测试设计的新语言CTL(04-100)
标准测试接口语言
标准测试接口语言(STIL)是1999 年3 月通过的，它是一个广泛的行业标准，开始的意图是从设计到制造整个期间使测试和测试设计(DFT)信息有明确
和完整的通信。

STIL 标准包括几个扩展版本，有些已获通过，有些正在开发改变阶段。

通常，工程技术人员所谈论的STIL 是指IEEE1450 .0，此扩展版本规定用于自动测试图形产生(ATPG)工具到测试程序图形产生工具传输向量和定时信息的标准数据格式。

在STIL 通过时，业内已经有成熟的基于向量语言(如波形产生器语言WGL)的方案。

STIL 比已有的方案具有更有效的表示法。

然而，在此语言中没有足够重要的新性能迫使可能的用户改变他们已有的基础结构。

尽管，此方案已存在一段时间，但一个完整、无缝STIL 基DFT 方案至今不能使用。

没有一个完整方案和一个迫使改变的原因，则采用它是慢速的。

然而，随着SoC 公司认识到STIL 扩展型具有上市快、节省测试成本的显著特点，其支持的呼声增高。

EDA、ATE 和测试程序产生工具公司响应IP
核和SoC 供应商采用新标准基产品对STIL 增长兴趣的呼声。

随着STIL 扩展
型所具有的上市快、低测试成本的具体实现，围绕这些标准的市场继续建立。

下面详述具有扩展型之一的P1450.6。

CTL 基方案
IEEEP1450.6CTL(核测试语言)是STIL 的一个扩展型，它为描述IP 核和SoC 测试信息生存标准格式。

CTL 是针对SOCDFT 的软件语言。

可用CTL 捕获测试器件系统中每个。