５）Ｈ１１ＡＡ８１４（Ａ）
ＬＴＶ８ Ｔ４＾ＴＬＰ３２０
ｎＰ６２０ ＰＳ２５０１
ＰＳ２５６１ ８１７ ＫＰｌ０１０ ＫＰＣ８１ ７Ｄ ＰＣ８１５
ＴＬＰ５２１—－３ ＰＳ２４０１——３ ＰＳ２４０３－－３
ＰＳ２５０１—－３
幂幂￥
１２唧３通道光耦
ＮＪＬ５１５３／ＯＭ）ＰＣ８３７ ＰＣ５０７３ Ｇ｝Ｃ５１０２ ３
０ ７７～１
１０Ｖ变化。对应ＬＥＤｌ或ＬＥＤｌ～ＬＥＤ４将由灭
逐步到全亮。反之逐步调整Ｒｐ由小到大．对应ＬＥＤｌ 或ＬＥＤｌ～ＬＥＤ４由全亮到灭．判定被测Ｉｃ芯片好。若 ＬＥＤｌ或ＬＥＤｌ～ＬＥＤ４不亮，对四通道光耦来说要的亮 度可调有的ＬＥＤ不亮．视为ｌｃ芯片损坏或部分损坏。 在ＩＣｘ内放人高速光耦４Ｎ３５等系列芯片锁紧， ４Ｎ３５等系列芯片有二种测试方式： １普通光耦测试 Ｋ闭合．按下Ｋ１（断开）．再按下Ｋ２（Ｋ２ａ和 Ｋ２ｃ闭合．Ｋ２ｂ和Ｋ２ｄ断开）。然后调蹙Ｒｏ由大逐步
电路原理如图１所示，电路用９ｖ可充电层叠 电池供电，循环使用，绿色环保。便于携带。图中 ＩＣｘ为１６脚带锁活动插座．待测光耦按脚定位放＾ 插座并锁紧。Ｒ１与ＲＰ和Ｒ６组成分压调整限流电 在活动插座ＩＣｘ内放八ＴＬＰ６２１或ＴＬＰ６２１４等 系列单路和四路光耦芯片锁紧．Ｋ闭合，Ｋ１和Ｋ２不 动．逐步调整ＲＤ由大到小．此时Ａ点电压ＵＡ可以从
减小，此时ＵＡ由从０ 图１ 实用简易光耦芯片测试电路原理固
２０１１
７８～１
１７Ｖ变化。ＬＥＤｌ由灭到最亮．
万方数据
０６－窀芎爿咋－４７
赢
反之由最亮到灭，普通功能测试结束。若不亮或亮度不 可调．该ｌｃ芯片损坏。 ２高速光耦功能测试 Ｋ闭台，Ｋ１不按（闭合），按下Ｋ２（Ｋ２ａ和Ｋ２ｃ
表
闭台，Ｋ２ｂ和Ｋ２ｄ断开Ｉ，调整ＲＤ由大到小或反之． ＬＥＤｌ恒亮．高速功能测试好结束。若不亮，该ｌｃ芯 片此功能损坏。 常用光耦芯片型号及管脚接线图见表１。
ＴＬＰ６２１—４ ＰＣ８４７
Ｔ岬５２１—４
ＥＥ ＣＭＡ
４
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ＴＴ
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ＰＳ２４０１—４
ＧＩＣ５１０２ １７Ｔ４
１Ｂ脚４通道光耦
ＰＳ２４０３ ４ ＰＳ２５０１—４ ＰＣ８４６口ｃ ＴＬＤ６２４
４
ＴＴ
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２
ＴＬＰ５２１
２
ＴＬＰ６２１—２ ＴＬＰ６２６—２ ＰＣ８２３（Ａ）
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ｃｏｒｎ
简易光耦芯片测试电路
作者： 作者单位： 刊名： 英文刊名： 年，卷(期)： 汪全美
电பைடு நூலகம்制作 ELECTRONICS DIY 2011(6)
本文链接：/Periodical_dzzz201106009.aspx
．耕耕耕
＾曲
４Ｎ３５ ４Ｎ２５～２８ ４Ｎ３６—３７
ＰＳ２００１Ｂ（３Ｂ．５Ｂ）
４脚光耦
Ｐ￥２０１州３
Ｈ１１Ａ１（２
Ｊ５）ＴＬＰＳ０３ｆ｜５０８５３１）ＯＮ３１００ｆ０１卸） ４）Ｈ１１Ｄ１（２ ４）ＴＩＬｌｌｌ（２ ４５—８） Ｄ）ＭＣＴ２２００（１ ２）
ＭＣＴ２７叫１～７）ＣＮＹｌ ７Ａ（Ｂ
蚓
４８ ｌ ２８１１ ０６ 万方数据
ＰＣ８２４ ＦＣ８２６ ＰＣ８２７ ＰＣ８２９ ＰＳ２５０１
８脚２通道光耦
Ｄｃ５０７２ ＮＪＬ５１５２（ＤＭｌ ＰＦ２１２Ｄ ＰＦ２２２Ｄ
ＰＣ一１丌２
ＧＩＣ５１０２—２
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ＴＬＰ５２１ ＴＬＰ６２１
ＴＬＰ７２１
ＰＣ８１ ７ ｆＡ
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６脚光耦
Ｈ１１Ａ８１７（Ａ
Ｄ）Ｈ１１州１
光电耦合器广泛应用干可编程序控制器、变频器、 家用电器、工业生产等各个行业的电子装置中，其作 用众所周知：信号的隔离、耦合传输。对电子装置高 压系统电路发生故障．不会波及控制系统。在电路维 修中．为快速高效判断其好坏．本人设计自制了一款 体积小巧、精准度的光耦芯片测试电路。
路．Ｒ６在测试多通道光耦芯片时同时也作均压电阻使 用，以保证多通道内的多只发光二极管所加电压相同。 ＬＥＤｌ～ＬＥＤ４和Ｒ２～Ｒ５为对应光耦ｌｃ芯片输出指示 电路．调整ＲＤ的阻值可改变ＵＡ点电压．供被测光耦 芯片内发光二极管的亮度调整，对应光耦芯片内部光 敏晶体营的阻值发生变化导致ＬＥＤｌ～ＬＥＤ４亮度发生 变化。Ｒｐ逐步减小，对应输出的ＬＥＤ逐步变亮．以 判断其光耦对应通道的好坏。Ｋ１和Ｋ２为光耦芯片种 类测试选择转换开关。