(19)中华人民共和国国家知识产权局(12)发明专利申请(10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请号 201910127310.2(22)申请日 2019.02.20(71)申请人 中国科学院国家天文台地址 100101 北京市朝阳区大屯路甲20号A座A521室(72)发明人 李陶然　田健峰　王建峰　兀颖　葛亮　张晓明　邱鹏　赵勇　李曼迪　曾显群　(74)专利代理机构 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401代理人 巴晓艳(51)Int.Cl.G06T 7/00(2017.01)G06T 11/20(2006.01) (54)发明名称一种光学天文望远镜杂散光均匀性实时检测方法(57)摘要本发明提供一种杂散光均匀性实时检测方法，包括如下步骤：1）目标图像本底和平场的预处理；2)绘制直方图，以ADU大小和频率为自动判断依据进行星像扣除；3)绘制背景杂散光等高线图，计算杂散光均匀性等相关参数。本发明通过实时检测杂散光均匀性，提供CCD像面背景分布和统计数据，可以辅助较差测光中比较参考星的选择，

提高测光精度。

权利要求书1页 说明书5页 附图6页CN 109872315 A2019.06.11

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A1.一种光学天文望远镜杂散光均匀性实时检测方法，其特征在于，所述方法在对目标图像本底和平场的预处理后，绘制直方图，并以ADU大小和频率为自动判断依据进行星像扣除，最后绘制背景杂散光等高线图，完成计算杂散光均匀性相关参数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法包括：S1、目标图像预处理：对望远镜拍摄目标星进行减本底和除平场处理，提高测光精度；S2、扣除星像影响：消除星像与背景亮度差值较大对等高线图的影响；S3、绘制背景杂散光等高线图，计算杂散光均匀性：辅助较差测光中比较参考星的选择，减少背景亮度不同对较差测光精度的影响，提高测光精度。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述S3绘制背景杂散光等高线图包括：S31：划分图像区域；S32：给出图像上不同区域的杂散光统计数据。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述S31划分图像区域的方法包括：方法一：将图像划分为四个象限；方法二：将图像划分为多个矩形。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述S32中不同区域的杂散光统计数据包括杂散光的均匀性、平均值、能量百分比、和背景值上限，所述杂散光的均匀性以背景值标准差表示。6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述S1具体包括：S11：望远镜预先拍摄多幅本底图像和平场图像，用于对目标图像的处理；S12：用本底图像消除CCD本身的偏置电压，平场图像改正CCD各像元的响应不均匀性；S13：将目标图像减去本底图像，并除平场图像，完成目标图像的预处理。7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述S2具体为：S21：找出星像ADU值最小值，在整个CCD像面上，背景所占比例大，星像ADU值比背景ADU值大；S22：以ADU大小和频率为自动判断依据，计算每个区间占总数的百分比，并将百分比小于1％的ADU区间内的所有点看作星像；S23：从ADU最小值开始依次将每个区间所占总数百分比累加；S24：当累加值大于99％时，记录此时区间的位置，以此区间的ADU值下限作为图像背景ADU最大值或星像ADU最小值；S25：将图像ADU值高的像素点剔除或改变其大小，达到扣除星像影响的目的。8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，对于分辨率为2kx2k及以上的CCD，通过

2x2bin或其他binning的方法来提高处理速度。权　利　要　求　书1/1页

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