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单相铜合金晶粒度测定与评级研究

Βιβλιοθήκη 金属组织是 由不同形状 和尺寸的三维
晶粒 堆 积而 成 , 即使 这 些 晶粒 的 尺寸 和 形 状 相 同 , 过 该组 织 的 任 一截 面 上 分布 的 晶 粒 通
镜 下观 察。某些 合金 中 ,由于 各相 组成物 的硬 度差别较大 ,或 由于各相本 身色泽 显 著 不同 ,在 显微镜 下能分辨 出它的组 织 。 但大部分的显微组织 均需 经过 不同方法 的 浸蚀 ,才能显示 出各种组 织来 。常用的金 属 组织 浸 蚀法 有化 学浸 蚀 及 电解浸 蚀 法
经过镶嵌的样 品 ,不但磨抛方便 ,而且可 以提 高工作效率及试验结 果准确性 。通常
进 行镶嵌的试样 有 :形状 不规 则的试件 ; 线 材及板材 ;细 小工件 ;表面 处理 及渗 层 镀 层等。样 品镶嵌 的常用方法有 :机械镶 嵌 法、树 脂镶嵌 法 、热压镶嵌法 、浇注镶 嵌法 等。 金 相试 样 经切 割或 镶嵌 后 ,需进 行
等。 22评 级 . 22 1 述 ..概
帧 采集 ”按钮 ,程 序 便接 下去 开始 作 多 帧 平均 。这里 需要 用 到一 个参 数 ,即 作
大小将是从最大值到零之间变化 , 在检验面 上不可能有绝对大小均匀的晶粒分布 , 也不 可能有 两 个完 全相 同 的检验 面 ,因此 晶 粒 度的测定 并非一项十分精确 的测 量 , 目
D I1 .9 9 ji n 10-8 7 .0 0 1 .1 O 0 3 6/ . s .0 1 9 2 2 1 .6 0 7 s
单相铜合金品粒度测定与评级研究
韩波 安徽省 铜陵市 国家铜铅质检 中心 2 4 0 400
形或 过 热导致 组织 发生变 化 ,对于 使 用
针 对单 相铜 合 金 晶 粒度 的 测 定 , 述 了金 阐
单 击 “ 续采 集 ”按 钮 ,调整 显微 镜 的 连
聚 焦状 态 ,选 择 合适 的视 场 ,调 整视 场
合金的晶粒 度直 接关 系到 材料 的力学性 能
和加工性能, 所以晶粒度的控制和测量十分
重要。
系 列 的研磨 工作 ,才能 得 到光 亮 的磨
面。 研磨 的过程 包括磨平 、 磨光 、 抛光 3 个
前 国 内 多 采 用 YS T 3 7 0 4 铜 及 铜 合 / 4 —2 0 g
多帧平 均 时所 用 图像 的幅 数 。幅 数的 取
值 范 围为从 1到 2 5 5。
在进入 “ 晶粒 度 评 级 ” 模块 之 前 ,
先 标 定标 尺 ,然后 选 择正 确的 标 尺 ,将 标 尺加 载 到 系统 中 ,采 用截距 法对 晶粒
步骤 。 金 相 组 织 的 显 示 ,就 是 将 铜 的 晶 界 、相 界 或 组 织 显 示 出 来 ,以 便 于 在 显 微
的 照明 。视场 的 照 明不宜 太暗 ,这样 会 损失某 些 暗的 细节 。但也 不宜 过 亮 , 当
前 采集 图像文 档 出现 红色 区域 时 ,表 明 出现 亮度 饱和 ,此 时 应适 当减 小 照明 强 度 。一 旦 对 图像 感到满 意 ,则按 下 “ 多
分 。
相试 样 的制 备及 使 用 图像 分析 系统 软 件 采 用 “ 距 法 ”评 定 单 相铜 合 金 晶 粒 度 ,从 截
在 金相 试 样的 制备 过 程 中 ,有许 多 试 样直接 磨抛有 困难 ,所以应进 行镶嵌 。
测 量原理 、方法要求、试验操作 等方 面进
行 了论 述 与 分 析 。

分级说 明见表 l 。
22 3 作 ..操
铜合金;晶粒度;测定;评级
在 测量 前 首先 应该 采 集 图像 ,在金 相 显微镜软 件的通用分析部分单击图像采 集 图标 ,进入采 集窗 口,采集试样 图像 :
1 引言
铜合金 由0单相组织构成时称 为 。单 【 【 相铜合金 , 作为一种广泛应用的金 属材料 ,
度评级 。界面如 下 图所示 :
金平均 晶粒 度测定方法》 该标 准规定单相 , 铜合金的晶粒度以晶粒的平均直径来表示 ,
这 是 对铜 合金 晶粒 度普 遍 使用 的表 示 方
法。 ’
使用的 Axo et0 iv r4 MAT金相显微镜 主 要 由显微 镜 、摄 像头 、 图像 采 集卡 等 硬 件组 成 ;采 用测 量软 件 对数 字 图像 信 息进 行处理 、计算 , 图像 及测量结果 打 将 印输 出 。图像 分析 系统 软 件采 用 “ 距 截
0. 01 0 O. 0l 5 0. 0 0 2 0. 0 25
0. 0 0 3
9 1 O 1 l 1 2
用金 相显 微 镜 评 定 铜 合 金 晶粒 度 。 选 择 适 当的放 大 倍数 。选 择数 量 合适 的 测量线 ,软 伴计算 出测 量线 的总长度 L, 数 出被线段所交 截的晶粒的总数 目N,则 得 晶粒 平 均直 径 : d = L NV毫米 /
高 温 切 割 的试 样 , 必 须 除 去 热 影 响 部
法 ”作 为评定单 相铜 合金晶粒 度的方法 。 ,
晶粒度可以 使用长度 、面积 、体积或 晶粒度 指数 来表示 , 常用 的有平 均直 径 、
平 均截 距 、 晶粒 公称直 径 、 晶粒 弗里 特 直 径 、平 均 晶粒截 面面 积 、单 位 体积 晶 粒 数和 晶粒级 别指 数 G 等 。
2 试 验
2 1试样的制备 . 铜合金金相试样 的制备主要包括取样
22 2 . .计算公式
表1
编号 晶粒平均直径 编号 晶粒平均直径
l 2 3 4

在窗 口内,共有 7 项运行步骤和两 个
及磨制 。金相试样截取的 方向 、部位及 数
量应根据制造方 法、检验 目的 、技 术条件 或双方协议 的规 定 , 择有代表性 的部 位 选 进行切取 ,包括纵 向取样 、横 向取样 、缺 陷或失效分 析取 样。
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