RoHS指令６种有害物质的检测方法简介1、X射线荧光光谱法①适用范围：塑料部件、金属部件、电子元件中铅、汞、镉、总铬、溴的筛选测试②技术特点：一次性快速定性分析样品中的铅、汞、镉、铬、溴元素。

对均质样品无须制样，可进行无损测试。

X荧光光谱仪2、傅立叶红外光谱法①适用范围：对聚合物材料中高含量的PBB和PBDE½øÐÐ筛选测试。

②特点：以PBB和PBDE特征红外光谱为定性依据、部分样品可以进行无损测试。

傅利叶红外光谱仪3、斑点法测六价铬①适用范围：无色和着色铬酸盐涂层中六价铬的定性筛选测试。

②特点：利用显色反应，直接定性测试样品表面涂层中六价铬，简便快速。

如出现阳性反应，需要用分光光度法等进行确证分析。

4、气相色谱/质谱联用分析法（GC-MS法）①适用范围：塑料部件及电子元件中PBB、PBDE阻燃剂的定量分析。

②仪器：台式气质联用仪③GC-MS法是挥发性和半挥发性有机物定性定量测试的常见方法，广泛运用于各种有机毒害物的残留分析项目。

气质联用仪5、液相色谱法（HPLC法）①适用范围：塑料部件及电子元件中PBB、PBDE阻燃剂的定量分析。

②主要仪器：液相色谱仪；③技术特点：适用于十溴联苯和十溴二苯醚等难挥发性阻燃剂的测试，弥补GC-MS法的弱点。

液相色谱仪6、分光光度分析法①适用范围：六价铬的含量测试②主要仪器：紫外分光光度计；③技术特点：该方法是六价铬测试的经典方法，可参考多项国内外标准，如EPA3060A等。

紫外-可见分光光度仪7、电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES法）①适用范围：塑料部件、金属部件、电子元件中铅、汞、镉、总铬的含量测试。

②主要仪器：电感耦合等离子体原子发射光谱仪；③技术要点：选择采用微波消解、湿法消解、干法消解等手段溶解样品，一次性同步测定铅、汞、镉、总铬的含量。

电感耦合等离子体原子发射光谱仪8、原子吸收分析法（AAS法）①适用范围：塑料部件、金属部件、电子元件中铅、镉的含量测试。

②仪器：原子吸收光谱仪；③技术特点：AAS方法是最成熟的金属元素仪器测试方法之一，特征原子吸收谱线选择性强，对于铅、镉等元素的测试灵敏度高。

原子吸收光谱仪9、冷原子吸收光谱分析法（CVAAS法）①适用范围：塑料部件、金属部件、电子元件中汞的含量测试②主要仪器：测汞仪；③技术要点：冷原子吸收光谱法是汞含量测试的经典方法，测定选择性强，检测限低，灵敏度高。

测汞仪X射线荧光光谱分析的基本原理当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。

这个过程称为驰豫过程。

驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。

当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。

它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。

当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X 射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。

因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。

图10.1给出了X射线荧光和俄歇电子产生过程示意图。

K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充，从而可产生一系列的谱线，称为K系谱线：由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。

同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射(见图10.2)。

如果入射的X 射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层，此时就有能量ΔE释放出来，且ΔE=EK-EL，这个能量是以X射线形式释放，产生的就是Kα 射线，同样还可以产生Kβ射线，L系射线等。

莫斯莱(H.G.Moseley) 发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：λ=K(Z-s)-2这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。

此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

荧光分析法荧光分析法附录Ⅳ E. 荧光分析法某些物质受紫外光或可见光照射激发后能发射出比激发光波长较长的荧光。

物质的激发光谱和荧光发射光谱，可以用作该物质的定性分析。

当激发光强度、波长、所用溶剂及温度等条件固定时，物质在一定浓度范围内，其发射光强度与溶液中该物质的浓度成正比关系，可以用作定量分析。

荧光分析法的灵敏度一般较紫外分光光度法或比色法为高，浓度太大的溶液会有“自熄灭”作用，以及由于在液面附近溶液会吸收激发光，使发射光强度下降，导致发射光强度与浓度不成正比，故荧光分析法应在低浓度溶液中进行。

所用的仪器为荧光计或荧光分光光度计，按各药品项下的规定，选定激发光波长和发射光波长，并配制对照品溶液和供试品溶液。

由于不易测定绝对荧光强度，故荧光分析法都是在一定条件下，用对照品溶液测定荧光强度与浓度的线性范围后，再在每次测定前，用一定浓度的对照品溶液校定仪器的灵敏度；然后在相同的条件下，分别读取对照品溶液及其试剂空白的荧光读数与供试品溶液及其试剂空白的荧光读数，用下式计算供试品浓度：R<>-R<[ib]>C<>＝──────———×C<[r]>R<[r]>－R<[rb]>式中C<>为供试品溶液的浓度；C<[r]>为对照品溶液的浓度；R<>为供试品溶液的荧光读数；R<[ib]>为供试品溶液试剂空白的荧光读数；R<[r]>为对照品溶液的荧光读数；R<[rb]>为对照品溶液试剂空白的荧光读数。

因荧光分析法中的浓度与读数的线性较窄，故(R<>－R<[ib]>)/(R<[r]>－R<[rb]>)应为0.50～2.0；如有超过，应在调节溶液浓度后再测。

对易被光分解的品种，为使仪器灵敏度定标准确，避免因激发光多次照射而影响荧光强度，可选择一种激发光和发射光波长与之近似而对光稳定的物质配成适当浓度的溶液，作为基准溶液，例如蓝色荧光可用硫酸奎宁的稀硫酸溶液，黄绿色荧光可用荧光素钠水溶液，红色荧光可用罗丹明B水溶液等,在测定供试品溶液时用基准溶液代替对照品溶液校定仪器的灵敏度。

荧光分析法因灵敏度高，故干扰因素也多。

溶剂不纯会带入较大误差，应先作空白检查，必要时，应用玻璃磨口蒸馏器蒸馏后再用。

溶液中的悬浮物对光有散射作用，必要时，应用垂熔玻璃滤器滤过或用离心法除去。

所用的玻璃仪器与测定池等也必须保持高度洁净。

温度对荧光强度有较大的影响，测定时应控制温度一致。

溶液中的溶氧有降低荧光作用，必要时可在测定前通入惰性气体除氧。

电子技术产品中的管制物质含量测定程序系列之比色方法测试六价铬电子技术产品中的管制物质含量测定程序系列之比色方法测试六价铬比色方法测试六价铬本方法讲述测试金属材料、聚合物材料以及电子元件中六价铬的程序。

六价铬对人体有毒性，被分级为致癌物。

所有可能的Cr(VI)的样品和试剂必须小心处理。

此方法用碱消解程序来萃取六价铬。

研究表明碱溶液比酸溶液在从水可容和不可溶的样品中萃取六价铬更有效。

在碱式萃取溶液中六价铬还原到三价铬或者从三价铬氧化到六价铬的现象很少。

碱萃取溶液是0.28M Na2CO3/0.5M NaOH的混合物。

感兴趣的样品在此溶液中消解60分钟，温度为90-95摄氏度。

六价铬浓度通过其在酸性环境下与1，5-diphenylcarbazide反应测定。

六价铬被还原到三价铬，在diphenylcarbazide被氧化到diphenylcarbazone。

三价铬和diphenylcarbazone 进一步形成红-紫颜色的混合物。

络合溶液通过分光光度计在540nm定量测试。

如果含有例如有机物等的高污染，建议在碱式消解完毕后使用离子色谱方法。

其它消解方法或者分析技术也可以使用，只要其性能有效。

可能的干扰来自六价铬的还原，三价铬的氧化，或者比色测试中颜色的干扰。

干扰参数包括但不限制于pH,Fe离子，硫化物，六价的Mo,Hg盐等。

清洗剂的检测对清洗剂进行检测的目的，是为了保证其不含有ODS，保证其理化性能指标符合清洗要求，符合我国的环保法规与安全要求。

表1列出了常见的替代清洗剂。

清洗剂的分类方法有多种，表1所列的清洗剂是按照UNEP的“溶剂、覆盖层与粘合剂技术选择委员会”（STOC）1998年的评估报告中的分类进行表述的。

表1常见的替代清洗剂的类型替代清洗剂类型典型代表水系纯水（+界面活性剂）半水系碳氢化合物（+界面活性剂）、乙二醇类（+界面活性剂）非水系非卤代有机溶剂类醇类、脂肪族化合物、酮类、醛类及其混合物等或C1～C20的直链的、环状的或芳香族碳氢化合物及其衍生物氯代脂肪族溶剂类三氯乙烯、四氯乙烯、二氯甲烷氯代芳香族溶剂类单氯甲苯、三氟甲苯HCFCs(Hydrochlorofluorocarbons)HCFC－141b、HCFC－225PFCs(Perflourocarbons)HFCs和HFEsHFC－4310、HFE－7100溴代清洗剂正丙基溴（nPB）、氯溴甲烷（CBM）硅氧烷类挥发性甲基硅氧烷（VMSs）等不同类型的清洗剂，其测试项目与方法各不相同，表2列出了不同类型清洗剂的建议检测项目。

表中未列出清洗剂的ODP值和GWP值，它们是替代清洗剂的重要指标，可从各种手册中查到。

表2不同类型清洗剂建议的检测项目清洗剂类型检测项目水系水的纯度检验；化学成分分析、材料的相容性、pH值、比重、粘度等理化性能指标；清洗废液的重金属离子含量、pH值、COD值、BOD值等GB8978－1996污水综合排放标准规定的各项指标半水系化学成分分析、材料的相容性、pH值、有机成分挥发性、闪点、燃烧性、毒性等；清洗废液的重金属离子含量、COD值、BOD值等GB8978－1996污水综合排放标准规定的各项指标非水系成分分析、闪点、挥发性、燃烧性、表面张力、粘度、密度、pH值、蒸发潜热、贝壳松脂丁醇值、材料的相容性等理化性能指标2.2 清洗质量检测2.2.1 清洗的主要对象及其污染物清洗主要应用于印制电路板、液晶盒、精密金属零件等生产过程中。

不同的清洗对象，其污染物的来源和性质，对清洗的要求及其质量检测方法都有不同的要求。

表3列出了主要清洗对象及其污染物的来源、特点和危害。

表3主要清洗对象及其污染物的来源、特点和危害主要清洗对象污染物的主要来源污染物的特点污染物的危害印制电路板1.焊剂、助焊剂、活性物质 2.生产过程（刻蚀、金属化孔等）的化学物品残留 3.手工处理时引入的污染物如人的指印 4.金属或非金属颗粒 1.离子污染物，典型的代表有Cl －、Br－、SO2－4、NO－3、Na+、K+及有机酸根； 2.水溶性的有机残留物； 3.无机极不溶于水的残留物，如松香、油脂、手印等； 4.非溶解性的残留物，如玻璃纤维、助焊剂反应物、硅脂等造成印制板表面漏电、电化学腐蚀、电迁移，是导致印制电路板性能改变、电子组件性能退化、失效的主要原因液晶盒液晶盒外侧残留的液晶、灰尘、指印、玻璃颗粒、封装胶残留等液晶材料大多是混合物，主要是芳酯类、氰基联苯类和苯基环己烷类，不溶于水，溶于CFC－113 影响液晶显示器的显示效果，在高温、高湿情况下导致电极短路或断路，从而使器件失效精密金属零件粘附在其表面的污染物，如金属碎屑、灰尘、油墨印记、油污、润滑油、冷却液、手印等污染物的种类繁多，物理化学性各不相同，主要是油脂类污染物和固体颗粒类污染物。