1.材料的结构层次有哪些？采用何种研究方法来表征？宏观结构，显微结构，亚显微结构，微观结构。

用显微术来表征。

2.材料的研究方法如何分类？图像分析法：以显微术为主体非图像分析法：包括成分谱分析和衍射法两种1.电子与固体物质相互作用可以产生哪些物理信号，各有什么特点？背散射电子：能量较高，但背散射像的分辨率较低。

二次电子：能量较低吸收电子：入射电子进入样品后，经过多次非弹性散射能量耗光，最后被样品吸收。

透射电子：含有能量与入射电子相当的弹性散射电子，还有各种不同能量损失的非弹性散射电子。

特征X射线：用X射线探测器测到样品微区中存在一种特征波长，就可以判断这个微区存在相应的元素。

俄歇电子：俄歇电子能量各有特征值，能量较低。

2.如何提高显微镜的分辨本领？电磁透镜的分辨本领受哪些条件限制？比可见光波长更短的照明源、增大加速电压、电子透镜。

球差、像散、色差3.透射电子显微镜的成像原理是什么？电子作为照明束，电磁透镜聚焦成像。

一束电子束受到薄膜样品的散射作用，将形成各级衍射谱，样品的信息通过衍射谱呈现出来。

各级衍射波通过干涉作用重新在像平面上形成反应样品特征的像。

4.透射电镜样品的制样方法有哪些？直接样品：超细粉末颗粒：支持膜法材料薄膜：晶体薄膜法、超薄切片法间接样品：复型膜：将材料表面或断口形貌复制下来。

5.透射图像衬度的概念？TEM主要图像衬度？指试样不同部位由于对入射电子作用不同，经成像放大系统后，在显示装置上显示的强度差异，即图像上的明暗差异。

质厚衬度、衍射衬度、相位差衬度6.透射电镜的结构？电子光学系统（镜筒）、电源系统、真空系统、操作系统1.扫描电镜的基本原理由三级电子枪发射出来的电子束，在加速电压的作用下，经过2~3个电子透镜聚焦后，在样品表面按顺序逐行进行扫描，激发样品表面产生各种物理信号，如二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线、俄歇电子等。

这些物理信号随样品表面特征而改变，它们分别被相应的收集器接受，经放大器按顺序、成比例地放大后，送到显像管的栅极上，用来同步地调制显像管的电子束强度，即显像管荧光屏上的亮度。

样品上电子束的位置和显像管荧光屏上的位置是一一对应的。

这样，在荧光屏上就形成一副与样品表面特征相对应的某种信息图。

画面上亮度的疏密程度表示该信息的强弱分布。

2.扫描电镜的结构与特点？（与TEM比较）结构：电子光学系统（镜筒）、扫描系统、信号收集系统、图像显示记录系统、真空系统、电源系统。

特点：分辨本领高，放大倍数变化范围大，景深大，试样制备简单，配有X射线能谱仪、光学显微镜、单色仪。

3.扫描电镜图像衬度的产生原因、类型及主要特点。

原因：样品微区如表面形貌、原子序数、晶体结构、表面电场和磁场等方面存在着差异。

入射电子与之相互作用，产生各种特征信号，其强度就存在着差异，最后反映到显像管荧光屏上的图像就有一定的衬度。

类型：二次电子像：分辨率高、立体感强、主要反映形貌特征。

形貌衬度、成分衬度、电位衬度。

背散射电子像：分辨率低、立体感差，但既能反映形貌特征，又能定性探测元素分布。

形貌衬度、原子序数衬度4.扫描电镜成像的物理信号与特点二次电子：能量较低背散射电子：能量较高，但成像分辨率较低5.扫描电镜在材料研究中的主要用途形貌相研究、成分相研究1.电子探针分析的基本原理利用被聚焦成小于1μm的高速电子束轰击样品表面，由X射线波谱仪或能谱仪检测从试样表面有限深度和侧向扩展的微区体积内产生的特征X射线的波长（可知元素种类）和强度（可知元素含量），得到1μm3微区的定性或定量的化学成分。

2.电子探针主要分析方法点分析、线分析、面分析3.能谱分析和波谱分析的异同点相同点：都是分析特征X射线来分析元素种类和含量；一般作为电镜等大型仪器的附件，用来检测样品微区的化学成分；为无损或微损的测试方法。

不同点：元素分析时，能谱是同时测量所有元素，而波谱要一个个测量，所以能谱分析更快。

能谱探针紧靠试样，使X射线收集效率提高能谱分析所需探针电流小，对试样损伤小能谱分析缺点是分辨率差、谱峰重叠严重4.电子探针对材料成分分析与EDXRF成分分析有何异同点相同点：两者均通过分析受到粒子轰击的样品所发出的次级X射线来进行物相成分分析不同点：电子探针分析的激发源是高速电子束，而EDXRF的激发源大都为初级X 射线其次功能上电子探针还能观察和研究微观形貌、晶体结构等，而EDXRF则可用于原子的基本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的研究。

1.质谱分析的基本原理z为电荷数，e为电子电荷，U为加速电压，m为碎片质量，V为电子运动速度2.质谱仪的种类根据质量分析器：双聚焦质谱仪、四极杆质谱仪、飞行时间质谱仪、离子阱质谱仪、傅里叶变换质谱仪根据应用：有机质谱仪-测定有机化合物的分子结构；无机质谱仪-测定无机物；同位素质谱仪-测同位素丰度；气体分析质谱仪3.质谱图上出现主要离子类型分子离子、同位素离子、碎片离子、亚稳离子、多电荷离子4.分子离子峰如何识别？1)在质谱图中，分子离子峰应是最高质荷比的离子峰。

（同位素离子及准分子离子峰除外）2）分子离子峰质量数的规律由C、H、O组成的有机化合物，M一定是偶数。

由C、H、O、N组成的有机化合物，N奇数则M奇数，N偶数则M偶数。

3）分子离子峰与相邻峰的质量必须合理。

4）M+1峰：醚、酯、胺、酰胺等化合物的分子离子不稳定，会捕获一个H，M+1峰大。

5）M-1峰：醛等化合物的分子离子不稳定，会裂解一个H，M-1峰大。

6）降低电子轰击源能量，观察质荷比最大的峰是否消失5.质谱仪中离子源的作用及常用的离子源种类作用：将试样分子转化为正离子，并使正离子加速、聚焦成离子束，此离子束通过狭缝而进入质量分析器种类：电子电离源、化学电离源、快原子电离源、电喷雾源、大气压化学电离源、激光解吸源6.质谱仪中质量分析器的主要类型单聚焦分析器、磁式双聚焦分析器、四极杆分析器、离子阱分析器、飞行时间分析器、回旋共振分析器7.无机质谱的常见类型及主要用途辉光放电质谱、火花源质谱、二次离子质谱、电感耦合等离子体质谱主要用途：无机元素的微量分析、同位素分析等1、分子振动的实质是什么？有哪些振动类型？分子基团的振动实质是化学键的振动2、试举例说明影响基团位移的因素有哪些？内部因素：诱导效应、共轭效应、空间效应、氢键效应、互变异构、振动偶合效应外部因素：物态效应、溶剂效应3、影响红外吸收峰数目的因素有哪些？1)在中红外吸收光谱上除基频峰外，还有倍频峰。

2)分子振动能否出有红外吸收峰与偶极距有关，对称强偶极距小出峰小。

3) 振动频率的简并。

4)仪器的分辨率不高，对一些频率接近的峰分不开；仪器的灵敏度不高，检测不出一些较弱的峰4、红外活性与拉曼活性红外活性振动:永久偶极矩；极性基团；瞬间偶极矩；非对称分子；伴有偶极矩变化的振动可以产生红外吸收谱带拉曼活性振动：诱导偶极矩；非极性基团；对称分子；伴随有极化率变化的振动。

5、红外光谱产生的条件？1）分子中某个基团的振动频率与外界的红外光频率相一致。

2）分子中的偶极矩不为零。

6、红外、紫外、核磁吸收峰是何种跃迁？振动能级跃迁电子能级跃迁自旋原子核发生能级跃迁7、红外光谱定性分析的步骤有哪些？1.试样的分离和精制2.了解与试样性质有关的其他方面的资料3.谱图的解析4.和标准谱图进行对照8、红外光谱仪主要分那两大类？色散型红外光谱仪、傅立叶变换红外光谱仪9、红外光谱吸收峰的强度有哪些因素有关？分子振动的对称性（反比）、基团极性(正比)、分子振动能级跃迁几率（正比）、样品浓度（正比）10、高聚物在进行红外分析时常用的制样方法有哪些？固体样品的制备：流延薄膜法、热压薄膜法、溴化钾压片法、糊状法液体样品的制备：液膜法、液体吸收池法、样品滴入压好的溴化钾薄片上测试气态样品的制备: 气态样品一般都灌注于气体池内进行测试。

11、傅里叶变换红外光谱仪的组成部分有哪些？核心部分是什么？光源、Michelson干涉仪、检测器、计算机和记录仪核心部分是迈克尔孙干涉仪12、拉曼散射效应中有哪些散射？各有什么特点？瑞利散射：弹性碰撞；无能量交换，仅改变方向；拉曼散射：非弹性碰撞；方向改变且有能量交换；两种跃迁能量差分别产生斯托克斯线、反斯托克斯线13、拉曼光谱与红外光谱分析方法有哪些不同？功率补偿DSC ：是通过功率补偿使试样与参比物温度始终处于动态零位平衡状态，即使△T→0，测量输入到物质和参比物之间的功率差与温度的关系的一种技术。

热流型DSC：主要通过测量加热过程中试样吸收或放出的热量的流量达到热分析的目的，有热反应时试样与参比物仍存在温差，即在相同功率功率下测△T。

DTA：是在程序温度控制（升温或降温）下，测量试样与参比物（热惰性物质）之间的温度差与温度关系的一种技术。

1.功率补偿型DSC和DTA的区别?以上术语解释，加上以下工作原理不同：DTA只能检测实验与参比物之间的温差(△T)，无法建立△H与T之间的联系而DSC能够建立△H与T之间的联系。

DSC的灵敏度和精确度高于DTA，而DTA的使用温度高（1500~1700 ºC），而DSC的使用温度低（最高为800 ºC ，一般在600 ºC以上）。

2.热流型DSC和DTA的异同点?同上3.功率补偿型DSC和热流型DSC的异同点?术语解释，加上以下功率补偿型DSC：采用零点平衡原理热流型DSC：采用差热分析原理4.简述热分析的原理热分析是在程序控制温度下，测量物质的物理性质与温度关系的一类技术。

程序控制温度指固定的速率加热或冷却物理性质包括物质的质量、温度、热焓等性质5.影响热分析的仪器、试样、操作因数有哪些？仪器方面：炉子的结构和尺寸、坩埚材料和形状、热电偶性能与位置试样：热容量和热导率变化、试样的颗粒度、用量及装填密度、试样结晶，纯度、参比物操作因数：升温速度、炉内压力和气氛6.热分析仪器由哪四部分组成？程序温度控制、气氛控制、物性测量单元、显示记录7.热天平的主要组成？热天平由精密天平和线性程序控温加热炉组成8.热重分析的影响因数是什么？升温速率、气氛、基线飘移、加热炉内气体的浮力效应、热电偶的位置、坩埚类型、试样因素（试样量、粒度、装填方式）9.积分型热重曲线和微分型热重曲线的联系与区别是什么？在热重试验中，试样质量W作为温度T或时间t的函数被连续地记录下来，TG 曲线表示加热过程中样品失重累积量，为积分型曲线；DTG曲线是TG曲线对温度或时间的一阶导数，即质量变化率，dW/dT 或dW/dt。

TG：纵坐标：质量失重累积量DTG：纵坐标：质量随时间的变化率dw/dtDTG曲线上出现的峰指示质量发生变化，峰的面积与试样的质量变化成正比，峰顶与失重变化速率最大处相对应。

在TG曲线中形成的每一拐点，在DTG曲线上都有对应的峰。