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TDC_GP1高精度时间间隔测量芯片及其应用


O RLC 测量时端口 2 ADR0~ADR4 23~26
I 地址输入线
RLC_P1
11
O RLC 测量时端口 1 INTFLAG
34
O 中断标志,高有效
ALE
29
I 地址锁存信号
START
36
I START 脉冲输入
RDN
30
I 读信号
EN_STOP2
37
I STOP2 使能
WRN
31
I 写信号
STOP2
STOP1 tpw >2.5ns STOP2
tpw >2.5ns
t2 >15nstpwFra bibliotek>2.5ns
图 3 量程 1 测量时序
阻值。 (4)与微控制器的接口单元
T D C - G P 1 提供了与 8 位单片机的接口,包括 8 位 数据总线,4 位可对 1 6 个寄存器操作的地址线以及
START
tFC1
出输入的 S T O P 信号的第一个脉冲上升沿与下一个校准
时钟上升沿的时差, 记为 t F C 2 。 t F C 3 是 S T O P 信号的第二 个脉冲上升沿与校准时钟上升沿的时差,t 是一个校
Cal1
准时钟周期,t C a l 2 是两个校准时钟周期。 根据图 4 可以得
39 2004.11 Microcontrollers & Embedded Systems
40
2004.11
如图 1 所示,T D C - G P 1 有两个算术逻辑单元( A L U ) 。 前面的 A L U 将粗值寄存器中的测量结果转变为一无符
RLC测量单元 测量范围2的计数器
TDC测量单元 粗值存储器 TDC测量单元 粗值存储器
时钟分频器
PLL锁相器
ALU
16位 顺序 ALU
结果和状 态寄存器
控制和 模式寄 存器
STOP1 START STOP2
(1)TDC 测量单元
CLK_REF
当两个脉冲的上升沿或下降沿的时间 差为几十到几百 n s 时, 传统的测量脉冲宽 度的脉冲计数法已不再适用。这是因为要 测的脉冲越窄, 所需要的时钟频率就愈 高, 对芯片的性能要求也越高。例如要求 1ns 的测量误差时,时钟频率就需要提高到 1 G H z ,此时一般计数器芯片很难正常工 作, 同时也会带来电路板的布线、 材料选 择、 加工等诸多问题。 为克服上述问题, T D C - G P 1 利用信号通过逻辑门电路的绝对 传输时间提出了一种新的时间间隔测量方
cc 表示 predivider 的计数值。
t1 >15ns
图5 精度可调整模式测量时序
(3)精度可调整模式 T D C 芯片另一个重要特征是器件引入了精度可调整
模式。 在此模式下, 两通道数值会非常精确。 校准环路
时钟分配及 驱动电路
CLOCK
门电路延迟
STOP1 START
TDC-GP1
MCS-51
文的时间间隔观测、频率和相位信号分析等高精度测试
领域。T D C - G P 1 还提供了与微处理器的多种接口方式,
用户可以很方便地用它构成自己的系统或
仪器。
RLC
2 结构原理与引脚功能
TDC-GP1 采用 44 引脚 TQFP 封装, 具有 T D C 测量单元、1 6 位算术逻辑单元、 R L C 测量单元及与 8 位处理器的接口单元 4 个主 要功能模块。 各引脚名称和功能如表 1 所 列, 内部结构如图 1 所示。
只有通道 1 可用;正常精度模式下允许 4 个脉冲输入; STOP 信号之间不能相互比较,仅 S T O P 与 S T S R T 信号可 进行比较;最大量程 60ns ̄200ms。图 4 给出了量程 2 的 测量时序。
时钟, 完成所有上述工作仅需 4 μs 。 (3)RLC 测量单元
T D C - G P 1 利用本身的时间间隔测量功能在芯片
由外部时钟引入作为参考。 我们可以通 过对芯片内部寄存器的设置工作于此模 式, 因此,结果的精度取决于程序中的 设置。精度可调整模式不需要 S T A R T 信 号,因此最多只能通过通道 1 和通道 2 共
START
引入 8 个 S T O P 输入。 此时, 任意两个
STOP1
门电路的延迟时间
S T O P 信号均可以进行比较, 量程为 3ns ̄3.8 μs。工作于精度可调整模式,芯 片耗电量比较大,大约为 2 5 m A。图 5 给
t1 >60ns
tFC2
tFC3
t2 <240ms
t3 >60ns
tCal2 tCal1
读、 写、 片选等控制线。 另外, 为了简化接口设计, STOP 还提供了地址锁存线( A L E ) 。
图 4 量程 2 测量时序
3 功能描述
原理如下:输入 S T A R T 信号,芯片内部迅速测量出
T D C - G P 1 提供了两个量程及精度可调整等三个模式 这个信号与下一个校准时钟上升沿的时差,记为 t F C 1 。 之 可 供 用 户 选 择 , 每 个 模 式 中 的 分 辨 率 可 以 设 置 为 高 或 后,计数器开始工作,得到此 predivider 的工作周期数,
7
I
RLC 测量时的 施密特触发引脚
GND_IO
18,40
I/O 端口接地引脚
RLC_P4
8
O RLC 测量时端口 4 DATA0~DATA3 13~16 I/O 数据总线低 4 位
RLC_P3
9
O RLC 测量时端口 3 DATA4~DATA7 19~22 I/O 数据总线高 4 位
RLC_P2
10
新器件新技术
NEW PRODUCT & TECH
TDC-GP1 高精度时间间隔测量芯片及其应用
■ 长沙国防科技大学 刘国福 张玘 刘波
摘 要 关键词
德国 ACAM 公司研发的高精度时间间隔测量芯片 TDC-GP1 ,可提供两通道 250ps 或单通道 125ps 分辨 率的时间间隔测量;用户可以很方便地用它构成自己的系统或仪器,因此已在多种高精度测试领域 得到了应用(如高精度激光测距仪、频率和相位信号分析等)。 文章详细介绍 TDC-GP1 的内部结构、 工作原理和性能指标, 并给出该芯片在测量门电路延迟时间方面的一个应用实例。
(2)量程 2
为进行大量程时间测 量,芯片引入了一个 16 位的 predivider。 该模式下芯片
号整数, 以便后面的 A L U 进行算术运算。后面的 1 6 位 顺序 A L U 主要完成以下三方面的工作:按照控制寄存 器中的指令进行时间间隔的计算;将计算出的结果进行 标定;将标定后的结果进行乘法运算。 A L U 拥有独立的
1
I 有效
VCC_CORE
5,28,44
TDC 核电源电压
TEST
2
测试引脚,接地 GND_CORE
6,27,43
TDC 核接地引脚
CLK_REF 3
I 外部基准时钟输入 VCC_IO
17,35,39
I/O 端口电源电压
CHARGE
4
O
RLC 测量时的 充电引脚
GND_IO
12
I/O 端口接地引脚
SENSE
时间间隔测量 TDC-GP1 单片机
1 概 述
T D C - G P 1 主要应用于超声波流量仪、高能物理和核
物理、各种手持 / 机载或固定式的高精度激光测距仪、
激光雷达、激光扫描仪、C D M A 无线蜂窝系统无线定
位、 超声波密度仪、超声波厚度仪、涡轮增压器的转速
测试仪、 张力计、 磁致伸缩传感器、 飞行时间谱仪、 天
38
I STOP2 脉冲输入
CSN
32
I 片选信号
STOP1
41
I STOP1 脉冲输入
Phase
精度调整模式时的
33
O 相位输出信号
EN_STOP1
42
I STOP1 使能
较,最小时限为 1 5 n s ; START 和 STOP 信号必须持 续 2.5ns 以上,否则芯片无 法辨识;S T O P 信号之间可 进行相互的比较, 无最小 时限;量程为 3ns ̄7.6 μs ; 两个通道可进行排序, 这 样可使 1 通道允许 8 个脉冲 输入,这种模式下通道 2 的 STOP 输入被忽略。 图 3 给出 了量程 1 的测量时序。
新器件新技术
NEW PRODUCT & TECH
STOP1 STOP2
10MHz晶振
t2 <3.8µs
t3
无定时限制
出 S T A R T 信号与 S T O P 信号第一个脉冲的时间间隔为
time
=
period× (cc +
tFC1 tCal2
− tFC2 ) − tCal1
START
t1 >3.0ns
t4
<7.6µs
t3
无定时限制
上集成了一个 R L C 测量单元。首先一已知电容通过 被测电阻放电, 当电容器上的放电电压达到比较器 的门限电压时,T D C - G P 1 记录下这一段放电时间。 然后将被测电阻变换为一已知阻值的电阻, 重复上 述过程得到另外一段放电时间。 根据这两段放电时 间的比值与已知电阻的阻值就可计算出被测电阻的
8位 微处理 器接口 单元
图1 TDC-GP1内部结构
动态存储器
数据预处理
图2 TDC-GP1测量单元
粗值计数器
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2004.11
NEW PRODUCT & TECH 新器件新技术
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