3次不合格立即开启品质异常单并跟 踪致结果确认正常。
检验仪器图解
游标卡尺：
1．使用前应将游标卡尺擦干净，然后拉动尺框，沿尺身滑动应灵活、平稳，不 得时紧时松或卡住现象。用紧固螺钉固定尺框身读数不应发生变化。 2．检查零位。轻轻推动尺框，使两测量爪的测量面合拢，检查两测量面接触情 况，不得有明显漏光现象，并且表盘指针指向“0”，同时，检查尺身与尺框是 否在零刻度线对齐。 3．测量时，用手慢慢推动和拉动尺框，使量爪与被测零件表面轻轻接触，然后 轻轻晃动游标卡尺，使其接触良好。使用游标卡尺时因没有测力机构，全凭操 作者手感掌握，不得用力过大，以免影响测量精度。 4．测量外形尺寸时，应先将游表卡尺活动量爪张开，使工件能自由地放入两量 爪之间，然后将固定量爪贴靠在工作表面上,用手移动尺框，使活动量爪紧密贴 在工件表面上。注意：1.测量时工件两端面与量爪不得倾斜。2.测量时,不得使 用量爪间的距离小于工件尺寸,而强制将量爪卡到零件上。 5．测量内径尺寸时，应将两刀口内量爪分开且距离小于被测尺寸，放入被测孔 内后再移动尺框内量爪使其在工件内表面紧密接触，即可以在卡尺进行读数。 注意：游标卡尺测量爪应测在工件两端孔的直径位置处，且不得歪斜。 6．游标卡尺量爪测量面有多种形状。测量时，应根据被测零件的形状正确选用。 如测量长和外形尺寸，则应选用外量爪测量；如测内径，应选用内量爪测量； 如测深度，则应选用深度尺来测量。 7．读数时，带表游标卡尺应水平拿着，使视线正对刻度线表面，然后按读数方 法仔细辩认指示位置，以便读出，以免因视线不正，造成读数误差。
OGS制程工艺讲解
品质部：董伍祥 时间：2014年4月21
1、目录1 ……………… 镀膜原理 2、目录2 ……………… 镀膜管控点及异常 3、目录3 ……………… 黄光工艺流程 4、目录4 ……………… 黄光管控点及异常 5、目录5 ……………… 检验仪器介绍
镀膜原理
镀膜管控点
镀膜前清洗：
1、主要管控镀膜前产品的尺寸、规格是否与制令 工单相符，以及清洗后产品的洁净度是否满足生产 要求。控制监督的要点：清洗液是否要测浓度、清 洗机台的速度、以及烘烤的温度，主要依据《镀膜 前清洗工艺参数》与实际的点检表是否相符。一旦 发现实际参数设定与《镀膜前清洗工艺参数》不符、 立即通知当站的负责人、及QC组组长。并及时跟 踪结果、直至确认正常。
检验仪器图解
FPC拉力测试仪：
1、主要检验热压后产品的FPC的拉力测 试是否满足生产要求。
检验仪器图解
UV能量测试仪：
1、主要应用于UV机能量测试
检验仪器图解
显微镜： 1、主要检验黄光显影后产品的显影效果， 【短路、断路】
检验仪器图解
2D投影测试仪： 1、主要用于IQC来料检验产品的尺寸，
检验仪器图解
检验仪器图解
美工刀、3M600胶带：
1、用于产品附着力测试，主要是在产品上划 百格，拉扯3—5次，所测的产品无脱落现象 则判定OK，反之NG。
检验仪器图解
万用表： 1、用于产品棒阻、导通性测试，以及线路检 测。
检验仪器图解
点规：
1、用于产品外观式。
b、首检3次不合格立即开启品质异常单并跟 踪致结果确认正常。
黄光管控点
显影检验：
1、检查显影图形、检验仪器显微镜， 2、主要检验：显影不净、过显、导致的短路、开 路
注：a、IPQC在巡检过程中一旦发现异常立即开启 品质异常单，并跟踪致结果确认正常。
b、首检3次不合格立即开启品质异常单并跟 踪致结果确认正常。
测温仪： 1、主要用于IR温度测试
检验仪器图解
台面水平测试仪： 1、主要用于曝光台面水平测试。
检验仪器图解
酚酞： 1、主要用于酸碱点滴测试实验
检验仪器图解
环测试仪： 1、主要用于检测无尘车间尘埃粒子测试、有 力于改善环境提供有力的数据。
检验仪器图解
网板张力计： 1、主要用于我司网板来料张力测试检验
黄光管控点
蚀刻：
1、用强酸（盐酸）将玻璃中未受光阻保护的那部 分ITO腐蚀，留下所需要的图形的过程 2、主要控制参数：蚀刻液浓度、蚀刻传导速度、 喷淋压力。 3、主要异常：蚀刻不净、ITO过蚀、以及由涂布 异常而引起的蚀刻异常。
注：a、IPQC在巡检过程中一旦发现异常立即开启 品质异常单，并跟踪致结果确认正常。
塞尺使用前必须先清除塞尺和工件上的污垢与灰尘。使用时可用 一片或数片重叠插入间隙，以稍感拖滞为宜。测量时动作要轻，不 允许硬插。也不允许测量温度较高的零件。
3、使用方法：(1)用干净的布将塞尺测量表面擦拭干净，不能在塞尺沾有油污或金属屑末的情况下进行测量，否则将影 响测量结果的准确性。(2)将塞尺插入被测间隙中，来回拉动塞尺，感到稍有阻力，说明该间隙值接近塞尺上所标出的数 值；如果拉动时阻力过大或过小，则说明该间隙值小于或大于塞尺上所标出的数值。(3)进行间隙的测量和调整时，先选 择符合间隙规定的塞尺插入被测间隙中，然后一边调整，一边拉动塞尺，直到感觉稍有阻力时拧紧锁紧螺母，此时塞尺 所标出的数值即为被测间隙值。
b、首检3次不合格立即开启品质异常单并跟 踪致结果确认正常。
黄光管控点
涂布光胶：
1、在玻璃ITO面均匀的涂布上一层感光物质—— 光阻。（光阻是利用材料光化学反应进行图形转移 的媒体，有正性光阻与负性光阻之分，正性光阻经 过紫外曝光后，被曝光的区域发生光分解，或降解 反应，使性质发生变化优先溶解于正性显影液中， 未被曝光的部分则被保留形成正型图形。负性光阻 的性质正好相反，是未曝光的部分溶解于负性显影 液中。） 2、我司目前采用的是正性光阻，为了能保证图形 的稳定性，所用的光阻必须能抗强酸的腐蚀。 3、主要控制涂布膜厚度一般为1.1—2.3um，膜层 均匀性。 4、主要异常：涂布针孔、涂布箭影