深圳科士达科技股份有限公司Shenzhen Kstar Science And Technology Co.,Ltd.
IC/光耦进料检验作业指导书
文件编号：SZK-CB-01-01
版本： D
制定部门：品保部
总页数：3页
拟制
会审
（此栏签名代表本人已阅读并完全理解本文件规定的全部内
容，并承诺贯彻职责相关的内容）
批准品保
徐洋
文件名称光耦/IC进料检验作业指导书制定日期：2005-9-20
D/1 第2页共3页
副本分发范围及份数总经理管理代表品保研发生产工程行政人资采购商务客服国际营销资材1份
修订履历
页次修改内容版本/版次修改日期修改人批准人1-2 修改指导书格式及内容 B 2005-9-20 张林聂剑锋1-2 对尺寸检验部分进行明确定义 C 2007-5-24 邓小燕刘杰
1-3 1.将公司名称由深圳科士达科技发
展有限公司修改为深圳科士达科技
股份有限公司。

2.将一、2.检验依据规格承认书修改
为零件规格书。

D/0 2010-3-4 徐洋胡礼辉
文件名称光耦/IC进料检验作业指导书制定日期：2005-9-20
D/1 第3页共3页
1-3 1.修改抽样水准D/1 2010-6-24 徐洋胡礼辉
一.检验技术要求
1.按GB2828正常一次抽样Ⅱ级抽样标准进行抽样，AQL接收质量限：
CR：0 MAJ：0.4 MIN：1.0
2.检验依据: 检验指导书、样品、零件规格书
3.检验条件：室温25±8℃，60W日光灯或常光下的环境进行检验
二、检验测试
检验项目检验内容检验方
法/
使用仪
器
不合格类别
C
R
M
AJ
MI
N。