7.2IEEE 1149.1 JTAG 先进的边界扫描& 描述语言(BSDL)7.2IEEE 1149.1 JTAG 先进的边界扫描& 描述语言(BSDL)
专用扫描单元和引腿
单元时序/ 连线约束
单元延迟测量
边界扫描描述语言 小结
仅观察扫描单元仅观察扫描单元
控制& 观察扫描单元控制& 观察扫描单元
双向引腿双向引腿
三态引腿—
1个使能引腿控制
三态引腿—1个使能引腿控制
违法单元的应用违法单元的应用
数据非-倒置要求数据非-倒置要求
系统数据非-倒置系统数据非-倒置
单元延迟约束
单元延迟约束
TCK下降沿之间的延迟和器件输出引腿的变化可能是歪斜的
避免同时输出开关减小功耗或避免烧毁
具有锁存并行输出的边界扫描寄存器单元
可设置到逻辑0或1
当进入Test-Logic-Reset TAP 控制器状态时
在Test-Logic-Reset状态的第一个TCK下降沿
设置和保持时间设置和保持时间延迟测量
延迟测量
传播延迟
传播延迟延迟测量方法
延迟测量方法
板级总线测试板级总线测试
测试老化问题采用的电路测试老化问题采用的电路
边界扫描描述语言(BSDL)的用途
边界扫描描述语言(BSDL)的用途 便于描述的部件测试逻辑信息的通信: 公司和CAD 工具之间
自动测试矢量生成器所采用
综合工具综合测试逻辑所测试
不能作为模拟模型
不能描述电压, 电流, 或时序 VHDL 的子集
对特定的VHDL 工具必须修改
BSDL可描述的特点
BSDL可描述的特点
可描述的:
边界扫描寄存器的长度&结构.
任选的TRST引腿的有效性
TAP 引腿的物理定位
指令代码
器件标识码
不可描述的:
TAP 控制器状态图
旁路寄存器
器件标识寄存器的长度
SAMPLE / PRELOAD, BYPASS, EXTEST指令的存在
用户定义指令的工作
BSDL 描述构成
BSDL 描述构成
主体（Entity ）描述–组成特殊测试逻辑参数 标准VHDL组件（package ）& 组件体（package body ）
定义BSDL VHDL的子集
通常用于定义边界扫描单元的类型
用户专用的VHDL组件& 组件体
BSDL 例子
BSDL 例子
entity diff is
generic (Physical_Pin_Map: string:= “Pack”); port ( TDI, TMS, TCK: in bit;
TDO: out bit; IN1, IN2: in bit;
OUT1: out bit; OUT2: buffer bit;
OUT3: out bit_vector (1 to 8);
OUT4: out bit_vector (4 downto 1);
BIDIR1, BIDIR2, BIDIR3: inout bit;
GND, VCC: linkage bit);
use STD_1194_1_1994.all;
attribute BOUNDARY_REGISTER of
diff:entity is ...
Pin 描述
Pin 描述
Standard USE statement (required):
use STD_1149_1_1994.all;
PIN Types:
in(input-only)
out(may be tri-state or open-collector)
buffer(active, 2-state, always driven)
inout(bidirectional)
linkage(power, ground, analog, non-connect) Relate logical signals to package physical pins Group ports --differential voltage or current pairs (one signal is always complement of other)
TAP 描述
TAP 描述
TAP包含的逻辑信号
指出输入端口逻辑值使能JTAG兼容(部件可遵循JTAG 或不遵循)
指令寄存器描述:
长度
操作代码–增加任选的指令
从位矢量影射为指令操作代码
定义专用指令
在Capture-IR控制器状态下(2 LSB’s 总是“01”) 指出俘获的位矢量
IDCODE和USERCODE寄存器内容
扫描单元定义
扫描单元定义
定义边界扫描寄存器单元的存在和长度–类型包括: INPUT--control & observe, observe-only
CLOCK--cell at clock input
OUTPUT2--drives 2-state output
OUTPUT3--drivers 3-state output
CONTROL--controls 3-state output
CONTROLR--disabled in Test-Logic-Reset
state
INTERNAL--not associated with digital pin BIDIR--reversible cell for bidirectional pin
OBSERVE_ONLY--single input observe-only cell
定义访问寄存器的指令
小结
小结
边界扫描标准已经成为基本的方法--
针床测试仪已不适合现代电路板和器件测试
支持BIST, ATE的外测试和电路内测试等。
目前已经得到广泛的应用，如ASIC、FPGA和
CPLD；VLSI、PCB、MCM、系统。
2004/5/25北京大学微电子学研究院21。