岩石矿物分析.资料
展望未来,在X 射线荧光光谱分析领域,尚有不少难题需要研究,新的 领域有待开发。如μ - XRF 与TXRF 谱仪中,射入到样品上用于激发的光 源与从X 射线管产生的原级谱分布有较大改变,在校正基体效应过程中有 其特殊性,特别是在三维μ - XRF 空间分析过程中,如何进行基体校正更 是急待解决g钨样品
加1g(NH4)SO4 加水浸润
再加1:4的磷酸 和硫酸混合液
加热样品至完全 分解
放于乙醇溶液 中浸取加热
滤渣灰化后加Na2O2 加热过滤 加28mL氯化钠和氢
高温熔融
氧化钠混合液混匀
将浸出液移100mL 容量瓶中定容
中速定量滤 溶液经定量移取后
纸做载体
均匀滴在滤纸上
应用:
1.发展中国家危险的高含量有毒金属 2.城市周边地区的农业及农艺学 3.危险的废料筛检和可持续产业 4.社区与居住区域的发展
三.X射线荧光光谱分析法的发展
吉昂从概述、X 射线荧光光谱仪器、基体校正和定量分析计算方法、化 学计量学与数据处理方法研究等四个方面对我国三十年来XRF 的发展历程 进行了回顾与评述,并探讨了存在的问题及未来有待开发的新领域。
艾晓军等对比分析了WD-XRF 测定地球化学勘查、硅酸盐岩石、铁矿 石等样品的测定条件及精密度和准确度等分析性能,提出了WD-XRF 在地 质实验室应用与研究的发展方向。
黄光明等介绍了20 世纪80 年代末以来WDXRF 和EDXRF 在我国土壤 岩石检测领域的应用情况。
同时还有所多矿石的分析方法,如:铝土矿、红土镍矿、硅石、长石、 石英砂、白云石等
X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及 核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行, 内层电子(如K层)在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚,释放出的电 子会导致该电子壳层出现相应的电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子 (如:L层)会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应的电子空位。由于不同电 子壳层之间存在着能量差距,这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来, 不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。这一个过程就是我 们所说的X射线荧光(XRF)。
实验结果表明,采用X射线荧光光谱分析法检测钨精矿含量具有精密度高、 准确性好的特点。
5.发展与展望
X 射线荧光光谱分析在主、次量和痕量元素分析中发挥着重要作用,在 许多方面,特别是在无损和原位分析方面具有不可替代的地位。近些年来 兴起的三维μ - XRF 谱仪、同步辐射光源与多种XRF 装置联用、现场和原 位分析用XRF 等,其发展前景与应用潜力更是巨大的。
红外烤干后用于测 定
3.测试方法与条件
本实验使用Rh靶材X射线管; 管电压为60KV、管电流为125mA; X射线管采用Be为端窗型出口窗材料,Be窗膜厚75μm; 采用A1滤光片和Cu滤光片; 采用150μ m的细狭缝 以LiF200晶体作为K ~U分析的分光晶体,以PE002晶体作为Al~ Cl的分
4.2 测试结果分析
滤纸薄样法制备十个滤纸样品,分别进行钨含量测定,检测样品的精密度。 结果表明,十个滤纸片的样品绝对误差最大仅为0.16%,相对误差仅为0.22%。 同时,将采用X射线荧光光谱分析法测试的钨精矿含量与稀土国家质量技术监 督检验中心使用的《钨精矿化学分析方法》(GB/T6150.1—2008)的结果进行 比较,其相对标准偏差在0.11%一0.70%之间,平均为0.36%。实验的钨含量检 出限为82.40μg/g。
X射线荧光光谱法在岩石矿物分析中的应用
组员:田云生、袁启明、陆红军、闻帆、谭昆 班级: 031144 指导老师:郑洪涛
提纲 • 一.摘要 • 二.XRF原理及应用 • 三.X射线荧光光谱分析法的发展 • 四.X射线荧光光谱分析法在钨矿检测中的应用 • 五.总结与展望
一.摘要
X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初己是一种成熟的分析方法,是实 验室、现场分析主、次量和痕量元素的首选方法之一,在无损分析和原位 分析中具有不可替代的地位。
本文评述了多年来X射线荧光光谱分析的进展历程、波长色散X射线荧光 光谱仪(WDXRF)、能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)和现场与原位分析用X 射线荧光光谱仪发展过程及显示的特色。
X射线荧光光谱分析仪
二.XRF原理及应用
原理:
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波,其特性通常用能量和波 长描述。
光晶体,以PX -1晶体作为O~Mg的分光晶体; 选择P10气体测试器和以NaI为闪烁晶体的闪烁计数器共同组成探测器。
4.结果分析
4.1基体效应与校正(采用内标法)
荧 光 计 数 率
荧 光 计 数 率
钨含量%
图a基体效应校正前钨含量与计数率关系
钨含量%
图b基体效应校正后钨含量与计数率关系
4.结果分析
四.X射线荧光光谱分析法在钨矿检测中的应用
1.试样前处理 2.样品的制备 3.测试方法与条件 4.结果分析
1.样品预处理
由于样品的粒径大小不均匀,因此需要进行多次粉碎和缩分,以达到粒 长和留用量适合分析用。
在运输存放过程中,湿存水的含量随样品的粉碎程度和放置时间长短而 不同,这对样品组分含量的分析有较大的影响,因此需要对原始样品进行 湿存水处理。