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FREQ
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電解電容可靠度試驗
溫度循環試驗
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電解電容可靠度試驗
高溫壽命試驗
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電解電容可靠度試驗
高溫放置
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25
電解電容可靠度試驗
高溫紋波
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26
電解電容可靠度試驗
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27
電解電容可靠度試驗
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28
電解電容可靠度試驗
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29
電解電容可靠度試驗
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電解電容可靠度試驗
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31
電解電容可靠度試驗
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CapXon Load Life / High Temperature Reliability Test
IQC
包装材料
CAPXON ELECTRONIC IND.CO ., LTD
CAPXON ELECTRONIC(SHEN ZHEN) CO ., LTD
P:12
工序介绍-裁切
• 裁切的毛刺 • 裁切的宽度 • 裁切的扭曲度 • 平面度
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铝箔or电 解纸
刀片
裁切 后的 材料
8
工序介绍-钉接/卷绕
引線連接不足
腐蝕
鹽份入浸
氧化膜缺陷 電解液量不足 金屬微粒子附著 箔、引線的毛刺 引線連接不足
機械性衝擊
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施加過電壓 过电流
施加逆電壓 充放電過度 施加AC電壓 在高溫下使用 長時間使用 給引線衝擊
使用鹵化洗淨 劑(有機物) 使用接合劑 使用塗漠劑
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電解電容頻率特性
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• 钉接铆合的花瓣
– 厚度/大小/对称 – 毛刺 – 短路 – 铝箔的划伤
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工序介绍-钉接/卷绕
• 钉接铆合的花瓣
– 厚度/大小/对称 – 毛刺 – 短路 – 铝箔的划伤
• 卷绕的结构(4/6)
– 跑片/上下留边 – 脚距
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工序介绍-钉接/卷绕
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電解電容的試驗設備
充電治具上的電容
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鋁電解電容器故障方式及其要因
故障方式
故障過程(內部現象)
生産上的要因
使用上的要因
壓力閥動作 靜電容量減少
Tanδ增加
漏電流增加 短路
開路
內壓增加
內部溫度上升
陽極箔容量減少 陰極箔容量減少
氧化膜劣化 電解液乾燥 皮膜、電解紙絕緣破壞
氧化膜厚
陽極化成鋁箔
Al2O3
Al2O3 Al
Al2O3
Al2O3
Al
腐蚀孔洞 +
電解紙
-
電解液浸入電解紙及腐蚀孔洞
陰極腐蝕箔
.
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4
工序介绍-腐蚀
• 正腐蚀箔:使用光鋁箔 進行腐蚀扩面後鋁箔。
• 負箔:使用純度稍差的 光鋁箔進行電蝕面积後 鋁箔。
光箔 腐蝕
Al2O3
Al2O3
• 充电的目的
充电前 :材质为Al
充电后:表面在电容电解液和电压 的电场的作用下充电后形成Al2O3
+导针A部在电容充电前后的差异
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工序介绍-选别
• 对于电解电容全数检查: • 容量 • DF • LC
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电解电容的测试条件
• 容量/DF测试条件 -120 HZ -1V -Series
路故障。 • (5)沒有容量的電壓依存性。
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鋁電解電容器優點及缺點
2.缺點: (1)壽命有限。 (2)溫度變化引起的特性變化比較大。 (3)使用非正常條件,電容内壓易上升造成壓力閥動作。
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工序介绍-套胶
• 裸品定位(依靠长短脚)。 • 胶管固定
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工序介绍-充电
• 充电的目的
铝箔的边缘侧面
+铝箔上下氧化膜Al2O3
+铝箔的边缘在电容 充电后形成Al2O3
铝箔的中间的Al
铝箔的边缘在电容充电前后的差异
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工序介绍-充电
Al2O3
Al2O3
腐蝕
Al2O3
Al2O3 Al
Al2O3
Al2O3
Al2O3
Al2O3
Al
化成
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6
铝電解電容生産流程图
贴平切脚
IQC
PQC
PQC
PQC
裁切
钉卷
含浸
组套
FQC
PQC
充电选别
包装
OQC
入库
出货
IQC
正箔 负箔 电解纸
IQC
IQC
IQC
导针
胶管 电解液 胶盖
铝壳
铝電解電容相關知識介紹
CAPXON ELECTRONIC(shenzhen) CO., LTD
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1
RADIAL 结构图
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2
SNAP-IN 结构图
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3
鋁質電解電容器鋁箔構造
• 由陽極化成鋁箔及陰極腐蝕箔及導針﹑電解紙﹑電解液結合而成.
11
工序介绍-钉接/卷绕
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12
工序介绍-含浸/电解液
• 真空、高压条件下,使 电解液充分渗透到素子 中。
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13
工序介绍-组立/封口
• 电解电容的密封性保 证
组立
电解液挥发路径
封口 束腰
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工序介绍-清洗
• 洗去导针、裸品表面 的油污/铝屑。
Al2O3
பைடு நூலகம்
Al2O3
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5
工序介绍-化成/赋能
化成箔: -- 利用電解液在直流電作用下在純
AL表面生成一層致密的AL2O3皮 膜. --陽極箔經化成后,含有一高介電常 數的氧化膜(AL2O3).此氧化皮膜當 作陽箔與陰箔間的絕緣層.氧化皮 膜的厚度即為兩箔間的距離(d),此 厚度厚薄可由化成來加以控制. --由於氧化皮膜的介電系數高,且厚 度薄,故電解電容器的容量較其它 電容器的容量為高.
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電解電容頻率特性
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電解電容頻率特性
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電解電容溫度特性
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鋁電解電容器優點及缺點
1.優點: • (1)大容量電容,相當單位體積的容量大。 • (2)相當單位靜電容的價格便宜。 • (3)酸化皮膜(誘電體)具有自身修復性。 • (4)故障狀態的大部分狀態是磨耗故障,不容易出現短
• LC测试条件 -DC=WV - AFTER 1~5 MIN
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電解電容的測量規範
JIS C 5141 JIS C 5102 IEC 384 –4
規定電解的測量試驗方法
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鋁電解電容器
通交流、阻直流 通高频、阻低频
ZC
120
100K
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