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光刻胶、低介电常数材料、抗反射膜材料讲解
光刻胶的组成
a. 树脂(resin/polymer)-- 光刻胶中不同材料的粘合剂,给与光刻胶的 机械与化学性质(如粘附性、胶膜厚度、热稳定性等); b. 感光 剂,感光剂对光能发生光化学反应; c. 溶剂(Solvent)-- 保持光刻胶的液体状态,使之具有良好的流动性;
d. 添加剂(Additive)-- 用以改变光刻胶的 某些特性,如改善光刻胶发 生反射而添加染色剂等。
光刻胶的分类
根据光刻胶按照如何响应紫外光的特性可以分为两类:
负性光刻胶。最早使用,一直到20世纪70年代。曝光区域发生交联,难溶于显影液。 特性:良好的粘附能力、良好的阻挡作用、感光速度快;显影时发生变形和膨胀。所
以只能用于2μm的分辨率。
正性光刻胶。20世纪70年代,有负性转用正性。正性光刻胶的曝光区域更加容易溶解 于显影液。特性:分辨率高、台阶覆盖好、对比度好;粘附性差、抗刻蚀能力差、高 成本。
集成电路制作技术是半导体制造业的关键工艺,而光刻工艺是集成电路制作的驱动
力。其中光刻胶的发展便决定了光刻工艺的发展,并相应地推动着整个半导体行业 的快速发展。从成本上讲,光刻工艺占整个硅片加工成本的三分之一,决定光刻工 艺效果的光刻胶约占集成电路材料总成本的4%左右。
光刻胶的主要技术参数
a. 分辨率 - 区别硅片表面相邻图形特征的能力。一般用关键尺寸来衡量分辨率。 形成的关键尺寸越小,光刻胶的分辨率越好。 b. 对比度 - 指光刻胶从曝光区到非曝光区过渡的陡度。对比度越好,形成图形的 侧壁越陡峭,分辨率越好。 c. 敏感度 - 光刻胶上产生一个良好的图形所需一定波长光的最小能量值。光刻胶 的敏感性对于深紫外光、极深紫外光等尤为重要。 d. 粘滞性/黏度 - 衡量光刻胶流动特性的参数。 e. 粘附性 - 表征光刻胶粘着于衬底的强度。光刻胶的粘附性不足会导致硅片表面 的图形变形。光刻胶的粘附性必须经受住后续工艺。 f. 抗蚀性 - 光刻胶必须保持它的粘附性,在后续的刻蚀工序中保护衬底表面。耐 热稳定性、抗刻蚀能力和抗离子轰击能力。
248nm光刻胶 193nm光刻胶
成膜树脂
环化橡胶 酚醛树脂
聚对羟基苯乙烯 及其衍生物 聚酯环族丙烯酸 酯及其共聚物 甲基丙烯酸酯及 其共聚物
感光剂
双叠氮化 合物 重氮酚醛 化合物
光致产酸 试剂 光致产酸 试剂 光致产酸 试剂
曝光波长
紫外全谱 300-450nm G线 436nm I线 365nm
KrF,248nm
化学放大光刻胶(续)
化学放大光刻胶是当今光刻胶市场的主流,整个国际市场2011年的数据表明, 单单ArF,193nm干法,ArF,193nm浸湿法就贡献了整个半导体行业的40%的份额。 整个半导体行业仍然在遵循着摩尔定律继续往前发展,系统级芯片(SoC)和 系统级封装(SiP)两大引擎推动着芯片和封装的持续精细化,化学放大光刻技术 会越来越显示出其重要的作用。 国外的化学放大光刻胶的主要供应商有:AZ Electronic Materials, Dow
根据光刻胶能形成图形的最小光刻尺寸来分:
传统光刻胶。适用于I线(365nm)、H线(405nm)和G线(436nm),关键尺寸在
0.35μm及其以上。
化学放大光刻胶。适用于深紫外线(DUV)波长的光刻胶。KrF(248nm)和ArF (193nm)。
集成电路行业主要的光刻胶
光刻胶体系
环化橡胶---双 叠氮负胶 酚醛树脂---重 氮酚醛正胶
中国化学放大光刻胶市场现状和趋势
从国内的相关产业对光刻胶的需求量看,目前主要还是以紫外光刻胶 的用量为主,其中中小规模和大规模集成电路企业、分立器件生产企业对 于紫外负性光刻胶的需求总量分别达到100吨/年~150吨/年;用于集成电 路、液晶显示的紫外正性光刻胶及用于LED显示的紫外正负性光刻胶需求 总量在700吨/年~800吨/年之间。
集成电路前端材料项目
— 光刻胶、低介电常数材料、抗反射膜材料
目录
I.
化学放大光刻胶
II. 低介电常数材料 III. 抗反射涂层材料
化学放大光刻胶
半导体光刻原理
光刻的基本原理是利用光刻胶感光后 光源
因光化学反应而形成耐蚀性的特点,将掩
模板上的图形刻制到被加工表面上。 光刻半导体芯片二氧化硅的主要步骤是: 1、涂布光刻胶; 2、套准掩模板并曝光;
DuPont, Electra Polymers Ltd, Fujifilm Electronic Materials, JSR Micro, Kolon
Industries, MacDermid, Rohm and Haas, Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. 国际供应商的化学放大光刻胶的价格普遍偏高。
树脂是具有化学基团保护的聚乙烯。有保护团的树脂不溶于水;感光剂是光酸 产生剂,光刻胶曝光后,在曝光区的光酸产生剂发生光化学反应会产生一种酸。该 酸在曝光后热烘时,作为化学催化剂将树脂上的保护基团移走,从而使曝光区域的 光刻胶由原来不溶于水转变为高度溶于以水为主要成分的显影液。
化学放大光刻胶的优点:
化学放大光刻胶 曝光速度非常快,大约是线性酚醛树脂光刻胶的10倍; 对短波长光源具有很好的光学敏感性; 提供陡直侧墙,具有高的对比度; 具有0.25μm及其以下 尺寸的高分辨率。
掩膜
缩图 透镜
3、用显影液溶解未感光的光刻胶;
4、用腐蚀液溶解掉无光刻胶保护的二氧
化硅层;
晶圆
5、去除已感光的光刻胶。Байду номын сангаас
什么是光刻胶
光刻胶是一种有机化合物,它受紫外光曝光后,在显影液中的溶解度会发生 变化。一般光刻胶以液态涂覆在硅片表面上,曝光后烘烤成固态。 光刻胶的作用: a、将掩膜板上的图形转移到硅片表面的氧化层中; b、在后续工序中,保护下面的材料(刻蚀或离子注入)。
主要用途
2um以上集成电路及半导 体分立器件的制作。 0.5um以上集成电路制作 0.35-0.5um集成电路制作
0.25-0.15um集成电路制 作
ArF,193nm干法 130nm-65nm集成电路制 ArF,193nm浸湿 作,45nm以下集成电路 法 制作 电子束 掩膜板制作
电子束光刻胶
化学放大光刻胶(波长:248nm, 193nm)