实验1 TTL集成门电路逻辑变换
一、实验目的
（1）掌握各种TTL门电路的逻辑功能。

（2）掌握验证逻辑门电路功能的方法。

（3）掌握空闲输入端的处理方法。

二、实验设备
（1）数字电路实验箱
（2） 74LS00集成门电路
三、实验原理
门电路是数字逻辑电路的基本组成单元，门电路按逻辑功能可分为与门、或门、非门及与非门、或非门、异或门等。

按电路结构组成的不同，可分为分立元件门电路、CMOS集成门电路、TTL集成门电路等。

集成门电路通常封装在集成芯片内，一般有双列直插和表面贴装两种封装形式。

实验中常用的封装形式为双列直插式。

每个集成电路都有自己的代号，与代号对应的名称形象地说明了集成电路的用途。

如74LS00是二输入端四与非门，它说明了这个集成电路中包含了四个二输入端的与非门。

四、实验内容
（1）测试74LS00四个与非门逻辑功能是否正常。

用MULTISIM软件仿真之后，搭接实际电路图测试。

（2）用与非门实现“与”逻辑，用MULTISIM软件仿真之后，搭接实际电路图测试。

（3）用与非门实现“或”逻辑，用MULTISIM软件仿真之后，搭接实际电路图测试。

（4）用与非门实现“异或”逻辑，用MULTISIM软件仿真之后，搭接实际电路图测试。

五、实验结果
通过计算机仿真和搭建实际的电路图可得如下的真值表。

（1）测试74LS00四个与非门逻辑功能
（2）用与非门实现“与”逻辑
（3）用与非门实现“或”逻辑
（4）用与非门实现“异或”逻辑
思考题:用与非门实现 Y=AB+AC+BC,创建逻辑测试电路,记录测试真值表. (做了的同学请将电路图和真值表记在实验报告中.)
（1）电路图如下：
（2。