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第三讲 a-SiH TFT 的结构和工作原理
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a-Si TFT的结构
3.a-Si:HTFT的基本结构
注:5PEP过孔在a-Si TFT的结构中没有体现
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a-Si TFT的结构
3.TFT-LCD的基本结构
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a-Si TFT的结构
3.a-Si:HTFT的基本结构
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a-Si TFT的结构
3.TFT-LCD的基本结构
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a-Si TFT的结构
x
n+ 反型层 VGS≧VTH,VDS≧VGS-VTH
1. a-Si:H TFT的工作原理
y
x n+
VG
IDS
VD=小
IDsat n+ 反型层 VGS≧VTH,VDS<VGS-VTH VDsat (a)线性区域特性 VDS
y
VG
VD=大
IDS
IDsat n+ VDS
当VDS继续增大,增加 的电压将降落到夹断区上, 夹断区是已耗尽空穴的空 间电荷区,对沟道电流没 有贡献。
1. a-Si:H TFT的工作原理
用C-V特性曲线来说明a-Si:H TFT的三种情况,累积、耗尽等。
金属
1.50E-10
C(F/mm 2 )
绝缘层 t 空间 电荷区 半导体
欧姆接触
-20 -10 0 VGS (V) 10 20 30
1.45E-10 1.40E-10 1.35E-10 1.30E-10 -30
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a-Si:H TFT 的截止区
△LD
绝缘层 i/s SiNx a-Si:H
1. a-Si:H TFT的工作原理
当VGS≤VTR时,泄漏电流是由于Poole- Fenkel效应引起的载流子发散造成的, 所以该区又叫Poole-Fenkel发散区。在漏源之间的泄漏电流随栅压往负方向 增加,呈指数增加,主要是由场增强使得深缺陷态中的载流子发散造成的。
3.TFT-LCD的基本结构
•倒栅型(底栅型):背沟道刻蚀型和背沟道阻挡型。
•背沟道刻蚀型的半导体层a-Si层的厚度是2000~3000A;刻蚀 n+a-Si层时a-Si层也被刻蚀,由于刻蚀的选择比小,所以a-Si 层相应要厚,工艺难度大;a-Si层厚,所以生产性不好。 •背沟道阻挡型的半导层a-Si层的厚度是300~500A;刻蚀n+aSi层时SiN也被刻蚀,由于刻蚀选择比大a-Si层可以做得薄, 工艺简单;a-Si层薄P-CVD的生产性好。
100KHz 1MHz QC 与100KHz同时 QC 与1MHz同时
C
0
d t
MIS结构
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a-Si:H TFT 的工作区
转移特性曲线,被分为四个区域:截止区VGS≤VTR、
1. a-Si:H TFT的工作原理
亚阈值区VTR<VGS<VON、亚阈值区又分为亚阈值后区VTR<VGS<0和亚阈 值前区0≤VGS<VON。
•正栅型(顶栅型):通过改进光刻有大幅度改善的可能性,
即可能降低成本
彩晶的10.4寸和16.1寸采用的是背沟道阻挡 型结构;6.5采用的是背沟道刻蚀型结构
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a-Si TFT驱动原理
•a-Si TFT有源矩阵液晶显示器:a-Si是指有源层采用的是半导体材料a-Si的LCD; TFT是指 薄膜晶体管;有源矩阵是指有TFT等有源元件的矩阵形结构的LCD;液晶 显示器英文缩写是LCD。 •有源矩阵与无源矩阵LCD的区别:单纯在2枚玻璃基板间注入液晶材料的LCD为无 源矩阵LCD;在内部引入薄膜晶体管或二级管等有源元件和液晶材料的LCD为有源 矩阵LCD。无源矩阵采用的是静态驱动即采用的是小规模固定图形的驱动法;有源 矩阵采用的是动态驱动。 •有源矩阵的驱动原理:a-Si TFT-LCD有源矩阵采用的是逐行扫描。CRT和P-Si TFT-LCD采用的是逐点扫描。在驱动a-Si TFT-LCD时,将扫描电路的顺序扫描信号 (也叫寻址信号)供给栅线,将同步电路的数据信号(也叫显示数据信号)供给数 据线(也叫信号线)。a-Si TFT元件配置在TFT基板上的栅线和数据线的交叉点上, 以栅线选通某行像素,在数据线上输入数据信号。当栅线从第一行像素到依次选通 到最后一行,即整个画面选通完成后构成一个画面,为1帧。当第一行栅线加上扫 描信号时,第一行上的所有TFT成为导电状态(有源层的电子由价带跃迁到导带, 形成可以自由移动的电子),所以的数据线加上数据信号(自由移动的电子可以沿 着电场方向移动形成电流),通过TFT加到像素电容和存储电容上,并由各自的数 据信号电压充电。扫描下一个栅线时,第一行栅线所选择的所有的像素,从数据线 上断电。由像素电容和存储电容来保持,保持的电荷可以储存到最后一行扫描结束。 反复进行同样的动作,完成1帧的驱动。
MIS结构
简化的底栅型a-Si TFT的结构
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a-Si:H TFT的能带图
1. a-Si:H TFT的工作原理
随栅极电压VGS而变化,基本上可分为积累、耗尽、反型 三种情况
表面出现电子的积累而带负电
Ec qvB Ef Ei Ev (a) (b) Ec Ef Ei Ev
qVGS
qvs
(a)平带状态VGS=0;(b)电子积累VGS>0
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a-Si TFT驱动原理
•有源矩阵的驱动原理: 象这样所供给的数据信号,由扫描信号通过开关控 制的TFT,写入像素电容和存储电容成为像素电压。以这个像素电压和对面 电极上的电压之差,使之显示图象。被写入的数据信号,保持到下一个扫 描信号供给时为止。也就是,由下一个扫描信号到数据被再写入为止,保 持前一个数据信号,以再写入数据信号更新画面。为此,从液晶角度,因 保持着数据信号施加的电压,实质上,液晶再做静态的动作。由于用直流 电压来驱动液晶,其寿命会变短,所以,需要交流电压的驱动。 •所谓帧,即是将整个栅线依次从上到下进行扫描,表示1个画面的显示完成 1回的期间。一个帧周期一般是肉眼的反应到60Hz(大约16.7ms)以上的重 复频率。也就是在1秒钟画面变化60次以上的意思。
(a) (b) 晶态和非晶态硅中缺陷示意图 (a)为晶体;(b)非晶体
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a-Si:H TFT的工作原理
1. a-Si:H TFT的工作原理
有源层是a-Si:H,属弱n型非晶半导体材料 。 当栅极加正电压,表面形成电子的累积,源漏加电压后,形 成导电沟道。 类似于MOS的电容。
金属 绝缘层 半导体 欧姆接触
饱和区VON≤VGS≤VDS+VTH、 线性区VGS>VDS+VTH。
1.00E-05 1.00E-07 1.00E-09 1.00E-11 1.00E-13 1.00E-15 -25 -20 -15 -10
截止区
亚 阈 值 后 区
亚 阈 饱 值 和 前 区 区
线性区
转移特性曲线 饱和区界限 亚阈值前界限 亚阈值后界限 截止区界限
VDsat (b)饱和区域特性
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a-Si:H TFT 的亚阈值区
△LD
绝缘层 前界面 i/s SiNx a-Si:H 后界面
1. a-Si:H TFT的工作原理
亚阈值前区:栅压加正压时,0≤VGS<VON时,漏极电流受界面态中陷阱数量和a-Si:H 禁带中深的类受主局域态的影响,感应出得大部分电子都被局域态和a-Si:H/绝缘层界 面所俘获,只有一小部分电子参与导电,因此有很小的亚阈值电流在漏源沟道之间流 动,大约为10-12~10-8A。当栅极的正压增加时,电子的密度也增加,电流呈指数形 式增加。 亚阈值后区:当VTR<VGS<0时,负的栅压使表面积累的电子大部分都耗尽由于表面 高的界面态密度,在a-Si:H/钝化层界面(相对a-Si:H/绝缘层界面为反界面)有一个弱 的反电子沟道存在,形成了亚阈值后区的导电沟道。栅压往负方向增加,亚阈值电流 减小,最后过渡到截止区。
彩晶的LCD的驱动使用的 是逐行扫描
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a-Si:H TFT的能带图
1. a-Si:H TFT的工作原理
表面处电子浓度将较体内电子浓度低
Ec qVGS qvs Ev (c) (d) Ev Ef Ei Ec qvs Ef Ei
qVG
S
表面空穴浓度将超过体内电子的浓度 (c)电子耗尽VGS<0;(d)反型状态VGS<<0
5
理想的MOS器件的C-V特性曲线
IDS(A)
VTR -5
00
VON VDS+VTH20 VGS(V) 5 10 15 25
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a-Si:H TFT 的线性区和饱和区
当VDS很小时,漏源之 间存在贯穿全沟道的导电 的N型沟道。 当VDS增加时,栅极与 反型层的电位差减少,使 得Qn减少,沟道电阻增 加。在接近漏极处,沟道 电荷逐渐减少; 当VDS=Vsat时,在漏极 处沟道电荷为零,这时沟 道开始夹断;
用C-V特性曲线来说明三种情况的变化,累积、耗尽等。
1. a-Si:H TFT的工作原理
金属
Dx CGDO RD Drain Gate CGDI CGSO Source CGSI RS (a) Sx
绝缘层
tቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ空间 电荷区
半导体
欧姆接触
VG
MIS结构
Cfm T1+T2
C
0
d t
Cs
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a-Si:H TFT 的C-V特性曲线
第三讲a-Si:H TFT 的结构和工作原理
1. a-Si:H TFT的工作原理 3.TFT-LCD的基本结构
柏拉图 王丽娟 2006年8月29日
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a-Si:H 的性质
1. a-Si:H TFT的工作原理
a-Si:H TFT的有源层材料是a-Si:H,它是一种典型的非晶态半导体材料,从 而决定了TFT的某些性质不同于MOSFET。