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微电子工艺考试(开卷)试题及答案

《微电子工艺》考试(开卷)
1、简述三维集成技术的优、缺点,及其应用领域?(15’)
1)优:互联线更短、低功耗、速度高、所占平面面积小、引脚少
2)缺:制造工艺复杂、成本高、不易散热
3)应用:成像传感器、存储器、处理器
2、简述BOSCH刻蚀工艺原理?(15’)
BOSCH刻蚀为时分复用刻蚀。

1)各自同性刻蚀,SF6等离子体现各项同性刻蚀,刻蚀循环7-16s;
2)保护:C4F8生成类似Teflen的氟碳化合物高分子膜(-CF2-)n保护循环5-15s;
3)刻蚀温度:液氮冷却40℃;
4)电感耦合等离子:ICP产生等离子体,平板电极加速离子;
5)气体切换系统;
6)刻蚀掩膜;
7)侧壁;
8)刻蚀速率。

3、简述光刻的主要工艺步骤,并配图说明?(15’)
1)涂光刻胶
2)对准与曝光
3)显影
4)刻蚀
5)去除光刻胶
4、简述常压CVD工艺在Si表面淀积SiO2膜时,与热氧化工艺的
不同之处是?(15’)
1)CVD法SiO2膜中的硅来自外加的反应气体,而热氧化法SiO2膜中的硅来自硅衬底
本身,氧化过程中需消耗掉一部分衬底中的硅;
2)CVD法德反应发生在SiO2膜表面,膜厚与时间始终成线性关系。

而在热氧化法中,
一旦SiO2膜形成后,反应剂必须穿过SiO2膜,反应发生在SiO2/Si界面上;
3)CVD法温度较低,但膜质量较差,通常需经增密处理,而热氧化法湿度高,SiO结
构致密,掩膜性能良好。

5、参考PMOS晶体管的制造工艺流程,绘制NMOS晶体管的制造工
艺流程,并给予简要说明。

(30’)。

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