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可靠性试验管理程序

深圳市恒宝通光电子有限公司
作业类指导书
可靠性试验规定作业指导书(试行版)
HPT3-W-I-53
1.目的:验证产品的光电性能和机械性能的可靠性,验证产品的设计是否满足
顾客的需求。

2.适用范围:本程序适用于恒宝通无铅化(符合ROHS标准)产品为SM 1x9光
模块、SFF、GBIC、SFP和BiDi光模块,以及新开发的光模块等产品的可靠性测试。

3.参考文件: Bellcore TA-NWT 000983
Bellcore TR-NWT 000468
MIL-STD-883
4.可靠性试验监控程序
如有批量生产(每月1000个以上),则下述产品要提供规定的样品数量做可靠性试验作为监控产品的可靠性质量。

4.11.25Gb/s、2.5Gb/s SM 1x9光模块;1.25Gb/s、2.5Gb/s SFF;1.25Gb/s、
2.5Gb/s SFPDDM光模块等
4.1.2 每半年的可靠性试验
在样品进行长期的可靠性试验前,要求对样品进行预处理试验。

关于长期
4.2GBIC、SFP和各类BIDI等
4.2.2 每年的可靠性试验
在样品进行长期的可靠性试验前,除了进行机械震动和振动试验外,要求对样品进行预处理试验。

关于长期的可靠性试验监视计划工艺流程,请参
4.3.工艺流程
4.3.1每季度的可靠性试验 4.3.2每半年/年的可靠性试验
4.3.3每季度/半年可靠性试验在光、电测试后不合格品处理流程
NO
4.3.4每年可靠性试验在光、电测试后不合格品处理流程
NO
NO 只是参数值的问题
4.4不合格定义
不合格就是不符合监控测试部分的规范说明书。

不合格类型被更进一步分解为两组,即灾难性和参数失败。

4.4.1 灾难性就是
(1)一个模块不工作。

(2)一个模块测量出来的参数在测试软件所规定的范围以外。

(3)EEPROM测试失败。

(4)外壳或者屏蔽罩破裂、漏电、表面破损。

(5)一个模块所测量出的参数变化范围超出标准范围(包括测试仪器所允许最大0.8dB的偏差)
LOP 3dB CSEN 3dB
4.4.2参数失败就是:
(1)上升沿时间,下降沿时间,占空比,PWD,Threshold,消光比,老化前后偏差;
(2)功率和灵敏度变化在1.5dB与3dB之间,包括测试仪器的R&R所允许的最大偏差0.8dB。

4.4.3 'Infant stage'就是在下面所列项或之前的测试点:
(1)达到20次温度循环之前
(2)168小时的HTOL和高温高湿
(3)10次基于抗湿的循环
(4)100次温度循环
(5)机械震动和振动
4.4.4来自其他测试点的失败被认为是长期失败。

5.记录:
《模块可靠性测试记录》 HPT4-53-01。

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