此外，用于观察的衬底也可以选用
着石墨烯层数的增多，褶皱程度越
其它材料，如Si3N4、Al2O3和PMMA 等，所得的石墨烯和衬底背景颜色 的光对比度也可以通过许多图像处
来越小。这样可以认为在图像中颜 色较深的位置石墨层数较多，颜色
理的方法来达到准确分辨的目的。
较浅的位置石墨层数相对较少.
光学显微镜法是表征单层和多层石墨烯最直接的方法，但是并不能精确分 辨石墨烯的层数，SEM也只能大致判断石墨烯的层数
原子力显微镜表征
原子力显微镜被认为是用于石墨烯形貌表征的最有力的技术之一。AFM利用原子探针慢慢靠近或 接触被测样品表面，当距离减小到一定程度以后原子间的作用力将迅速上升，因此，由显微探针 受力的大小就可以直接换算出样品表面的高度，从而获得样品表面形貌的信息。石墨经过氧化后， 层间距会增大到0.77nm 左右。剥离后的氧化石墨烯吸附在云母片等基底上，会增加0.35nm左右 的附加层，所以单层氧化石墨烯在AFM下观测到的厚度一般在0.7-1.2nm左右。将氧化石墨烯沉积 在云母片上，利用蔗糖溶液还原后进行AFM 表征，如图1所示，图中的高度剖面图（ΔZ）对应着 图中两点（Z1、Z2）的高度差即石墨烯的厚度，同时若将直线上测量点选择在石墨烯片层的两端， 还可以粗略测量石墨烯片层的横向尺寸.
单层石墨烯在SEM下是有着一定厚
射光光强的不同所造成的颜色和对
度褶皱的不平整面，为了降低其表
比度差异来分辨层数。这是由于单 层石墨层和衬底对光线产生一定的 干涉，有一定的对比度，因而在光
面能，单以分辨出单层石墨烯。 褶皱明显大于双层石墨烯，并且随
透射电子显微镜法
随着溶胶法制备石墨烯膜的出现，以及无支撑石墨烯膜器件特性的改善，TEM 近来成为了悬浮状石墨烯 结构表征的有利工具。采用透射电镜，可以借助石墨烯边缘或褶皱处的电子显微像来估计石墨烯片的层 数和尺寸，这种方式虽然简便快速，但是只能用来估算，无法对石墨烯的层数给予精确判断。若结合电 子衍射（ED）则可对石墨烯的层数做出比较准确的判断。利用透射电镜中的电子衍射可以判断石墨烯的 层数。当改变电子束入射方向时，单层石墨烯的各个衍射斑点的强度基本保持不变，而对于双层以及多 层的石墨烯，由于层间干涉效应的存在，电子束入射角的改变会带来衍射斑点强度的明显变化.这种通过 改变入射电子束方向，根据在不同电子束入射角的情况下石墨烯衍射斑点强度的变化规律来判断样品的 层数的方法可以非常明确地将单层与多层石墨烯区分开。但这种方法只适合大块样品，而且解释很困难。
AFM
石 墨 烯 的
图 像 和 高 度 剖 面 图
拉曼光谱表征
拉曼光谱是用来表征碳材料最常用的、快速的、非破坏性和高分辨率的技术之一。光谱看起来很简单，一般只 是由波数范围在1000-2000cm-1内的几个非常强的特征峰和少数其它调制结构组成，但谱峰的形状、强度和位置 的微小变化，都与碳材料的结构信息相关由于单层石墨烯、多层石墨烯和石墨的电子结构不同，随着层数的增 加，在拉曼光谱中对应形状、位置和强度等都会发生变化，根据这些变化就可以初步判断石墨烯的层数。石墨 烯的拉曼光谱图上主要有３个峰，分别是D、G和2D峰（倍频峰）D峰一般出现在1350cm-1 （1300-1400cm-1）附 近，是由芳香环中sp2碳原子的对称伸缩振动（径向呼吸模式）引起的，且需要一个缺陷才能激活，因此D峰的 强度通常用来衡量材料结构的无序度。G峰主要出现在1580cm-1 （1560-1620cm-1 ）附近，它是由sp2 碳原子间 的附拉近，伸振是动由引碳起原子的，中它两对个应具于有布反里向渊动区量中的心声的子双E2g共光振学跃声迁子引的起振的动，。它而的2D移峰动出和现形在状26与80石cm墨-1 烯（的26层60数-2密70切0c相m-关1 ）。
光学显微镜法和扫描电镜法
光学显微镜法
扫描电镜法
光学显微镜是快速简便表征石墨烯 层数的一种有效方法。采用涂有氧 化物的硅片作为衬底，调整硅的厚 度到300nm，在一定波长光波的照
SEM 也可以用来表征石墨烯形貌， 这是因为SEM 图像的颜色和表面褶 皱可以大致反映出石墨烯的层数。
射下，可以利用衬底和石墨烯的反
石墨烯的表征方法介绍
陈丁丁 电子科学与工程学院
NJU 2015.3.6
石墨烯的表征方法类型
为了研究石墨烯的层数和结构，现在主要有以下表征方法，光学显微镜法， 扫描电子显微镜法（SEM）透射电子显微镜法（TEM），原子力显微镜法 （AFM），拉曼光谱（Raman），红外光谱（IR），X射线光电子能谱（XPS）， 和紫外-可见光谱（UV-Vis）。
石墨烯的具体表征方法介绍
石墨烯的表征主要分为图像类和图谱类，图像类以 光学显微镜、透射电镜（TEM）、扫描电子显微镜 （SEM）和原子力显微分析（AFM）为主，而图谱类 则以拉曼光谱（Raman）、红外光谱（IR）、Ｘ射 线光电子能谱（XPS）和紫外光谱（UV）为代表。 其中，TEM、SEM、Raman、AFM 和光学显微镜一般 用来判断石墨烯的层数，而IR、XPS和UV则可对石 墨烯的结构进行表征，用来监控石墨烯的合成过程。
机械剥离石墨烯样品的拉曼表征
以机械剥离的石墨烯样品为例。如图a所示，单层石墨烯的G峰位置比石墨的高3-5cm-1（这里的红移 可能是由于化学掺杂引起的），石墨烯的2D峰是一个尖锐的单峰，强度是G峰的４倍，而石墨的2D 峰由2D1和2D2两个峰组成，强度分别是其G峰的1／4和1／2倍。石墨的2D峰强度和石墨烯的2D峰强 度相近。随着石墨烯层数的增加，2D峰的形状和强度都有明显的变化。如图（b）、（c）所示，分 别为在514和633nm光照下，石墨烯2D峰形状、位置和强度的变化。从图可以观察到随着石墨烯层数 的增加，2D峰变得越来越宽，2D1峰的强度越来越小，整体有红移的趋势。而多层（n＞5）石墨烯 的2D峰形状和强度与石墨的2D峰非常相似，很难区分出来。可以看出,利用拉曼图谱中2D峰的半高 宽和G／2D峰强之比可以确定石墨烯的层数。当石墨烯的半高宽约为30 cm-1且G／2D强度比＜0.7时， 可以判断是单层.当石墨烯的2D峰半高宽约为50 cm-1且G／2D强度比在0.7-1.0之间时是双层；当G／ 2D强度比＞1时可以推断是多层