检定：核验：检定日期：200年月日
注：表中A表示千分尺测量下限
10
测量面的平面度
固定测砧：（μm）
活动测砧：（μm）
11
数显外径千分尺的示值重复性
（μm）
12
数显外径千分尺的示值任意位置时数值漂移
（μm）
13
两测量面的平行度
（μm）
14
示
值
误
差
受检点
(mm)
千分尺读数误差
(μm)
量块误差
(μm)
受检点误差
(μm)
A
A+5.12
-0.12
A+10.24
-0.47
QT CD 66-2005
千分尺检定记录
证书NO：CD-共1页第1页
送样单位
电磁线
分度值
0.01 (mm)
制造厂
日本三丰
出厂编号
检定地点
本院
测量范围
0～25（mm）
检定温度
（℃）
相对湿度
（%）
检定前样品有效性检查
检定后样品有效性检查
检定用仪器使用前状态
检定用仪器使用后状态
本次检定所依据规程JJG 21-2008《千分尺》
序号
检定项目
检定结果
1
外观
2
各部分相互作用
3
测微螺杆的轴向窜动和径向摆动
（mm）
4
测砧与测微螺杆测量面的相对偏移
（mm）
5
测力
（N）
6
刻线宽度及宽度差
（mm）
7
指针与刻度盘相对位置
（mm）
8
微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离
（mm）
9
微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置
压线：（mm）离线：（mm）
A+15.36
-0.40
A+21.50
-0.02
A+25.00
+0.07
15
数显千分尺细分误差
受检点
mm
0.04
0.08
0.120.Leabharlann 60.200.24
0.28
0.32
0.36
0.40
0.44
0.48
误差
μm
16
校对用量杆
标称尺寸：mm
实际尺寸：mm
变动量：μm
结论
主要设备名称
量块
主要设备编号
640047A、780027A