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PCB插入损耗不同测试方法的研究


文 献 标 识 码 :A 文章编号 : 1 0 0 9 — 0 0 9 6( 2 0 1 7) 增干 l J 一 0 0 6 4 — 1 1
Re s e a r c h on t he di fe r e nt t e s t i ng me t ho ds o f i ns e r t i o n l o s s i n PC B
插 入损 托 ( 称抓 拟 ,数 、 捕述 为s 2 1 , 迁 i n s e r t i o n l o s s ): 端¨ 络I 1 } l l ,s 2 l 定 义为 从 l 【 2l l l 米 # E 、 介埙拟 } E 、 邻近 线 1 , I ' J 、
SUN Li an g j |Ch e n g — gua n g H E Ch a l 1 s hi Abst r ac t
Wi t h t h e d e v e l o p me n t ol 、 h i g h s pe e d a n d h i g h f r e q u e n c y P CB, t h e C O D t l ’ e l a n d t e s t e l 、 s i g n a l l o s s
on a t r a 1 ] s mi s s i o n l i n e h a v e a t t r a c t e d mo r e a n d I l l OI 。 e a t t e n t i o n .I n t hi s a r t i c l e . we ma i n l y i n t r o du c e t i n c c k i n d s e l
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2 0 1 7 春季国际P CB 技 术/ 信 息 论 坛
t e s t i n g me t h o d s o l 、 i n s e r t i o n l o s s wh i c h a r e d e i f n e d i n I P C t h e y a r e S E T 2 DI L , S P I a r m F D{ F t e q u c n c y I ) o ma i n ) .
纪成 光
何 常时
( 生益 电子股份 有 限公 司 ,广 东 东莞 5 2 3 l 2 7)
随着P C B 走进 了高频 高速领域,传输线上的信号损 耗控制 及测试越来越受到 关注 本
丈重点介绍三种l P C 定 义 的插 入损 耗 测试 方 法 一 S E T 2 D l L 、S P P 和F D 。深 入 研 究 了彰
K e y wo r d s I n s e r t i o n l o s s ; T e s t i n g me t h o d s ; F r e q u e n c y D o ma i n( F D ) me t h o d
背 景
随 符P CB止进 r】 频岛 迷 领 域 ,传 输线 ㈨ , J f l ’ i l { 耗控 制 搜测试 越 ’ 术越 受 剁 父汁
图形形成与蚀刻技术/ 检测
P a t t e r n / T e s t i n g
2 0 1 7 春 季 国 际 PCB技 术 / 信 息 论 坛
P CB }  ̄ 入 损 耗 不 同测试 方 法 的研 究
P a p e r Co d e: S— — 0 6 3

孙 梁
摘 要
n  ̄S E T 2 D I L 方 法; 则试 结 果 偏 差的 一种 原 因 , 叶 比 了S E T 2 D I L 、S P P 和F D 三种 测 试 方 法 的
数 据 精 准 度 关 键 词 插 入 损 耗 ;测 试 方 法 ;F D 频 域 法
中 图 分 类 号 :T N 4 1
We ma k e d e e p r e s e a l ‘ c h O1 ]t h e r e a s o n of a l f e c t i l l g t h e SE T2DI L t e s t i n g me t h o d a n d ma k e a C Ol n p a r i s o n o l 、 t h e d a t a a C C t I 1 ‘ a c y a n l o l l g t h e SE T2 DI L SP P a n d F D me t h o ds
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2 插入 损耗 测 试方 法概 述
2 . 1 插 入 损 耗 简 介
图 形 形成 与 蚀 刻 技 术/ 检测
P a t t e r n / T e s t i n g
导体 热 导线发热 消耗
肇 巾 基 发 环 射 Байду номын сангаас 辐射 …
插 入损 耗
反射
阻抗不薄续
介 囊 损

介质 中粒 振 动 导 致
趋肤 效 应 增加导 体
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