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化学气相沉积


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MOCVD:
金属有机化合物CVD装置
(Metal organic chemical vapor deposition )
它是利用有机金属如三甲基镓、三甲基铝等与
特殊气体如砷化氢、磷化氢等,在反应器内进
行化学反应,并使反应物沉积在衬底上, 而 得到薄膜材料的生产技术。
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• •
工作气体:低温高挥发性的金属有机物; 工作温度:300 ℃ ∼ 700℃
4.5
化学气相沉积装置
一 高温和低温CVD装置
二 低压CVD装置
三 等离子辅助CVD装置 四 激光辅助CVD装置
五 金属有机化合物CVD装置

CVD装置往往包括以下三个基本组成 部分:
㈠ 反应气体和载气的供给和计量装置;
㈡ 必要的加热和冷却系统; ㈢ 反应产物气体的排出装置。



单晶 多晶 非晶
原理:使用波导或微波天线两种方式将微波能
量耦合至CVD装置中的等离子体中。 使用的微波频率:2.45GHz(对应波长12cm)
特点:微波等离子体的特点是能量大,活性强。
激发的亚稳态原子多,化学反应容易进行,是一
种很有发展前途、用途广泛的新工艺。
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原理:微波天线将微波能
量耦合至谐振腔中之后,在谐 振腔内将形成微波电场的驻波,引起谐振现象。在谐 振腔中心,微波电场幅值最大。在此处的石英管中输 入一定压力的反应气体,当微波电场强度超过气体击 穿场强时气体放电击穿,产生相应的等离子体。在等 离子体中放置衬底调节温度即可实现CVD沉积。 39
高温CVD和低温CVD的选用原则
气相过饱和度 平衡组织、更完整 高温 CVD 强调薄膜质量 (单晶、粗晶) 沉积温度 气相过饱和度 非平衡组织、细化 强调低温沉积 低(中)温CVD (微晶、非晶) 沉积温度
四.
激光辅助CVD装置
激光辅助CVD:采用激光作为辅助的激发手段,
促进或控制CVD 过程进行的一种薄膜沉积技术。 激光特点:强度高、单色性好、方向性好 激光在CVD过程中的作用:
1. 热作用:激光能量对于衬底的加热作用可以促 进衬底表面的化学反应进,从而达到化学气 相沉积的目的。
2. 光作用:高能量的光子可以直接促进反应物气 40 体分子分解为活性化学基团。
高温CVD (high temperature CVD ) : 将各种化学反应物质通入反应炉体内, 于高 温的热能供应作用下,藉由工件表面形成镀膜。 分类:热壁式和冷壁式
加热方式:射频加热或辐射加热
样品放置:倾斜或平置
a — 热壁式(课本 P108 图4.1) 反应室被整体加热
b — 冷壁式(课本 P146 图4.23) 只加热样品台和基片(电加热 或 感应加热 常用)
我们用CVD方法共同的典型式子来说明: 设这一反应正向进行时为放热反应,则
aA( g ) bB( g ) cC (s) dD( g )
ΔH<0, U0<U
上式描述的正向和逆向反应速率如下页图a所示,均随 温度上升而提高。同时,正向反应的激活能低于逆向反应 的激活能。而净反应速率应是正反向反应速率之差,而他 随温度升高时会出现一个最大值。因此温度持续升高将会 导致逆反应速度超过正向的,薄膜的沉积过程变为薄膜的 刻蚀过程。
4.5.2 低压CVD沉积(LPCVD)
工作真空度:
100Pa < P < 0.1MPa
衬底垂直是 为了降低颗 粒物污染的 几率
低压CVD的原理:
利用降低工作室气压,可以提高反应气体 和反应产物通过边界层扩散能力的原理。在低 压CVD装置中,为了部分抵消压力降低的影响 。通常采用提高反应气体在总量中的浓度比的 方法,来大大提高薄膜的沉积速率。
正向反应是放热反应:
ΔH + < 0,ΔH −>0 当T持续↑ 反向反应速率> 正向反应 薄膜生长速率↓
正向反应是吸热反应: ΔH + > 0,ΔH −<0
T↑ 反向反应速率<正向反应 薄膜生长速率↑
上述规律对应了描述化学反应平衡常数K的变化 率的霍夫(van’Hoff)方程
图a情况下:温度过高不利于产物的沉积 图b情况下,温度过低不利产物的沉积
CVD 装 置 的 分 类
常压 CVD :无需真空、靠载气输运、污染较大 按工作压力不同,可分 为 低压 CVD :易于气化反应物、无载气、污染小 低温 CVD (200 ~ 500℃) 按沉积温度不同,可分为 中温 CVD (500 ~ 1000℃) 高温 CVD (1000 ~ 1300℃) 热壁 CVD :整炉高温、等温环境 按加热方式不同,可分为 冷壁 CVD :局部加热(仅基片和基片架) 热激活(普通 CVD ) 按反应激活方式不同,可分为 光致活化 CVD (紫外光、激光、可见光) 等离子体激活(PECVD )
• • •
4.4.2 温度对沉积速度的影响

温度是化学气相沉积过程中最重要的参数之一。

温度对气相质量输运系数和反应率常数作用不同
由上式得 : 当 Ks 》D/δ 时,Cs = 0 ,反应物的扩散过程较 慢,在衬底上方反应物已经贫化,称为扩散控制的 沉积过程。 • 当 Ks 《 D/δ 时, Cs = Cg ,表面反应较慢, 因此称为表面反应控制的沉积过程。
1. 属于低压沉积
2. 利用辉光放电等离子体来促进反应活性基因 的生成。因而显著地降低薄膜的沉积温度, 使原来要在高温、进行的反应过程得以在低 温实现。
等离子体中电子与气体分子碰撞促进气体分子的分解、化合和 激化等过程的进行来实现的
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PECVD过程发生的微观过程:
1.气体分子与等离子体中的电子碰撞,产生活性基 团和离子。
第四章 化学气相沉积
(Chemical vapor deposition)


4.4 薄膜生长动力学 4.5 化学气相沉积装置
4.4 薄膜生长动力学
在CVD过程中,薄膜生长过程取决于气体与衬底间界面
的相互作用,具体过程如下: 1. 反应气体扩散通过界面 层 2. 气体分子在薄膜或衬底 表面的吸附 3. 原子表面的扩散、反应 和溶入薄膜晶格之中 4. 反应产物扩散离开衬底 表面并通过界面层
典型的高温CVD装置示意图
特点:简单经济、稳定高效;腐蚀、污染、耗能;
应用:外延Si薄膜制备、TiN, TiC等超硬涂层等
低温CVD

工作温度: ≤700℃ 应用领域:主要用于集成电路、电子器件等对 沉积温度有比较严格限制的绝缘薄膜制备;
• •

集成电路中SiN等钝化、扩散阻挡层的制备;
集成电路中的SiO2绝缘层的制备;
激光对衬底的作用机理
热解
光活化
激光辅助CVD装置的优点 :
1. 可实现薄膜的选择性沉积,即只在需要沉积的地方,才 用激光束照射衬底表面。
2.
可有效地降低衬底的温度。例:在50℃的衬底温度下 41 也可实现SiO2薄膜的沉积。
激光辅助CVD应用领域 :
1 金属薄膜:利用某些金属化合物分子在光作 用下的分解倾向。 2 绝缘介质膜:利用多种气体分子在光子促进 作用下的化学反应。
此式表明:Si的沉积速度将随着距离的增加呈指数 趋势下降,即反应物将随着距离的增加逐渐贫化。

轴向生长速率的均匀性:

扩散速度小于气流速度

沉积速率随距离的增加呈指数下降! 倾斜基片使薄膜生长的均匀性得以改善;
提高气体流速v和装置的尺寸b 调整装置内温度分布,影响扩散系数D的分布
因此,提高沉积均匀性可以采取如下措施:
由上图分析可知: 高温:扩散控制 低温:表面反应控制 反应导致的沉积速率为:
其中 N0 为表面原子密度。 沉积速率随温度的变化规律取决于Ks,D,δ 等随温度的变化情况。 因此,一般而言,化学反应或化学气相沉积的速度将随温度的升 高而加快。 但有时并非如此,化学气相沉积的速率随温度的升高 出现先升高后降低的情况。 这是什么原因呢?
特点:直流等离子体比较简单,工件处于阴极电位, 受其形状、大小的影响,使电场分布不均匀,在 阴极附近压降最大,电场强度最高,正因为有这 一特点,所以化学反应也集中在阴极工件表面, 加强了沉积效率,避免了反应物质在器壁上的消 耗。缺点是不导电的基体或薄膜不能应用。
二 射频电容或电感耦合PECVD 电容耦合和电感耦合

应用:

高质量半导体化合物薄膜材料,如:III-V、 II-VI化合物半导体材料的外延生长 高密度DRAM等多组分铁电薄膜材料; 高温超导陶瓷薄膜的制备。
• •

特点:

成分组分控制比较好,可以大面积沉积、均 匀性好、致密; 工作气体成本比较高; 使用有机金属化合物作为反应物。
• •
用于制备绝缘介质薄膜。
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直流和射频二极辉光放电的缺点:
1. 都使用电极将能量耦合到等离子体中,故电极 表面会产生较高的鞘层电位,在鞘层电位作用 下离子高速撞击衬底和阴极这样会对薄膜造成 污染。
2. 在功率较高、等离子体密度大的情况下,辉光 放电会转变为弧光放电,损坏放电电极。
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微波辅助PECVD

注意:
1)反应应在扩散层内进行,否则会生成气相均质核,固相 产物会以粉末形态析出; 2)提高温度梯度和浓度梯度,可以提高新相的形核能力; 3)随析出温度提高,析出固相的形态一般按照下图所示序 列变化:
单晶 板状 (外延) 单晶
针状 树枝晶 单晶
柱状晶
微晶
非晶
粉末 (均相形核)
T
T
4.4.1
等离子辅助CVD装置的工作原理: 在低压化学气相沉积过程进行的同时,利 用辉光放电等离子体对沉积过程施加影响的技 术。它包括了化学气相沉积的一般技术,又有 辉光放电的强化作用。 工作参数: 工作气压大约为5-500Pa,电子和离子的密度 可达109-1020个/cm3,电子的能量高达1-10eV。
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